Операционный микроскоп

 

Изобретение относится к медицинскому приборостроению и может быть использовано как в микрохирургии, так и при диагностике для индивидуального и коллективного наблюдения. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей микроскопа и улучшение качества изображения за счет увеличения переднего фокусного расстояния и относительного отверстия проекционной системы, а также удешевление конструкции. В микроскопе объектив 1 и линза 8 выполнены асферическими. Линзы проекционной системы выполнены из термопластического материала. 1 з.п.ф-лы, 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (191 (111

А3 (51)5. G 02 В 21/36

1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 442791) /30-l0 (22) 02. 06. 88 (46) 15. 02. 90. Вюл. )i - 6 (71) Тбилисский филиал Научно-исследовательского института "Платан" и Республиканский онкологический научный центр (72) М.И, Авалиани, Г.P. Шинидзе, Л ° N. Чиринашвили, Д.И. Авалиани и P.ß. Вепхвадзе (53) 535.82 (088.8) (56) Патент США 9 4101194, кл; С 02 В 2!/36, опублик. 1978.

Патент ЕП Р 0033375, кл. G 02 В 21/00, опублик. 1980. (54) ОПЕРАЦИОННЬЙ МИКРОСКОП

2 (57) Изобретение относится к медицинскому приборостроению и может быть использовано как в микрохирургии, так и при диагностике для индивидуального и коллективного наблюдения, Цель изобретения — расширение функциональных возможностей микроскопа и улучшение качества изображения за счет увеличения переднего фокусного расстояния и относительного отверстия проекционной системы, а также удешевление конструкции. В микроско" пе объектив 1 и линза 8 выполнены асфернческими. Линзы проекционной системы выполнены иэ термопластического материала. 1 s.ï. ф-лы, 2 ил.

1543372"

Изобретение относится к медицинсКому приборостроению и может быть использовано как в микрохирургии, так и при диагностике для индивиду5 ального и коллективного наблюдения.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей микроскопа и улучшение качества изобраФения за счет увеличения переднего кусного расстояния микроскопа и тносительного отверстия проекционой системы, а также удешевление конструкции.

На фиг.l представлена схема опера- 15 ционного микроскопа; на фиг.2 — аберрационные характеристики оптической !

1 асадки микроскопа.

Операционный микроскоп (фиг.l) соержит объектив l, который имеет асфе-20

1 ическую поверхность. 3а объективом

1 под углом к оптической оси микроскопа установлена подвижная рамка 2, Йа которой последовательно располо1 жены два зеркала: прозрачное и не- 25 прозрачное. За подвижной рамкой 2 ус" тановлены ахроматическая линза 3, барабан с линзами 4, положительная л1ннза 5, призма б и окуляр 7. Над рамкой 2 установлеа асферическая лин- 30 за 8, за которой расположены зеркало 9, отрицательная линза 10 и экран 1

Операционный микроскоп работает следующим образом.

Отраженные лучи осветителя от . исследуемого объекта попадают в объек 1ив микроскопа, которым служит асфефическая линза 1, и на полупрозрачное зеркало, позволяющее получить 40

Йзображение как в микроскоп, так и

Йа экране, или при перемещении рамки

2 на непрозрачное зеркало, позволяющее получить изображение только на экране ll. Для обеспечения разного 45 увеличения при наблюдении в окуляре сдужит барабан с линзами 4. Призма 6 предназначена для переворачивания изображения, Часть лучей, отраженная от полупрозрачного зеркала 9, повара- «О чйвается в сторону экрана ll и дает изображение исследуемого образца на нем с помощью отрицательной линзы 10.

Оптическая головка состоит из трех линз. Первая линза обращена в с горону исследуемого объекта и одно"

Временно выполняет функции объектива микроскопа. Наружная поверхность лйнзы имеет асферическую форму, а задняя - плоскую. Вторая линза 8 является двояковыпуклой, и поверхность, обращенная в сторону третьей линзы, имеет асферическую форму, а третья отрицательная линза 11 — плоскостью обращена в сторону экрана 10. Асферические поверхности, примененные в данной оптической насадке, дают возможность исправить аберрации, величины которых приведены на фиг. 2. Передний фокус проекционной насадки составляет - 90 мм.

Асферические поверхности описываются уравнением

= ax + bx + cx + dxe+ ex где х и у — координаты асферической поверхности

Экран от последней линзы расположен неподвижно на расстоянии 400 мм на высоте от оптической оси микроскопа 300 мм. Регулируя положение зеркала 9 и перемещая линзу 11, можно расположить экран в удобное положение и одновременно изменить увеличение изображения.

Переднее и заднее фокусные расстояния проекционной насадки выбраны такими, что изображение одновременно фокусировалось на экране и в окуляре микроскопа, Аппаратура проекционной насадки микроскопа составляет 42, относительl ное отверстие 1:1:1,,разрешающая способность 20 лин,/мм (у телевизионных систем до 3,3 лин„/мин), Размеры экрана по диагонали равняются 300 мм. Увеличение изображения на экране составляет < 5. Для получения- более большего увеличения экран отодвигается от последней отрицательной линзы, которая, в свою очередь, перемещается к второй линзе, до получения четкого увеличенного изображения на экране.

Формула изобретения

1. Операционный микроскоп, содержащий объектив, проекционную-систему, оптическую систему, окуляр, экран, о т л и ч а- ю шийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей микроскопа за счет увеличения переднего фокусного расстояния и относительного отверстия

5 1 проекционной системы, в нем объектив выполнен асферическим, удовлетворяющим условию у = ах + Ъх + сх + dx + ех О, ь В

Ю =Я/

m=gf

s/у Я

Составитель О. Яковлева

Редактор А. Лежнина Техред Л.Олийнык Корректор И. Муска

Подписное

Тираж 451

Заказ 926

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская иаб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 где а = 2,45143 ° 10

Ь = -8,51756 ° 10 ; с = 9,08209 10 01

d = -3,57546.10 9; е = 4,1818 10 х и у — координаты асферической поверхности, а проекционная система включает два последовательно установленных зерка543372 6 ла на подвижной рамке, асферическую линзу, зеркало и отрицательный мениск, при этом коэффициенты поверх5 ности а,Ъ,с,й асферической линзы соответствуют а = 3,66065 10

Ъ = -5904192 ° 10 с = 2 96131 10"" !

О с1 = 8 56725 10 е.= 8,31100 10

2. Микроскоп по п.l, o т л и ч аю шийся тем, что, с целью удешевления конструкции микроскопа, линзы проекционной системы выполнены из термопластического материала.

Операционный микроскоп Операционный микроскоп Операционный микроскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к микроскопии и позволяет повысить качество микрофотографий путем снижения времени экспонирования и повышения точности экспозиции

Изобретение относится к области оптико-электронного приборостроения и может быть использовано в криминалистике для проведения трасологических экспертиз пуль и гильз стрелкового оружия и создания банка данных пулегильзотек

Изобретение относится к области оптическо-электронного приборостроения, предназначено для использования в криминалистике при проведении баллистических экспертиз огнестрельного оружия

Изобретение относится к оптической технике, в частности к микроскопам и способам регистрации изображения с их помощью

Изобретение относится к способам исследования и анализа материалов с помощью оптических и компьютерных средств и может быть использовано, в частности, для морфологического и текстурного анализа исследуемых образцов материала, например, в гематологии

Изобретение относится к области оптико-электронного приборостроения и может быть использовано при проведении баллистических экспертиз огнестрельного оружия

Изобретение относится к медицинской технике

Изобретение относится к квантовой электронике, а именно к лазерным проекционным системам, и может быть использовано для визуального контроля БИС, фотошаблонов для исследования микрообъектов в медицине и биологии

Изобретение относится к медицине, в частности к гистологической технике исследования микропрепэратов

Изобретение относится к оптическому приборостроению в области медицины и направлено на повышение эффективности обнаружения клеточных аномалий при компьютерном анализе, а также в рамкам исследования, объединяющего в себе собственно процесс диагностики и одновременно обучение диагностике, что обеспечивается за счет того, что способ согласно изобретению содержит следующие этапы: осуществляют обработку пробы для обеспечения различения патологических клеток среди здоровых клеток пробы, выполняют, по меньшей мере, одно первое получение изображений пробы, размещенной на аналитической пластинке, таким образом, чтобы получить множество изображений, каждое из которых представляет одну зону аналитической пластинки, при этом упомянутые изображения, расположенные рядом друг с другом, образуют изображение всей пробы так, чтобы создать виртуальную аналитическую пластинку. Отмечают базовую плоскость аналитической пластинки, состоящей из предметной пластинки и покрывной пластинки, расположенной над предметной пластинкой, для получения изображений, при этом упомянутая базовая плоскость определена поверхностью предметной пластинки или покрывной пластинки; и осуществляют, по меньшей мере, одно второе получение изображений на толщине, отличной от толщины пробы первого получения так, чтобы получить множество изображений, соответствующих срезу пробы, осуществленному на разной толщине. 15 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к устройству, способу и системе исследования неоднородного жидкого образца, включающего в себя получение множества изображений упомянутого образца, размещенного относительно устройства для образца. Заявленное устройство содержит, по меньшей мере, первый узел оптической регистрации, имеющий оптическую ось, и, по меньшей мере, один блок переноса, выполненный с возможностью перемещения устройства для образца и первого узла оптической регистрации относительно друг друга. Движение устройства для образца и первого узла оптической регистрации относительно друг друга происходит вдоль пути сканирования, который образует угол θ с оптической осью, причем θ находится в пределах от приблизительно 60 до приблизительно 89,5 градусов. Заявленный способ исследования неоднородного жидкого образца включает в себя получение множества изображений упомянутого образца и содержит этапы, на которых размещают образец относительно устройства для образца; размещают устройство для образца относительно вышеуказанного устройства, перемещают устройство для образца и первый узел регистрации относительно друг друга по длине сканирования, причем движение включает в себя движение в направлении вдоль первого пути сканирования, который образует угол θ с оптической осью, причем θ находится в пределах от приблизительно 60 до приблизительно 89,5 градусов, причем электромагнитные волны передают из устройства освещения изображения через область получения изображения в направлении устройства получения изображения и получают множество изображений. Технический результат, достигаемый от реализации заявленной группы изобретений, заключается в освещении образца для передачи электромагнитных волн через область получения изображения в устройстве для образца к устройству получения изображения для усовершенствования устройства для получения множества изображений неоднородного образца. 2 н. и 54 з.п. ф-лы, 11 ил.
Наверх