Способ контроля профиля асферических поверхностей деталей

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы деталей, имеющих монотонные асферические поверхности. Целью изобретения является повышение точности и расширение диапазона измерений за счет того, что при повороте детали ее ось симметрии, совпадающая с осью вращения, обкатывается без скольжения по эволюте ее асферической поверхности. При измерении деталь 4 закрепляют на столике 5 так, чтобы ее ось вращения совпала с осью шпинделя 6, опирающегося на эволютный копир 8. Затем фиксируют измеритель 1 так, чтобы наконечник 3 контактировал с деталью 4 в вершине асферического профиля, а ось стержня 2 совпала с осью вращения детали 4. Поворачивают деталь 4 за счет обкатывания шпинделя 6 по копиру 8 с помощью ленты 7. Отклонения контролируемого профиля от расчетного фиксируют по измерителю 1 линейных перемещений, ось стержня 2 которого всегда перпендикулярна касательной к образующей контролируемого профиля. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

11 А1 (19) (11) (51) 5 С 01 В 5/20

p " "г

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOIVIV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

7з

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4430916/25-28 (22) 24 ° 05.88 (46) 15.03.90. Бюл. ¹ 10 (71) Новосибирский институт инженеров геодезии, аэрофотосъемки и картографии (72) Е.E.Òðèôîíîâ и А.Н.Соснов (53) 571.717 (088.8) (56) Русинов М.M. Несферические поверхности в оптике. M., 1973, с.257-259. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПРОФИЛЯ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ДЕТАЛЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы деталей, имеющих монотонные асферические поверхности. Целью изобретения является повышение точности и расширение диапазона измерений за счет того, 2 что при повороте детали ее ось симметрии, совпадающая с осью вращения, обкатывается без скольжения по эволюте ее асферической поверхности.

При измерении деталь 4 закрепляют на столике 5 так, чтобы ее ось вращения совпала с осью шпинделя 6, опирающегося на эволютный копир 8. Затем фиксируют измеритель 1 так, чтобы наконечник 3 контактировал с деталью 4 в вершине асферического профиля, а, ось стержня 2 совпала с осью вращения детали 4. Поворачивают деталь 4 за счет обкатывания шпинделя 6 по копиру 8 с помощью ленты 7. Отклонения контролируемого профиля от расчетного фиксируют по измерителю 1 линейных перемещений, ось стержня 2 которого всегда перпендикулярна касательной к образующей контролируемого профиля. 2 ил.

1550311

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы деталей, имеющих монотонные асферические поверхности.

Целью изобретения является повышение точности и расширение диапазона измерений.

На фиг.1 показана схема устройства для осуществления способа контроля профиля асферических поверхностей, деталей, на фиг,2 — разрез A-А на ! фиг. 1. !

Устройство содержит измеритель 1 линейных перемещений с измерительны. ми стержнем 2 и наконечником 3, контактирующим с контролируемой поверх ностью детали 4, вращающийся измерительный столик 5, ось шпинделя 6 которого совпадает с осью вращения детали 4, и металлическую нерастяжимую ,.ленту 7, закрепленную одним концом на эволютном копире 8, а другим — на шпинделе 6.

Способ осуществляют следующим об-. разом.

Деталь 4 закрепляют на столике 5 так, чтобы ее ось вращения совпала с осью шпинделя 6, опирающегося на эволютный копир 8, координаты точек которого определяют по формулам !

1+v 1+

Х=ху — — Y="+ — — — у (! где Х и Y — текущие координаты образующей асферической кривой;

1/ dy d ч у и у — значения -- и -- в выбdx d x ранной точке кривой.

Затем фиксируют измеритель 1 линейных перемещений так, чтобы наконечник 3 контактировал с деталью 4 в вершине асферического профиля, а ось стержня 2 совпала с осью асферической детали 4. Поворачивают деталь 4 за счет обкатывания шпинделя 6 по копиру 8. При этом лента 7 удерживает шпиндель 6 от проскальзывания, что обеспечивает совмещение контролируе15 мого профиля текущими точками с точкой, в которой был зафиксирован наконечник 3, и осуществляется копирование профиля эволютного копира 8.

Отклонения контролируемого профиля от расчетного фиксируют по измерителю 1 линейных перемещений, ось стержня 2 которого всегда перпендикулярна касательной к образующей контролируемого профиля.

Формула изобретения

Способ контроля профиля асферических поверхностей деталей, заключаю30 щийся в том, что поворачивают деталь относительно оси, перпендикулярной ее оси симметрии, и контактируют с поверхностью контролируемого профиля измерителем линейных перемещений по линии, проходящей через центр кривизны этого профиля, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения точности и расширения диапазона измерений, деталь поворачивают так, 40 что ее ось симметрии при этом касательна к эволюте контролируемого профиля, 155031 1

Составитель В, Харитонов

Техред Л.Сердюкова Корректор Т.Малец

Редактор О.Спесивых. Заказ 263 Тираж 490 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101