Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов

 

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам контроля характеристик тензорезисторов , в частности оценки температурной нестабильности характеристик. Цель изобретения - снижение трудоемкости - достигается путем оценки нестабильности по скорости изменения напряжения на выходе измерительной схемы после подачи на тензорезисторы напряжения питания с постоянной мгновенной амплитудой. Данный способ позволяет оценивать нестабильность характеристик тензорезисторов без их установки на упругий элемент.2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

COUWI

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 В 7/18

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЙ

К АВТОРСКОМУ СВИДБТЕЛЬСТВУ где P мощность, выделяемая на тенэореэисторе; постоянная времени его нагрева; начальная температура; масса тенэорезистора; удельная теплоемкость тензореэистора; коэффициент теплопередачн; приведенная поверхность теплоотдачи.

Т=шc/М F о ш с

При t 4c T имеем:

0() = 8, (2) ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ПЮТ СССР (46) 07.05. 91. Бюл. W 17 (21} 4491174/28 (22) 23.06.88, (72) В.E.Pîãàòêèí и N,Ì.Ñåðãååâ (53) 531<781 2 (088,8) (56) Авторское свидетельство СССР 1 684294, кл, 6 Ol В 7/16, 1978, (54) СПОСОБ ОЦЕНКИ НЕСТАБИЛЬНОСТИ

ХАРАКТЕРИСТИК ТЕН30РЕ3НСТ0РОВ (57) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам контроля характеристик тензорезистоИзобретение относится к измерительной технике, а именно к способам контроля характеристик тенэореэисто. ров.

Цель ° изобретения — снижение трудоемкости эа счет возможности оценки нестабильности характеристик тензорезисторов без их установки на упругий элемент, На фиг.l представлена структурная схема тензорезистора; на фиг. 2— график изменения сопротивления тензорезистора при оценке его нестабильности. Способ осуществляют следующим образом.

Исследуемый тензорезистор 1 подключают к мостовой измерительной схеме, состоящей нз резисторов 2 — 4. Измерительная теизометрическая система 5, например СИИТ-З, служит для подачи напряжения питания с постоянной мгновенной амплитудой и измерения напряжения на выходе мостовой схемы, Мостовая схема содержит так„ ie магазин 6 сопротивлений, „„SU„„1551033 А 1 ров, в частности оценки температур- ., ной нестабильности характеристик.

Цель изобретения — снижение трудоемкости — достигается путем оценки нестабильности по скорости изменения напряжения на выходе измерительной схемы после подачи на тенэорезисторы напряжения питания с постоянной мгновенной амплитудой, Данный способ позволяет оценивать нестабильность характеристик тензорезисторов без их установки на упругий элемент,2 ил.

До подачи напряжения на тензорезнстор (до момента t<) его сопротивление изменяется медленно под влиянием окружающей среды (фиг.2). После подачи на него напряжения с постоян» ной мгновенной амплитудой ег0 температура начинает возрастать по закону

g (t) = В, +, (1 -е ), (1) 3, 1 551033 4

После подачи напряжения питания возрастает с температурой и сопротив ление тензореэнстора (фиг.2), причем до некоторого момента времени

I сопротивление возрастает практически линейно, Соответственно зДесь пос тоянна и скорость изменения выходно го сигнала иэмец ительной схемы.Про10 межуток времени (t — t ) — есть

3 7 постоянная времени нагрева тензорезистора. После момента t сопротивление тенэорезистора практически изменяется лищь под действием внепних условий

Определив в одинаковых условиях скорость изменения выходного сигнала данным способом для каждого тензореэистора нз проверяемой партии можно произвести их подборку в группы с близкой нестабильностью характеристик. Таким образом, оценка нестабильности тензорезисторов до их наклейки на упругий элемент позволяет также избежать их последующей выбраковки в изделиях, прн малом t

$U dU

ЮЮ

Ф

dt : 30

aU

dt (6) н А

Ф4е

20(FT

= const .35

dU

- скорость изменения напряже-

dt ння на выходе измерительной схемы, Таким образом, нестабильность ха- 40 ректеристик тензорезисторов, харак, теризуемая коэффициентом, пропорциональна величине скорости измене«ия напряжения на выходе измернтель-. яой схемы, . 45

3 случае иенаклеенного тензорезистора его температурный коэффициент сопротивления

6R рю о(" о) или с учетом (2)

I3- -„, "PF, -, -, (3)

I где (- температурный коэффициент сопротнвления.тензорезистора;

hR — изменение его сопротивления., фМ мостовой схемы с напряжением

:.питания-U изменение сопротивления тензореэистора на величину g R вызывает изменение выходного найряжения .и® величину

2К . (4) о. тогда иэ (3) с учетом (4) следует:

fb () (5)

Р U t

Формула изобретения

Способ оценки нестабильности ха- ° рактеристик тензорезисторов, заключающийся в том, что тензореэиМоры подключают к измерительной схеме, подают на них напряжение питания и контролируют один из параметров сигнала на выходе.измерительной схемы, по которому и оценивают нестабильность характеристик тензореэисторов, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости, на тенэорезрсторы подают напряжение питания с постоянной мгновенной амплитудой, а в качестве контролируемого параметра используют -скорость изменения напряжения на выходе измерительной, схемы.

155) 033 риа2

Составитель Е,Щелина ,Редактор И,Васильева Техред Л.Сердюкова Корректор Т.Иалец

°

Заказ 2298 Тираж 392 Подписное

ЗНИИПИ Государственного комитета по.изобретениям и открмтням при ГЕНТ СССР

1t3035, Москва, Ж-35, Рауиская наб., д. 4/5

«ФВЮ « \Ю««В « «

Производственно-издательский комбинат "Патент, г. Уагород, ул. Гагарина, 101.