Способ измерения диэлектрической проницаемости

 

Изобретение относится к измерениям электрических величин и может быть использовано для определения диэлектрической проницаемости материалов. Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса диэлектрической проницаемости образцов малых размеров и (или) сложной формы. Способ заключается в том, что объект измерения помещают между электродами измерительной конденсаторной ячейки, заполняют промежуток между электродами и образцом диэлектрической дисперсной средой с проницаемостью, заведомо большей проницаемости объекта измерения, уменьшают диэлектрическую проницаемость дисперсной среды до равенста ее с диэлектрической проницаемостью объекта измерения. Цель достигается за счет введения дисперсной диэлектрической среды, обеспечения плавной регулировки диэлектрической проницаемости дисперсной среды и фиксации равенства диэлектрической проницаемости дисперсной среды и объекта измерения. 1 ил.

(19) (3D (51)5 С 01 R 27/26

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А В ГОРСИОМЪ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4375111/24-21 (22) 08.02,88 (46) 15.04.90, Бюл. № 14 (71) Пензенский политехнический институт (72) С,А. Гантман и А.В. Ротенберг (53) 621.317.3(088.8) (56) Материалы диэлектрические, ГОСТ 22372-77.

Авторское свидетельство СССР

¹ 749799, кл. G 01 R 27/26, 1980, (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ

ПРОНИЦАЕМОСТИ (57) Изобретение относится к измерениям электрических величин и может быть использовано для определения диэлектрической проницаемссти материалов..Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса

Изобретение относится к измерениям электрических величин и может быть использовано в приборостроении для контроля диэлектрической проницаемости материала деталей малых размеров и сложной формы.

Целью изобретения является повышение точности и угрощение процесса измерения диэлектрической проницаемости образцов малых размеров и (или ) сложной формы, На чертеже представлена установка, реализующая способ, Установка содержит электродную систему 1 (на чертеже изображена двухэлектродная плоскоконденсаторная из,измерения диэлектрической проницаемос1ти образцов малых размеров и (и ги) сложной формы, Сгособ заключается в том, что объект измерения помещают между электродами измерительной конденсаторной ячейки, заполняют промежуток между электродами и образцом диэлектрической дисперсной средой с проницаемостью, заведомо большей проницаемости объекта измерения, уменьшают диэлектрическую проницаемость дисперсной среды до равенства ее с диэлектрической проницаемостью объекта измерения. Цель достигается за счет введения дисперсной диэлектрической среды, обеспечения плавной регулировки диэлектрической проницаемости дисперсной средь; и фиксации равенства диэлектрической проницаемости дисперсной среды и объекта измерения, 1 ил, t мерительная ячейка), помещенную в бункер 2, в -которьй засыпается (до 0,80,9 от объема бункера) дксперсная диэлектрическая среда 3, Способ осуществляется следующим образом.

Предварительно в рабочий объем измерительной ячейки (между электродами) помещают объект 4 измерения. Диэлектрическая проницаемость дисперсной среды Г с берется заведомо большей, чем диэлектрическая проницаемость объекта измерения . Бункер установлен на столе 5 вибростенда.

Прн воздействии вибрации плотность дисперсной среды изменяется: чем!

557534 заполнение дисперсной средой возможных полостей, отверстий, углублений и т.п, в объектах измерения сложной формы.

Формула изобретения

Составитель В. Стукая

Редактор Л, Веселовская ТехредЛ.Сердюкова Корректор В. Гирняк

Заказ 716 Тираж 550 Подписное

ВНИИПК Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина, 101 больше амплитуда колебаний, тем меньше плотность дисперсной среды. Частоту вибрации подбирают эмпирически для каждой конкретной дисперсной сре5 ды из требования создания равномерной

Я плотности в объеме измерительной ячейки.

Таким образом, при плавном увеличении амплитуды вибрации плавно l0 уменьшается плотность диснерсной среды, а следовательно, плавно уменьшается ее диэлектрическая проницаемость, Для Фиксации момента выравнивания значений 5 и Я ы на том же столе вибростенда установлен точно такой же второй бункер 6 аналогичной электродной системой 7 и такой же дисперсной средой, но без объекта измерения, момент выравнивания f, 20 и Я ц д иксируют по равенству емкостей двух конденсаторных ячеек: с образцом и без образца. Равенство емкостей ячеек означает, что Е сравнялась с F@„. 25

Размер частиц дисперсной среды берется много меньшим объекта измерения, чем обеспечивается макрооднородность диэлектрической проницаемос- 30 ти дисперсной среды, а также надежное

Способ измерения диэлектрической проницаемости, заключающийся в помещении контролируемого образца между электродами измерительной конденсаторной ячейки и измерении полученной емкости, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерения диэлектрической проницаемости образцов малых размеров и (или) сложной формы, промежуток между электродами и контролируемым образцом и объем образцовой аналогичной ячейки заполняют диэлектрической дисперсной средой с проницаемостью, заведомо большей проницаемости контролируемого -образца, плавно уменьшают диэлектрическую проницаемость дисперсной среды до равенства значений емкости измерительной и образцовой ячеек и исходя из величины емкости образцовой ячейки определяют диэлектрическую проницаемость.