Оптическая линейка

 

Изобретение относится к измерительной технике и, в частности, к устройствам для контроля отклонений поверхности от прямолинейности. Цель изобретения - повышение точности и производительности измерения за счет точного совмещения оптической оси афокальной системы с направлением перемещения измерительной каретки, а также сокращения времени на поверку линейки. В корпусе 1 оптической линейки выполнены дополнительные базовые поверхности. При этом базовые поверхности и направляющие 7, 8 для перемещения измерительной каретки 4 расположены попарно симметрично относительно оптической оси О<SB POS="POST">1</SB>О<SB POS="POST">2</SB> афокальной автоколлимационной системы, а визирная марка и сетка 14 микроскопа имеют юстировочные метки. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

„.SU 1566210

А1 (51) 5 С 01 В 11/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

21) 4472676/25-28

22) 08.08,88 (46) 23. 05. 90, Бюл а 11 19 (72) Б, M.ËåâHí, Г, В. Леонтьева, А, Г, Серегин, В,M. Пьtpeнoв и Т. Е, Алек с андр ова (53) 531.715. 27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 632899, кл. G 01 В 11/30, 27.06.77. (54) ОПТИЧЕСКАЯ ЛИНЕЙКА (57) Изобретение относится к измери тельной технике в частности к устройствам для контроля отклонений поверхности от прямолинейности, Цель изобретения — повышение точности и. произво2

"дительности измерения за счет точно" го совмещения оптической оси афокальной системы с направлением перемещения измерительной каретки, а также сокращения времени на поверку ."инейки, В корпусе 1 оптическои линейки выполнены дополнительные базовые поверхности. При этом базовые поверхности и напраляющие 7, 8 для перемещения измерительной каретки 4 расположены попарно симметрично относительно оптической оси О, О афокальной автоколлимационной системы, а визирная марка и сетка 14 микроскопа имеют юстйровочные метки. 2 ил.

15бб210

Изобрете«п«е относится к измерительной технике, а именно к устройствам дпя контроля отклонений поверхности от прямолинейности.

Цель изобретения " повышение точности и производительности измере««ия за счет точного совмещения бптической оси афокальнай системы с направлением перемещения ««эмеритур«ьнай каретки, а также сокр аще«гия времени на поверку линейки, На фиг. 1 показана принципиальная схема оптической линейки; на фиг. 2— сечение А-А на фиг.1. f5

Оптическая линейка содержит корпус

1, афакальную автокаллимационную систему, выполненную в виде двух расположенных вдоль оптической,аси 0 О зеркальна-линзовых объективов 2 и 3, из- 20 мерительную каретку 4 с визирной маркой 5 и измерительным микроскопом б, которая имеет вазможность поступательного перемещения, благодаря закрепленным на корпусе. верхним 7 и ниж- 25 ним 8 направляющим. Корпус 1 своими базовыми (асновяь«ми) опорными поверх««астягы 9 установлен на апдры 10 и

11., одна из которых обычно выполняется регулируемой. Корпус 1 имеет до- 30 палнитель««ые опорные поверхности 12, Опорные поверхности 12 и 9 и направляюпде 7 и 8 корпуса 1 располагаются попарно симметрична относительна оптической асн О! О объективов 2 и 3, Такое их распалаже««««е обеспечивает ,вазможность установки корпуса 1 с объективами 2 и 3 в два положения, ото личающихся поворотом на 180 вокруг оптической аси объективов 2 и 3 афокальнай автакаллимацианнай cHc TpMII > и перемещение в этих положениях корпуса

1 измерительной каретки 4 строго вдоль оптической аси. !

Остиравку осуществляют с помощью юстировачных меток 13, нанесенных на сетке визирной марки 5, перпендикулярна измерительному штриху марки 5.

Па юстиравочным меткам 13 сетки

14 микроскопа отслеживают положе«п«е изображений меток 13 при перемещении каретка 4 вдоль аси О ОI. афакальнай системы, устанавливая направляющие

7 и 8 дпя перемещения каретки 4 симметрична асп О«Оь.

Оптическая линейка работает следующим образам, 1

Оптическая линейка является самопаверяющейся, т.е, появляется возможность определения погрешности исходной прямой, Для этого канструкщля корпуса 1 позволяет устанавливать его в двух положениях, отличающихея поворотом на 80 относительно оси афокапьной систе«ы. В одном случае корпус 1 линейки устанавливают на опоры 1О и

11 опар«п«ми поверхностями 9, а в другой — опорными поверхностями 2, В обоих положениях корпуса 1 оптической линейкой производят измерение непрямолинейности в одних и тех же точках поверхности, Па грешно ст ь исходной прямой оптической линейки определяют как

f полуразность величин отклонений от прямолинейности в каждой измеряемой точке при двух положениях корпуса 1, г

Оптическая линейка с возможностью самопаверки позволяет исключить применение специальных дорогостоящих устройств, например рабочего эталона в виде твердокаменна«а моста, размещенного в теамастатираваннам помеще.нии, При этом отпадает необходимость в перевозках прибора к месту аттестации, связанное с этим увеличение ве-роятности разъюстиравки IIpHGopoB что экономит средства и время на поверку линеек.

Формул аизo брет ения

Оптическая линейка, содержащая корпус, в котором выполнены опорные поверхности, афокальную автоколлимацианную систему, установленную в корпусе и выполненную в виде двух саасно расположенных зеркально-линзовых объективов,измерительную каретку„ на кото° рой уст анавле ны визирная марк а и окуляр с сеткой, и направляющие для перемещения каретки, расположенные на корпусе, отлич ающая ся тем, чта, с целью повышения точности и производительности измерения, в корпусе линейки выпалне«ьы дополнительные опор«ке поверхности симметрично основным опорным поверхностям относительно оси афакальнай системы,, направляющие для перемещения каретки попарно симметричны относительно аси афакальнай систем«, а на визирной марке и сетке акуляI ра нанесены метки.

1566210

Составитель Л.Лобзова

Техред Л.Олийнык :Корректор В.Кабаций

Редактор Н,Бобкова

Заказ !2)5 Тираж 492 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул. Гагарина, t01

Оптическая линейка Оптическая линейка Оптическая линейка 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля дефектов цилиндрических поверхностей, преимущественно для контроля изоляции эмалированных проводов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования структурных параметров шероховатых поверхностей, а также оптической анизотропии вещества диэлектриков полупроводников и т.д

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля дефектов цилиндрических поверхностей, преимущественно для контроля изоляции эмалированных проводов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля дефектов цилиндрических поверхностей, преимущественно для контроля изоляции эмалированных проводов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля прямолинейности поверхности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля шероховатости поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля качества поверхности сквозных каналов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения неплоскостности и непрямолинейности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено для оценки качества рабочих образцов шероховатости

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх