Устройство для формирования опорной линии

 

Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано при контроле профилей различных объектов в машиностроении, геодезии, самолетостроении, судостроении или при прокладке тоннелей. Устройство содержит лазер 1 и дифракционную решетку 2, расположенную на оптической оси 3 лазера 1 и ориентированную перпендикулярно плоскости, проходящей через эту ось и центр О формируемой опорной линии 4. При этом штрихи решетки 2 параллельны этой плоскости и составляют с осью 3 угол α, тангенс которого равен отношению заданного радиуса R кривизны формируемой опорной линии 4 к расстоянию L от решетки 2 до заданной плоскости формирования линии 4 вдоль оси 3. Благодаря такому выполнению расширяются функциональные возможности устройства путем формирования опорной линии с произвольным радиусом R кривизны. При выполнении решетки на частично отражающей подложке формируется линия замкнутого контура. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

,.SU„„1569 6

СООЗ СОВЕТСКИХ

РЕСГ1УВ ЛИК

А1 рО5 С 02 В 5/18 ° 27/20

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

Я) ИЗОБРЕТЕНИЯМ И (ЛНРЫТИЯМ

APM ГКНТ СССР (21) 4478581/24-10 (22) 30.08.88 (46) 07.06.90. Бюл. !! 21 (7l) Научно-исследовательский институт прикладной геодезии (72) В.И.Юрлов и А.С.Писарев (53) 535.853.31(088 ° 8) (56) Авторское свидетельство СССР

Ф 1283530, кл. С 01 С 9/06, 15.01.87.

Авторское свидетельство СССР

В 1394194, кл. G 02 В 27/20, 27.06.88. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФОРМИРОВАНИЯ ОПОРНОЙ ЛИНИИ (57) Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при контроле профилей различных объектов в машиностроении, геодезии, самолетостроении, судостроении или при прокладке тоннелей. Уст" ройство содержит лазер 1 и дифракци2 онкую решетку 2, расположенную Hà оптической оси 3 лазера 1 и ориентированную перпендикулярно плоскости, проходящей через эту ось и центр 0 Формируемой опорной линии 4. При этом штрихи решетки 2 параллельны этой плоскости и составляют с осью 3 угол

c(, тангенс: которого равен отношению заданного радиуса R кривизны формируемой опорной линии 4 к расстоянию L от решетки 2 до заданной плоскости формирования линии 4 вдоль оси

3. Благодаря такому выполнению рас- . ширяются. Функциональные возможности устройства путем Формирования опорной линии с произвольным радиусом R кривизны. При выполнении решетки на частично отражающей подложке Формируется линия замкнутого контура, 1 з.п.ф-лы, 2 ил.

1569766

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при контроле профилей раз личных объектов в машиностроении, геоР дезии, самолетостроении, судостроении или при прокладке тоннелей.

Цель изобретения — расширение

Функциональных возможностей путем ФорМирования опорной линии с произвольным радиусом кривизны, а также Фор 1ирование опорной линии замкнутого контура.

На Фиг. 1 представлена схема устройства и ход лучей в нем; Hà Фиг.2—

i î же, при выполнении решетки на частично отражающей подложке.

Устройство содержит лазер 1 и дифракционную решетку 2, расположенную на оптической оси 3 лазера 1 и ориентированную перпендикулярно плоскоСти, проходящей через эту ось и центр

0 Формируемой опорной линии 4. При

Этом штрихи решетки 2 параллельны .

Этой плоскости и составляют с осью 3 25 угол с, определяемый нз соотношения

tg М= — s (1)

L где К вЂ” заданный радиус кривизны

Формируемой опорной линии 4, 30 расстояние от решетки 2 до заданной плоскости формирования линии 4 вдоль оси 3.

Решетка 2 может быть выполнена на частично отражающей подложке (Фиг,2)

Устройство рабî raeт следующим об— разом.

Результирующие дифракционные мак..симумы формируются на пересечении окружности с прямыми и образуют опор- 40 .ную кривую линию 4 в.виде дуги окружности радиусом

R,= L t.g (2)

Данная линия высвечивается на конт-45 ролируемои объекте 5 в виде дискретных световых точек, соответствующих максимумам дифракции. Контроль профиля объекта 5 может производиться визуалвно или автоматически. В последнем случае на объекте в точках дифракционных максимумов должны быть установлены позиционно-чувствительные Фотоприемники, связанные с объектом и подключенные к системе обработки данных. В соответствии с выражением (2) радиус дуги R может быть установлен путем выбора соответствующего угла o(наклона решетки 2 и расстояния L может лежать в пределах от нуля до бесконечности.

При необходимости объект 5 может быть наклонен в плоскости $0Z при этом Формируется дуга эллипса, причем максимальная величина дуги (Фиг.1) может доходить до половины окружности (эллипса).

Кроме того, возможно формирование линии замкнутого контура — эллипса или окружносги (фиг.2). Для этого решетка 2 должна быть выполнена на частично отражающей подложке. При этом наряду с максимумами прошедшего светового пучка появляются максимумы отраженного пучка„ причем отраженные максимумы Формируются точно таким же образом, как описанные проходящие максимумы, и располагаются симметрично к ним относительно плоскости, проходящей через плоскость решетки 2. Прошедп|ие максимумы формируют половину дуги окружности (или эллипса), а отраженные максимумы— дугу окружности (или эллипса), дополняющую первую дугg до замкнутого КоН тура, повторяющего форму объекта 5.

Для изменения степени эллиптичности формируемого KoHòóðî опт-Ркт можФ но наклонять в ту или другую сторону. в плоскости > OZ. Лри установке объекта 5 первендикулярно плоскости решетки 2 Формируемый замкнутый контур практически совпадает с окружностью. ч о р м у л а и з о б р е т е н и я

Ус гройство для Формирования опорной линии, содержашее лазер н дифракционную решетку, расположенную на оптической оси лазера, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью расширения функциональных возможвос гей за счет Формирования опорной линии с произвольным радиусом кривизны, дифракционная решетка ориентирована перпендикулярно плоскости, проходящей через оптическую ось лазера и центр формируемой опорной линии, а штрихи решетки параллельны этой плоскости н составляют с оптической осью лазера угол с(, определяемый из соотношения

tg = —, Ь где К вЂ” заданный радиус кривизны фор. мируемой опорной линии; расстояние от решетки до заСоставитель В. Кравченко

Техред Л. Сердюкова Корректор Т.Палий

Редактор И. Дербак

Заказ 1447 Тира 465 Подписное

BHHHIIH Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Иосква, Ж-35, .Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 1О!

5 )569766 6 данной плоскости формирова- ч а ю щ е е с я, тем что с цель ния опорной линии вдоль опти- формирования опорной линии замкнуточеской оси лазера. ro контура, решетка вьитолнена на

2. Устройство по и, 1, о т л и— частично отражающей подложке.

Устройство для формирования опорной линии Устройство для формирования опорной линии Устройство для формирования опорной линии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике оптического приборостроения и может быть использовано для нанесения микроскопических шкал, нониусов и т.д

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к оптическо 1у приборостроению и позволяет увеличить дисперсию решетки без уменьшения ширины ее рабочей области спектра

Изобретение относится к прецизи онной измерительной технике и позволяет повысить точность записи и уве8 личить размеры записываемой решетки

Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет увеличить спектральный диапазон работы путем изменения угла блеска

Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет увеличить светосилу в рабочей области спектра путем обеспечения заданного положения спектрального максимума концентрации энергии

Изобретение относится к спектральным приборам и позволяет использовать дифракционную решетку в качестве фазовой в инфракрасном диапазоне и уменьшить ее период

Изобретение относится к оптическим средствам разметки, определения положения или направления изделия в пространстве

Изобретение относится к электротехнической промышленности и может быть использовано в технике и медицинской практике для точного наведения пучка рентгеновских лучей при помощи оптической системы на определенную точку исследуемого объекта

Изобретение относится к устройствам для указания объектов или направления на объекты, а более конкретно к устройствам типа указок или жезлов

Изобретение относится к аппаратуре для лазерного целеуказания и дальнометрии. Лазерный целеуказатель содержит канал лазерного целеуказания, электронную аппаратуру управления мощностью (энергией) лазера канала лазерного целеуказания и канал лазерного дальнометрирования. Каналы лазерного целеуказания и дальнометрирования конструктивно выполнены таким образом, что оси пучков лазерного излучения параллельны между собой. Выход канала лазерного дальнометрирования соединен с входом электронной аппаратуры управления мощностью (энергией) лазера канала лазерного целеуказания. Выход электронной аппаратуры управления мощностью (энергией) лазера канала лазерного целеуказания соединен с входом канала лазерного целеуказания. Электронная аппаратура управления мощностью (энергией) лазера канала лазерного целеуказания при обработке сигнала, поступившего из канала лазерного дальнометрирования, обеспечивает выполнение определенных условий: плотность мощности (энергии) лазерного излучения в зоне облучаемого объекта не превысит уровень, при котором возможно вредное и опасное воздействие на человека лазерного излучения. 2 ил.

Изобретение относится к области спектрального приборостроения

Изобретение относится к голографии и может быть использовано для перевода многоракурсных стереоскопических фотоизображений объектов в голографические

Изобретение относится к дисплеям, а конкретнее к дифракционным дисплеям (отражающим или пропускающим), в которых за счет нового метода, использующего дифракцию, каждый пиксел характеризуется полным диапазоном длин волн дифрагированного света (например, образует полную гамму цветов)
Наверх