Способ калибровки магнитных дефектоскопов и устройство для его осуществления

 

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Целью изобретения является расширение области использования за счет калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля изделий со сварным швом. Для этого на бездефектном контрольном образце 1 закрепляют пластины 2 и 3. Пластины 2 являются имитатором сварного шва, а пластина 3 - имитатором дефекта. Пластины 2 и 3 подключают к источникам 4 и 5 тока соответственно. Пластина 2 выполнена по размеру контролируемого сварного шва, а ширина пластины 3 равно заданной величине минимального дефекта. Пропускают по пластинам ток, причем ток по пластине имитатора сварного шва направлен противоположно току пластины имитатора дефекта. В процессе пропускания тока по пластинам на бездефектный образец воздействуют внешним тангенциальным полем, направление которого совпадает с направлением поля имитатора дефекта, считывают сигнал, соответствующий минимальной величине дефекта, а по его величине проводят калибровку дефектоскопа. 2 с. и 1 з.п. ф-лы, 5 ил.

A1I

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

С)"„)ЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

„„SU„„1589190 (51),5 0 01 ) 1 27/82

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (2) ) 4463052/25 — 28 (22 ) 19.07 ..88 (46) 30. 08. 90. Бюл. № 32 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) А.А,Давыцков и А,М.Щарова (53) 620. 179.04 (088. 8) (56 ) Авторское свицетельство СССР

¹ 911305, кл. G Ol И 27/82, 1982. (54 ) СПОСОБ КАПИБРОВКИ МАГНИТНЫХ

ДЕФЕКТОСКОПОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО

ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (57) Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано цля калибровки маг-. нитных дефектоскопов. Целью изобретения является расширение области использования за счет калибровки также и цефектоскопов, предназначенных цля контроля изделий со сварным швом. Для этого на безцефектном контрольном об2 разце 1 закрепляют пластины 2 и 3.

Пластина 2 является имитатором сварного шва, а пластина 3 — имитатором дефекта, Пластины 2 и 3 подключают к источникам 4 и 5 тока соответственно, Пластина 2 выполнена по размеру контролируемого сварного шва, а ширина п, истины 3 равна заданной величине минимального цефекта. Пропускают по пластинам ток, причем ток по пласти-. не имитатора сварного шва направлен противоположно току ппастины имитатора цефекта. В процессе пропускания тбка по пластинам.на бездефектный обра" зец воздействуют внешним тангенпианьным полем, направление которого совпадает с направлением поля имитатора (0 дефекта, считывают сигнал, соответствующий минимальной величине цефекта, а по его величине проводят калибровку цефектоскопа. 2 с. и 1 з, п. ф-лы, 5 ил.

3 15891

Изобретение относится к средствам нфразрушающего контроля и .может быть использовано цля калибровки магнитных цффектоскопов.

5

Целью изобретения является расширение области использования за счет каФ лйбровки, цефектоскопов, предназначенных для контроля иэделий со сварным швом.

1О

На фиг. 1 показано устройство для калибровки магнитных цефектоскопов на контрольном образце беэ дефекта на фон магнитного поля, созданного имитатфром сварного шва в виде пластины; нф фиг. 2 — устройство для калибров1 ки цефектоскопов с имитатором сварного шва в виде двухпроводной линии; . нф фиг. 3 — распределение магнитного пня имитатора дефекта и имитатора сварного шва в вице пластин, на фоне твнгенциального намагничивающего пол1 Н-; íà r. 4 — распределение магнйтнйх полей имитатора дефекта, имитатора сварного шва, выполненного в вйде двухпроводной линии, и внешнего тангенциального поля; на фиг. 5 — распределение магнитного поля валика сварного шва при намагничивании издрлия параллельно поверхности.

Устройство (фиг. 1 ) для осущест. вления способа содержит бездефектный контрольный абразец 1 ° электропроводяшую пластину 2, служащую имитатором сварного шва, электропроводящую пластину 3, служащую имитатором дефекта, источник 4 тока, подкдюченный к пластине 2, источник 5 тока, подключенный к пластине 3.

Электропроводящая .пластина 2 закреплена на поверхности контрольного образца 1 и соединена с источником 4 тока, Ширина b пластины выбирается равной ширине b сварного шва. Электропроводящая пластина 3 закреплена а поверхности электропроводящей нластины 2 и соединена с источником 5 тока таким образом, чтобы направление тоха в ней было противоположно направлению тока в пластине 2.

Устройство (фиг. 2) для осуществления способа при калибровке магнитных дефектоскопов содержит бездефектный контрольный образец 6, имитатор сварНо го шв а в виде двухпр оводной ли «ыи

55 .7, пластину 8, служащую имитатором дефекта; и источники 9 и 10 тока, подключенные соответственно к пластинам 7 и 8, Расстояние межцу проводни90 ками двухпроводной линии 7 равно ширине сварного шва, подлежащего контролю, Расстояние между проводниками. двухпроводной линии b равно ширине сварного шва b а к источнику 9 тока они грисоединены параллельно. Посерецине расположена электропроводящая пластина

8, соединенная с источником 10 тока так, что направление тока в ней противоположно направлению тока н двухпроводной линии 7 (направление тока показ ано стрелками ), Способ осуществляется следующим обр аз ом.

Бездефектный образец 1 намагничивается полем Н0. От источников 4 и 5 тока по пластинам 2 и 3 пропускается электрический ток. Если ширина пластины 2 равна ширине сварного шва, а ширина пластины 3 равна ширине дефекта, то распрецеление напряженности образующегося магнитного поля (фиг.3) близко к распределению напряженности магнитного поля в зоне сварного шва, содержащей дефект (фиг. 5 ). Так как ширина пластин выбрана равной соответственно ширине валика, сварного шва и ширине дефекта, то необходимый градиент напряженности магнитного поля (фиг. 3 ), соответствующий р аз мер ам сварного шва и дефекта в нем, получают установкой необходимой величины электрического тока в пластинах.

После установки необходимого значения: электрического тока в пластинах

2 и 3 (фиг, 1) "на поверхность контрольного образца устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан) и перемещают в направлении, пересекающем пластины 2 и 3, При перемещении датчиком пластин 2 и 3 регулировкой чувствительности настраивают дефектоскоп на выявление дефекта с заданными размерами, Так как настройка, на заданные размеры сварного шва и дефекта в устройстве (фиг. 1 ) для калибровки производится плавной регулировкой электрического тока, то дефектоскоп может быть точно откалиброван на любые размеры швов и дефектов.

Устройство (фнr. 2 ) для ocyaleствления способа при калибровке магнитных дефектоскопов работает следующим образом, От и сто чни к о в 9 и 10 по двухпро водной линии 7 и пластине 8 пропускают электрический ток, При этом над образ5 158919 цом 6 образуется магнитное поле, являющееся суммарным двух полей: магнитного поля двухпровоцной линии и пластины. Магнитное поле (фиг. 4) двухпроводнои линии воспроизводит поле вали5 ка шва (фиг. 5), а поле пластины— поле дефекта, причем расстояние между проводниками двухпроводной линии 7 равно ширине сварного шва. 10

После установки в двухпровоцной линии 7 и пластине 8 необходимых значений электрического тока от источников 9 и 10 на поверхность устройства для калибровки устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан) и перемещают его в направлении, пересекающем двухпроводную линию 7 и пластину 8. При прохождении датчика над цвухпроводной линией и пластиной .20 ре гулируют чувствительность магнитного дефектоскопа так, чтобы дефектоскоп выявлял заданный дефект, Пример, Калибруют магнитографический дефектоскоп МД-11Г цля кон- 25 троля сварного изделия толщиной 6 мм с размерами усиления сварного шва

b=15 мм и c=2 мм при параллельном намагничивании. Необходимо выявить дефекты шириной раскрытия более 0,5 мм, Толщина бездефектного образца 6 мм.

На поверхность образца укладывают две пластины шириной 15 и 0,5 мм. 3a- . тем на пластины укладывают магнитную ленту И-4701-35. Образец намагничи- вают внешним полем Н =250 А/см, а по

35 ппастинам пропускают ток: 100 А по широкой и 15 А по узкой. Считывают магнитограмму с ленты, а ручкой "Чувствительность дефектоскопа добивают- 40 ся устойчивого сигнала, обусловленного полем от узкой полосы пластины..

2. Устройство дпя капибровки магнитных дефектоскопов, содержащее кон- трольный образец беэ цефекта, закрепленный на нем имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины и источник тока, подключенный к имитатору дефекта., о т л и ч а ю щ е е с я тем, что оно снабжено имитатором сварного шва ° выполненным в вице электропроводящей пластины, ширина которой больше ширины имитатора дефекта, размещенным меягду имитатором цефекта и контрольным обр азцом > и вторым и сто чни ком тока, подключенным к имитатору сварного шва.

3. Устройство по п, 2, о т л и ч аю щ е е с я тем, что оно снабжено имитатором сварного шва, выполненным в виде двух проводников, размещенных с двух сторон от имитатора дефекта, и вторым источником тока, а провоцники подключены к второму источнику тока пар аллельно.

Фор мул а из о бр ет ения

1, Способ калибровки магнитных де-. фектоскопов, заключающийся в том, что

0 6 на беэдефектный контрольный образец укладывают имитатор дефекта в виде электропроводящей ппастины, ширина которой равна минимапьному дефекту, пропускают по пластине ток, считывают величину сигнапа, соответствующего заданной минимальной величине дефекта, и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью расширения области использования за счет калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля изделий со сварным швом, между контрольным образцом без дефекта и имитатором дефекта размещают имитатор сварного шва, пропускают по нему ток в направлении, противоположном направлению тока в имитаторе дефекта, а на контрольный образец воздействуют виешним тангенциальным магнитным полем, направление которого совпадает с магнитным полем имитатора дефекта.

1509190 е р< «Ф»

Составитель А, Бодров

Техрец M.Äèäûê

Редактор Л.Веселовская

Корректор 3.Лончакова Заказ 2537 Тираж 511 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СЧСР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", . г. Ужгород, ул. Гагарина, 101