Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектриков

 

Изобретение относится к технике СВЧ-измерений. Цель изобретения - повышение точности измерений в широком диапазоне углов облучения. Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектриков содержит безэховую камеру, состоящую из двух пирамидальных частей 1 и 2, в которых установлены передающая и приемная антенны 4 и 5, а также поглощающий экран (ПЭ) 8. В ПЭ 8 выполнено окно для размещения исследуемого плоского диэлектрика. Благодаря наличию на краях ПЭ 8 шторок 12 и 13, соединенных шарнирно и опирающихся на стенки камеры, сечение камеры всегда остается перекрытым при любых значениях угла между плоским диэлектриком и электрической осью антенн 4 и 5. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

1597783 A 1 (19) (11) (51)5 G 01 R 27/26

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

llO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4600838/24-09 (22) 31.10.88 (46) 07.10.90. Бюл. № 37 (71) Научно-исследовательский институт прикладных физических проблем им. А. Н. Севченко (72) М. А. Вилькоцкий, А. П. Гринчук, А. В. Громыко и А. Г. Михасенко (53) 621.317.335.3(088.8) (56) Воробьев Е. А. и др. СВЧ-диэлектрики в условиях высоких температур. — М.:

Сов. радио, 1977.

Гринчук А. П. и др. Измерительно-вычислительный комплекс для измерения коэффициента прохождения в широкой полосе частот. — Вопросы радиоэлектроники, Сер.

«ОВР», вып. 3, 1988, с. 10! — 106.

2 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

УГЛОВОЙ ЗАВИСИМОСТИ КОЭФФИЦИЕНТА ПРОХОЖДЕНИЯ ПЛОСКИХ ДИЭЛ ЕКТРИ КО В (57) Изобретение относится к технике

СВЧ-измерений. Цель изобретения — повышение точности измерений в широком диапазоне углов облучения. Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектриков содержит безэховую камеру, состоящую из двух пирамидальных частей 1 и 2, в которых установлены передающая и приемная антенны 4 и 5, а также поглощающий экран (ПЭ) 8. В ПЭ 8 выполнено окно для размещения исследуемого плоского диэлектрика. Благодаря наличию на краях ПЭ 8 шторок 12 и 13, соединенных шарнирно и опирающихся на стенки камеры, сечение камеры всегда остается перекрытым при любых значениях угла между плоским диэлектриком и электрической осью антенн 4 и 5.3 ил.

1597783

Изобретение относится к технике СВЧ-измерений и может быть использовано для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектрических панелей и дифракционных структур.

Цель изобретения — повышение точности измерений в широком диапазоне углов облучения.

На фиг. 1 приведена конструкция устройства для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектриков; на фиг. 2 — разрез А-А на фиг. 1; на фиг. 3 — разрез Б-Б на фиг. 2.

Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектриков содержит безэховую камеру, образованную двумя пирамидальными частями 1 и 2 и прямоугольной частью 3. В вершинах пирамидальных частей 1 и 2 расположены передающая 4 и приемная 5 антенны, соединенные соответственно с СВЧ-генератором 6 и измерительным блоком 7. Внутренняя поверхность камеры покрыта радиопоглощающим материалом. В центре прямоугольной части 3 расположен поглощающий экран 8 с окном 9 для установки исследуемого плоского диэлектрика. Экран 8 закреплен на поворотном блоке 10. С двух сторон к экрану 8 при помощи шарниров 11 и пружин закреплены шторки 12 и 13 из поглощающего материала, снабженные роликами 14, катящимися по боковой поверхности прямоугольной части 3 безэховой камеры.

Размеры шторок 12 и 13 выбираются таким образом, чтобы при любом угле падения облучающей волны экран 8 вместе со шторками 12 и 13 эффективно перекрывали поперечные сечения прямоугольной части 3 камеры. В этом случае сигнал на выходе приемной антенны 5 будет пропорционален амплитуде электромагнитной волны, прошедшей только через окна 9.

Измерение коэффициента прохождения производится следующим образом. При данном угловом положении экрана 8 измеряется амплитуда поля А1, прошедшего через свободное окно 9. Затем в окно вставляется исследуемый плоский диэлектрик и измеряется амплитуда прошедшего поля А2. Коэффициент прохождения исследуемого плоского диэлектрика равен

А т=A

При исследовании угловой зависимости коэффициента прохождения вначале проводятся измерения падающего поля при всех угловых положениях экрана 8 со свободным окном 9, затем те же измерения с установленным, исследуемым плоским диэлектриком.

После почленного деления измеренных значений получают массив результатов, характеризующих угловую зависимость коэффи„О циента прохождения исследуемой панели.

Использование предлагаемого устройства обеспечивает по сравнению с известным устройством повышение точности измерения угловой зависимости коэффициента прохождения в более широком диапазоне уг15 лов падения облучающей электромагнитной волны.

Формула изобретения

Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектриков, содержащее СВЧ-генератор соединенный с передающей антенной, приемную антенну, подключенную к измерительному блоку, поглощающий экран, в котором

25 выполнено окно для размещения исследуемого плоского диэлектрика, при этом поглощающий экран установлен между передающей и приемной антеннами с возможностью изменения угла между его плоскостью и общей электрической осью передающей и при30 емной антенн, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений в широком диапазоне углов облучения, введена безэховая камера, внутренняя поверхность которой покрыта радиопоглощающим материалом, состоящая из прямоугольной части и

35 двух пирамидальных осей, соединенных раскрывами с прямоугольной частью, передающая и приемная антенны установлены в вершинах пирамидальных частей, а поглощающий экран — в прямоугольной части, при

4О этом к каждой из противоположных сторон поглощающего экра на прикреплены посредством шарниров и пружин две шторки из радиопоглощающего материала, опирающиеся на внутренние поверхности прямоугольной части при помощи роликов, при

45.этом поглощающий экран со шторками имеет размеры, перекрывающие все поперечное сечение прямоугольной части безэховой камеры при всех углах поворота поглощающего экрана, 1597783

Соста витель P. Кузнецова

Редактор Н. Яцола Техред А. Кравчук Корректор 7. Бескид

Заказ 3052 Тираж 557 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4!5

Производственно-издательский комбинат «Патент», г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектриков Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектриков Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента прохождения плоских диэлектриков 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении добротности полупроводниковых варикапов

Изобретение относится к области электроизмерений и может быть использовано в преобразователях для емкостных датчиков

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении разных физических величин посредством дифференциальных параметрических датчиков

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения диэлектрической проницаемости образцов с небольшой поверхностной проводимостью

Изобретение относится к радиотехнике и предназначено для измерения параметров электромеханических фильтров, а именно их добротности

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения параметров конденсаторов электрической емкости путем раздельного измерения падения напряжения, создаваемого активной и реактивной составляющими полного тока

Изобретение относится к электроизмерениям

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и неразрушающему контролю неметаллических материалов в импульсно-возбуждаемых электрических полях

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для снятия параметров емкостного датчика при диэлькометрическом методе контроля параметров материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, резистивных или индуктивных датчиков

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Изобретение относится к измерительной технике, в частности, может быть использовано для измерения диэлектрических характеристик веществ с помощью емкостного или индуктивного датчика

Изобретение относится к электронному приборостроению и может быть использовано для контроля и измерения диэлектрических параметров различных сред

Изобретение относится к измерению электрических величин, в частности емкости

Изобретение относится к способам и устройству для передачи электромагнитных сигналов в землю через конденсатор

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано при измерении тангенса угла диэлектрических потерь твердых изоляционных материалов, жидких диэлектриков, например, трансформаторного масла
Наверх