Дефектоскоп для контроля неметаллическихпокрытий

 

Взамен Пансе изданного

l6O6I2

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союэ Соввтских

Социалистических

Респтблик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 06Л!.1963 (М 818436/25-8) с присоединением заявки №

Приоритет

KJI. 42k 46ез

МПК б 01п

Государственный комитет по делам

Ю. В. Ланге изобретения

Заявитель

Государственный комитет по авиационной технике СССР

ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ ХЕМЕТАЛЛИЧЕСКИХ

ПОКРЫТИИ

Подписная группа М 116

Устройства для выявления скрытых дефектов в твердых телах, основанные на изменении характера собственных колебаний изделия при наличии в нем дефекта (метод свободных колебаний), известны. Недостатком таких устройст11, снижающим надежность их работы, является зависимость результатов контроля от подвер>кенной случайным изменениям силы удара бойка вибратора по поверхности контролируемого изделия.

Особенностью предлагаемого дефектоскопа, предназначенного, в частности, для проверки клчествл изделий из пеметаллических материалов, является то, что он регистрирует не абсолютные амплитуды частотных составляющих спектра свободных колебаний, а отношение амплитуд спектральных сотавляющих, рлсполо>кенных в различных участках частотного спектра. Для повышения надежности контроля и приборе применена двухканальная схсмл, в одном из каналов которой установлен фильтр с полосой пропускапия, соответствующей члстотлм максимума колебаний иэделия в зоне дефекта, а для измерения отношения амплитуд сигналов установлен логометр, работающий от детекторов, подключенных на выходе каждого канала.

Нл черте>ке изображена блок-схема описываемого дефектоскопа.

Датчик дефектоскопл содержит соэдлюшнй периодические удары но поверхности изделия вибратор !, возбуждаемый от блокл питания

2. Приемник 3 прсобрлзует упругие колебания в электрические сигналы, постуtt;lloltiltt . нл вход предварительного усилителя 4, усll.tètl;t1 ющего все частотные составля юнионе сп I< грл в одинаковое число ряз, Зятем сигнал поступает на два независимых нолосоиых фильтрл

10 6 и 6. Один из ннх — фильтр 6 — пропускает частоты, соответствующие максимуму интснснвности свободных колебаний изделия tl зоне без дефекта, другой — фильтр 6 — частоты, соответствующие максимуму инTcíсивно15 сти колебаний на участке с дефектом. Сигнллы с обеих каналов после усиления усилителями 7 и 8 и детектирования детекторами 9 и

10 подаются ня логометр II, который показывает отношение амплитуд этих сигналов.

Наличие в изделии дефекта изменяет отношение сигналов, причем при изменении силы ударя внбратора это отношение прлктич ct

25 л

Фильтры 6 н 6 могут нлстрливлться нл любую нужную полосу члстот, и усилсllll< каждого иэ каналов может рсгулнровлться для выбора оптимального плчлльного îTíîøcttèH

30 сигналов в зоце без дефекта, 3

Предмет изобретения

Дефектоскоп для контроля неметаллических покрытий, многослойных конструкций и других изделий, например стеклопластиков, методом свободных колебаний, содержащий электромеханический вибратор, приемник упругих колебаний, электрические полосовые фильтры, усилители и детекторы, отличающийl 60612

4 ся тем, что, с целью повышения надеж ости контроля, в цеп> приемника включена двухканальная схема, в одном из каналов которой установлен фильтр с полосой пропуcKBH0fl, соS ответствующей частота м максимума колебаний иэделия в зоне дефекта, а для измерения отношения амплитуд сигналов установлен логометр, работающий от детекторов, подключенных на выходе каждого канала.

Состав и тель К. А, Хоря к

Редактор Т. В, Данилова Техред Ю. В. Баранов Корректор Г. П. Знмииа

Заказ 2860/3 Тираж 450 Формат бум. 600(90/ Объем О,!3 изд. л. Цена 5 коп.

ЦНИИПИ Госудврствеиного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д, 4

Типографии, пр. Сапунова, д. 2

Дефектоскоп для контроля неметаллическихпокрытий Дефектоскоп для контроля неметаллическихпокрытий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к акустической дефектоскопии, в частности, к устройствам выявления дефектов импедансным методом

Изобретение относится к акустической дефектоскопии, в частности к импедансному способу неразрушающего контроля и может быть использовано для обнаружения скрытых дефектов соединений типа расслоений, непроклеев и т.п

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для обнаружения дефектов в изделиях, в частности для выявления непрокпеев в многослойных клеевых и паяных конструкциях и расслоений в изделиях из слоистых пластиков

 // 416608
Наверх