Устройство для проверки малых

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОЫЕтЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Кл, 42m, 1444

Заявлено 14.V.1963 г, (№ 836529/26-24) МПК G 061

ГосудаРствеииый комитет по делам изобретений и откРытий СССР

Опубликовано 22.VII.1964 г. Бюллетень № 13

УДК

Дата опубликования описания 12.VIII.1964 г.

Авторы изобретения

1О. С. Карп, В. А. Пелипейко, И. П. Крусс, Я. Я. Блауберг и Г. P. Лукстрауп

Заявитель Институт электроники и вычислительной техники АН Латвийской Р

°;:у . . «:, ..:.. 3 \

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ МАЛЫХ

НЕСТАБИЛЬНОСТЕЙ ОБРАТНЫХ ТОКОВ ПЕРЕХОДОВ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Подписная группа 145

Известны устройства для проверки малых нестабильностей обратных токов переходов полупроводниковых приборов, содержащие магнитный усилитель, используемый в качестве датчика тока, пропорционального исследуемому, с применением стрелочных высокочувствительных индикаторов. Измерение малых нестабильностей в случае малых обратных токов связано со значительными техническими трудностями.

Предложенное устройство аналогичного назначения отличается от известных тем, что в нем параллельно нагрузке магнитного усилителя включен элемент памяти, фиксирующий напряжение, пропорциональное величине обратного тока испытуемого перехода. Это обеспечивает автоматизацию процесса проверки и исключает ошибки, вносимые оператором.

На чертеже приведена блок-схема предложенного устройства.

Устройство содержит двухтактный двухполупериодный магнитный усилитель 1, схему 2 сравнения, электронное реле времени 8, триггер 4, схему 5 коммутации, источник б прямоугольного стабилизированного напряжения и источника 7 питания установки.

С помощью магнитного усилителя 1 с самоподмагничнванием мощность и напряжение малых сигналов нестабильности усиливаются до значений, удобных для измерения.

Разбраковка полупроводниковых приборов происходит следующим образом.

К участку испытуемого перехода транзистора 8 (или диода 9) прикладывается напряжение, соответствующее рабочему режиму.

Обратный ток перехода, протекая по управляющим обмоткам магнитного усилителя, вызывает на нагрузке усилителя соответствующее напряжение, которое установится на емкостном элементе памяти (на чертеже не показан), подключенном параллельно нагрузке усилителя.

По сигналу реле времени 8 элемент памяти отключается и фиксирует напряжение, про15 порциональное величине обратного тока перехода I„, „â рабочем режиме.

По истечении испытательного промежутка времени по сигналу реле времени элемент памяти снова подключается к нагрузке. Если

20 напряжение на нагрузке в этот момент будет отличаться от напряжения, зафиксированного на элементе памяти, то появится импульс тока Л1„гре„, который и представляет сигнал нестабильности обратного тока исследуемого

25 перехода полупроводникового прибора.

В схеме 2 сравнения применен инверторный трансформатор с симметричной выходной обмоткой и диодным селектором положительных импульсов, так как решающая схема проще

30 для импульсов одной полярности. На выходе

163820

Предмет изобретения

Составитель Л. Захарова

Редактор Н. Копылова Техред А. А, Кудрявицкая Корректор М. И. Эльмус

Заказ 1833/11 Формат бум. 80)(90 /з Тираж 650 Объем 0,18 изд. л. Цена 5 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 вел е кто р а 11 0 II B Jl 51 eT cd положительный H KI II y 1 bc независимо от полярности сигнала нестабильности.

В качестве решающей схемы, осуществляющей разбраковку или классификацию полупроводниковых приборов, применен триггер с порогом срабатывания, равным предельно допустимому значению сигнала нестабильности.

Если величина Л!„ерш. превысит допустимое значение, триггер выдаст соответствующий сигнал на схему коммутации, которая включит световой сигнал «брак».

Если у проверяемого прибора окажется допустимой величина обратного тока 1„, „, то нет смысла в дальнейшей проверке, прибор должен быть сразу забракован. Для этой цели с нагрузки магнитного усилителя снимают контрольное напряжение, поступающее в ту же решающую систему.

Для обеспечения высокой то:щости работы установки все питающие напряжения должны быть хорошо отстабилизированы, так как любая нестабильность напряжения питания рабочих обмоток магнитного усилителя будет регистрироваться устройством, как нестабильность обратного тока полупроводникового перехода.

Для питания рабочих обмоток магнитного усилителя применен двухкаскадный стабилизированный источник питания 7: первым его каскадом является феррорезонансный стабилизатор, работающий от сетевого напряжения 220 в, вторым каскадом служит ограничитель, собранный на кремниевых стабилитронах.

Данное устройство может быть применено и в случаях, когда возникает необходимость в регистрации малых нестабильностей слабых постоянных токов или нестабильностей любых других физических величин, которые могут быть преобразованы в пропорциональный им постоянный электрический ток.

Устройство для проверки малых нестабильностей обратных токов переходов полупроводниковых приборов, содержащее двухтактный двухполупериодцый магнитный усилитель, ис20 пользуемый в качестве датчика тока, емкостной элемент памяти, схему сравнения, вырабатывающую сигнал определенной полярности независимо от полярности сигналов нестабильности, и схему индикации, о т л и ч а ю25 щееся тем, что, с цель1о автоматизации процесса проверки и исключения ошибок, вносимых оператором, параллельно нагрузке магнитного усилителя включен элемент памяти, фиксирующий напряжение, пропорциональное

30 величине обратного тока испытуемого перехода.

Устройство для проверки малых Устройство для проверки малых 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх