Патент ссср 167638

 

Союз Советских

Социалистицеских оеснублик

Зависимое от авт. свидетельства ¹r

Кл. 42!, 12!1;, Заявлено 25.1.1964 (№ 878179/25-28) Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССР

МПК 6 01Ь с присоединением заявки ¹

Приоритет

УДК 621.753.39(088.8) Опубликовано 18.1.1965. Бюллетень ¹ 2

Дата опубликования описания 17. I II.1965

Автор изобретения

Заявитель

ОПОРА К ДАТЧИКАМ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ

И ВОЛНИСТОСТИ IIOBI:PXHOCTÈ

Предмет изобретения

Подписная группа № 1б4

Известны опоры к датчикам для измерения шероховатости и волнистостп поверхности деталей со сферической поверхностью. При примененш! таких Опор возникают ошибки в результате провала между гребешками неровностей сферической части опор при движении ее по поверхности детали.

Предлагаемая опора отличается тем, что она установлена в корпусе шарнирно с одной степенью свободы и ее контактная поверхность выполнена цилиндрической или конус-!!ой. Эта опора в значительной степени снижает влияние непараллельности измеряемой поверхности относительно траектории трассирования датчика.

На чертеже изосраыеllа коllструкция Опоры.

Собственно опора 1 представляет собой часть цилиндра (или конуса) с доведенными опорными поверхностями. На ней жестко закреплена обойма 2 с отверстием и пазом под сферическую часть опорных штырей 8. Штыри регулируются по высоте винтами 4 и крепятся винтами б к корпусу б, которь1м опора прикрепляется к корпусу датчика (не показан). Опора с обоймой под;кимается к сферической части опорных штырей с помощью плоской пружины 7 с пазами.

Центральное отверстие в опоре и обойме и пазы в прун ине и корпусе предусмотрены под коромысло с ощупывающей иглой датчика.

Игла датчика не всегда бывает расположена в одной плоскости, проходящей через оси сфер опорных штырей. С целью значительного снижения влияния наклона проверяемой поверхности в направлении, перпендикулярном трассированию датчика, радиус опоры

10 следует делать как можно меньшим.

Применение опоры с цилиндрическими (или конусными) опорными поверхностями повышает точность измерения. Это достигается тем, что прп двпжен11п датчика контактной

15 поверхностью слу кпт прямолинейная образующая цилиндрической (плп конусной) погсрхнсстп споры.

Опора к датчикам для измерения шероховагc сти и волнистсстп поьерхностп деталей с контактной поверхностью тела вращения, .:т.ичаюи1аяся тем, что., с целью повышения

25 то тости измерения, она установлена в корпусе шарнирно с одной степенью свободы и ее. контактная поверхность выполнена ци, 1!1нд1рвчсскр11 1!ли кон1 снсй.

Составитель Э. К. Араноаская

Редактор Л. М. Жаворонкова Техред Т. П. Курилко Корректор Т. С. Дрожжина

Заказ 333/9 Тираж 625 Формат бум. 60)<90 /в Объем 0,1 изд. л. Цена 5 коп.

11НИИПИ Государственного комитета по делам изобретении н открытий СССР

Москва, Центр, пр, Серова, д. 4

Типография, пр, Сапунова, 2

Патент ссср 167638 Патент ссср 167638 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур
Наверх