Электронный дефектоскоп

 

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля материалов и изделий. С целью повышения точности и надежности электронного дефектоскопа в него введены активный полосовой фильтр, два селектора и формирователь импульсов, подключенный входами питания к соответствующим выходам источника постоянного тока, а выходами - к токовым зондам и к входу селектора. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) РСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

БРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

НТ СССР (я)5 G 01 N 27/20

ГОС ДА

ПО ЗО

ПРИ К

ТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

К А (21) 4 (22) 1 (46) 2 (71)

БСС (72) лис и (53) 5 (56) А

¹10

39275/25-25 .01.89 ,11.90. Бюл. ¹ 43 изико-технический институт АН

И.Вейник, Ю.И.Белоносов, Э.Б.МатуМ.К.Степанкова

3.247 (008.8) торское свидетельство СССР

5494, кл. G 01 N 27/20, 1982, обретение относится к средствам неающего контроля материалов и моть использовано в машиностроении наружения дефектов в электропроматериалах, лью изобретения является повышености и надежности дефектоскопии. чертеже изображена блок-схема нного дефектоскопа. ектоскоп содержит токовые зонды 1 тенциальные зонды 3 и 4, которые щаются по поверхности контролируизделия 5, активный полосовой

6, третий селектор 7, элемент 8 ини, первый селектор 9, элемент И 10, ователь 11 импульсов, второй селекисточник 13 постоянного тока. Фортель 11 импульсов содержит времяую емкость 14, токоограничиваюистор 15 и тиристорный ключ 16. ектоскоп работает следующим обИ разру жет б для о водны

Ц ние то

Н электр

A и2,п перем емого фильт дикац форми тор 12 миров задаю щий ре

Де разом.

Вр жается стор 1 мязадающий конденсатор 14 зарячерез токоограничивающий резиот гальванически развязанного (54) ЭЛЕКТРОННЫЙ ДЕФЕКТОСКОП (57) Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля материалов и изделий. С целью повышения точности и надежности электронного дефектоскопа в него введены активный паласовой фильтр, два селектора и формирователь импульсов, подключенный входами питания к соответствующим выходам источника постоянного тока, а выходами — к токовым зондам и к входу селектора, 1 з.п. ф-лы, 1 ил, источника 13 постоянного тока, При условии наличия контакта потенциальных зондов 3 и

4 и токового зонда 1 с поверхностью контролируемого изделия, а также напряжении на конденсаторе, превышающем заданную величину, селекторы 9 и 12 подают на элемент И 10 разрешающий сигнал, элемент И

10 подает на управляющий вход ключа 16 формирователя импульсов отпирающий сигнал и устанавливает элемент 8 индикации в исходное состояние. Если токовой зонд 2 имеет контакт с поверхностью контролируемого изделия (как и все остальные зонды 1, 3 и 4), по цепи управления протекает ток и ключ 16 включается, Формирователь 11 импульсов вырабатывает импульс тока величиной, определяемой напряжением на конденсаторе, и сопротивлением открытого клн)ча 16. Длительность импульса определяется величиной емкости конденсатора и сопротивлением открытого ключа 16.

После включения ключом формирователя 11 импульсов напряжение на конденсаторе 14 уменьшается. На выходе селектора 12 исчезает сигнал разрешения включения форми1608550 рователя 11 импульсов и сигнал сброса элемента 8 индикации. Сигнал с потенциальных зондов 3 и 4 подается на активный полосовой фильтр 6, рассчитанный на частоту, определяемую длительностью токового импульса. Селектор 7 при превышении выходного напряжения активного полосового фильтра заданной величины (наличие дефекта) включает элемент 8 индикации. После окончания разряда конденсатора 14 ключ закрывается, и цикл повторяется.

Использование предлагаемого дефектоскопа при экономном питании и малых габаритах позволит доводить величину тока через контролируемое изделие до значительных величин (100-200 А), что п и длительности импульса 5-10 10 с и скважности 500-1000 не приводит к нагреву образца. Таким образом, увеличивается соотношение полезный сигнал — шум и, следовательно, повышается точность контроля, Надежность дефектоскопа резко возрастает за счет контроля контакта токовых и потенциальных зондов с поверхностью контролируемого изделия, что практически исключает искрение. Кроме того, использование импульского тока повышает чувствительность дефектаскопа к поверхностным дефектам за счет скин-эффекта.

Формула изобретения

1. Электронный дефектоскоп, содержащий источник постоянного тока, первый и второй токовые зонды, первый и второй потенциальные зонды, связанные выводами с соответствующими входами первого селектора, элемент И и элемент индикации, о тл и ч а ю шийся тем, «то, с целью повышения точности и надежности дефектоскопа, в него введены активный полосовой фильтр, 5 два селектора и формирователь импульсов, подключенный входами питания к соответствующим выходам источника постоянного тока, первым и вторым выходами соответственно — к первому и второму токовым зон10 дам, а третьим выходом — к входу второго селектора, соединенного выходом с входом обнуления блока индикации и с первым входом элемента И, подключенного выходом к управляющему входу формирователя им15 пульсов, а вторым входом — к выходу первого селектора, выводы первого и второго потенциальных зондов связаны с соответствующими входами активного полосового фильтра, подключенного выходом к входу

20 третьего селектора, соединенного выходом с информационным входом элемента индикации.

2. Дефектоскоп по и. 1, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, формирователь импульсов со25 держит емкость, подключенную первым выводом к первому выводу резистора и к положительному выВоду тиристорного ключа, отрицательный и управляющий выводы которого являются соответственно вторым

30 выходом и управляющим входом формирователя, первый и второй выводы резистора являются соответственно третьим выходом . и положительным входом питания формирователя, второй вывод емкости является от35 рицательным входом питания и первым выходом формирователя.

1608550

Составитель А. Горбунов

Техред M.Ìoðãåíòàë Корректор Н.Король

Редакт р И.Горная

Заказ 612 Тираж 512 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5 роизводственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул,Гагарина, 101

Г, 875

1+

1

Электронный дефектоскоп Электронный дефектоскоп Электронный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающим способам контроля сплошности изолирующих покрытий на металлах преимущественно толщиной до 30 мкм

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения глубины поверхностных трещин в электропроводящем материале

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано во многих областях техники

Изобретение относится к измерительной технике и области неразрушающего контроля и может быть использовано при контроле качества диффузионной сварки слоистых конструкций

Изобретение относится к кондуктометрическим устройствам для измерения глубины поверхностных трещин в проводящих материалах и может быть использовано для контроля углеграфитных и углепластиковых композитных материалов

Изобретение относится к способам контроля дефектности полимерных покрытий на алюминиевых сплавах

Изобретение относится к средствам кондуктометрического контроля качества антикоррозионных покрытий и может быть использовано в гидротехнике, водоснабжении, газонефтеперерабатывающей и химической промышленности

Изобретение относится к дефектоскопии и может быть использовано в приборостроении

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к методам кондуктометрического конт

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения угла наклона поверхностных трещин в электроприводя1чих объектах

Изобретение относится к неразрушающему контролю электропроводящих изделий и может быть использовано в машиностроении для контроля толщины и качества упрочненных слоев конструкционных сталей, получаемых при термической и химико-термической обработке, а также для контроля металлизационных и гальванических покрытий

Изобретение относится к неразрушающему контролю объектов и может быть использовано для измерения параметров процесса коррозии металлов в электропроводящих жидких средах с целью диагностики состояния технологического оборудования и трубопроводов, используемых для переработки и транспортировки жидких электропроводящих сред, например нефти

Изобретение относится к области анализа материалов с использованием электрических средств, в частности измерения электрического сопротивления материалов, и может быть использовано при определении локальных дефектов изоляции электрического кабеля или металлических труб

Изобретение относится к неразрушающим способам определения механизма электрической проводимости, в частности на атомарном уровне, и может быть использовано при разработке новых изоляционных материалов с заданной протонной проводимостью, а также кристаллов, используемых в оптоэлектронике и лазерной технике

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к методам неразрушающего контроля стационарных конструкций, и может быть использовано для обнаружения локальных повреждений антенных мачт и других конструкций, используемых в том числе в составе систем вооружения и военной технике противовоздушной обороны

Изобретение относится к области измерительной техники и предназначено для измерения скорости распространения фронта трещины в магистральном газопроводе при его испытании на протяженное разрушение
Наверх