Устройство для двухпараметрового неразрушающего контроля изделий

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю качества материалов и изделий и может быть использовано в различных областях народного хозяйства для двухпараметрового контроля изделий, в частности для измерения толщины диэлектрического покрытия независимо от электромагнитных свойств основы Цель изобретения - повышение точности измерений в широком диапазоне вариаций контролируемого и подавляемого параметров изделия Цель достигается тем, что в устройство, содержащее последовательно соединенные генератор , преобразователь, блок обработки сигнала преобразователя и сумматор, вводится управляемый усилитель, вход которого подключен к второму выходу блока обработки сигнала, управляющий вход - к выходу сумматора, а выход - к второму входу сумматора. 1 з п. ф-лы, 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)ю G 01 В 7/06

ГОСУДАРСТВЕ ННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ИЕОИй," 6

И1Р111";- .« ЛЮБЯ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4637852/28 (22) 16.01.89 (46) 07,01.91. Бюл. N. 1

-(71) Московский энергетический институт (72) Е.Г. Беликов и Л.К. Тимаков (53) 620.179.142.5.6 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 905620, кл. G 01 В 7/06, 1982. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДВУХПАРАМЕТРОВОГО НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ

ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю качества материалов и изделий и может быть использовано в различных областях народного хозяйства для двухпаИзобретение относится к неразрушаю- щему контролю качества материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях народного хозяйства для двухпараметрового контроля изделий, например, для одновременного и независимого измерения толщины электропроводящего или диэлектрического покрытия и удельной электрической проводимости металлического немагнитного изделия,для измерения толщины диэлектрического покрытия неза- висимо от вариаций электромагнитных свойств основы из металла и т.п.

Цель изобретения — повышение точности измерений в широком диапазоне вариаций контролируемого и подавляемого параметров изделия за счет коррекции коэффициента усиления одного из параметров сигнала (фазы или амплитуды) в зависимости от величины измеряемого параметра, 5U„„1619007 А1 раметрового контроля изделий, в частности для измерения толщины диэлектрического покрытия независимо от электромагнитных свойств основы, Цель изобретения — повышение точности измерений в широком диапазоне вариаций контролируемого и подавляемого параметров изделия. Цель достигается тем, что в устройство, содержащее последовательно соединенные генератор, преобразователь, блок обработки сигнала преобразователя и сумматор, вводится управляемый усилитель, вход которого подключен к второму выходу блока обработки сигнала, управляющий вход — к выходу сумматора, а выход — к второму входу сумматора, 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

На чертеже представлена схема устройства для двухпараметрового неразрушающего контроля изделий, Устройство содержит последовательно соединенные генератор 1, вихретоковый преобразователь 2, блок 3 обработки сигнала преобразователя, второй вход которого соединен с генератором 1, сумматор 4 и управляемый усилитель 5. Вход управляемого усилителя 5 подключен к второму выходу блока обработки сигнала преобразователя 3, а выход — к второму входу сумматора 4.

Для обеспечения работы устройства в автоматическом режиме управляющий вход управляемого усилителя 5 может быть подключен к выходу сумматора. В противном случае управляющий вход является входом управления устройства и управляющий сигнал изменяется оператором в соответствии с заданными параметрами контролируемого изделия.

1619007

Составитель И. Кесоян

Техред M.Moðãåíòàë

Корректор T.Ïàëèé

Редактор Н.Бобкова

Заказ 35 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035,-Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Устройство для двухпараметрового вихретокового контроля изделий на примере решения задачи измерения толщины диэлектрического покрытия на любых (феррои неферромагнитном) металлах независимо от вариаций их электромагнитных свойств (удельной электрической проводимости и магнитной проницаемости) работает следующим образом, Генератор 1 питает током преобразователь 2, напряжение с выхода последнего подается на вход блока 3 обработки сигнала преобразователя, опорный сигнал на которь1й поступает с выхода генератора 1. С первого выхода блока 3 обработки сигнала напряжение, пропорциональное амплитуде (или фазе) вихретокового сигнала преобразователя, подаетсг а один из входов сумматора 4, с второго выхода блока 3 обработки си нала напряжение, пропорциональное фазе (или амплитуде) сигнала преобразователя, подается на второй вход сумматора 4 через управляемый усилитель

5. После суммирования на выходе сумматора 4 появляется напряжение, пропорциональное величине измеряемой толщинь.

Коэффициент передачи управляемого усилителя изменяют так, чтобы обеспечить минимальную погрешность измерений толщины. При этом управляемый усилитель 5 может иметь различную схемную реализацию, например в виде резистивной матрицы, набора компараторов или перепрограммируемого запоминающего устройства и т,п., а точность коэффи,иента передачи и, соответственно, результата измерения определяется количеством коэффициентов, которые используются в управляемом усилителе, Для работы в автоматическом режиме управляющий вход уп равляемого усилителя

5 подключают к выходу сумматора, выходное напряжение которого подается на управляющий вход управляемого усилителя 5, и изменяет его коэффициент передачи. Так, например, при измерении толщины диэлек10 трического покрытия Н (0,3;3j значение коэффициента К, обеспечивающего независимость результатов измерений от вариаций удельной электрической проводимости, лежит в диапазоне 1,45 — 1,55, при

15 этом погрешность измерения составляет

20А, Формула изобретения

1, Устройство для двухпараметрового

20 неразрушающего контроля изделий, содержащее последовательно соединенные генератор, преобразователь, блок обработки сигнала преобразователя, второй вход которого соединен с генератором, и сумматор, 25 отличающ . еся тем,что,сцелью повышения точности измерений в широком диапазоне вариаций контролируемого и подавляемого и,: аметров изделия, оно снабжено управляемым усилителем, вход

30 которого подключен к второму выходу блока обработки сигнала преобразователя, а выход — к второму входу сумматора, 2. Устройство по и. 1, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что управляющий вход управляе35 мого усилителя соединен с выходом сумматораа.

Устройство для двухпараметрового неразрушающего контроля изделий Устройство для двухпараметрового неразрушающего контроля изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения металлических покрытий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при восстановлении толщины медных покрытий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля толщины покрытия в процессе его нанесения

Изобретение относится к средствам электромагнитной толщинометрии и может быть использовано для контроля толщины крупногабаритных неферромагнитных изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных неферромагнитных объектов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти широкое применение во всех отраслях народного хозяйства, например, для одновременного и независимого контроля толщины слоев изделия с двухслойным гальваническим покрытием, толщины покрытия и удельной электропроводности основы изделия с плакирующим слоем покрытия

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для поверки и градуировки толщиномеров

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх