Способ определения дефектов на поверхности изделия

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения дефектов на деталях в машиностроении в гибких автоматизированных производствах. Целью изобретения является повышение достоверности определения дефектов за счет снижения влияния чистоты обработки и оптических свойств контролируемой поверхности в конкретных условиях контроля. На контролируемую поверхность направляют световой пучок, регистрируют зеркально отраженный световой поток и диффузно отраженный световой поток в нескольких характерных точках индикатриссы рассеяния, преобразуют их в электрические сигналы, усредняют во времени и ранжируют по амплитуде в последовательность 3, э, 1)1,...1Э1... w. одновременно эти электрические сигналы запоминают на время ранжирования t и преобразуют по алгоритму, определяемому из условия 1при 13 1э1 № «...«HdN 2при 13 «lai - ет Э1 I9N ; N k при I3 «Hat ... lai эм ; m при 3 Igi ... lai dN : где N -номер алгоритма; Ь-интенсивность зеркальной компоненты отраженного светового потока; Igi, Igi, laN - интенсивность диффузных компонент отраженного светового потока, по характерному для данного алгоритма сигналу регистрируют дефекты на контролируемой поверхности. 1 ил. ч W ё

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (!9) (! !) ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

k при 13 =1а! »... Ia i » la N:

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4413608/28 (22) 21.04.88 (46) 07.01.91. Бюл. hh 1 71) Тульский политехнический институт (72) П.А.Сорокин, И.А.Клусов, В.Л.Чистяков, В,П.Лущенко и М.М.Бабин (53) 531.715.27(088.8) (56) Заявка Великобритании М 1350189, кл, G 01 N 21/88, 1974. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФЕКТОВ

НА ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЯ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения дефектов на деталях в машиностроении в гибких автоматизированных . производствах. Целью изобретения является повышение достоверности определения дефектов за счет снижения влияния чистоты обработки и оптических свойств контролируемой поверхности в конкретных условиях контроля. На контролируемую поверхность направляют световой пучок, регистрируют зеркально отраженный световой поток и

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения дефектов на деталях в машиностроении в гибких автоматизированных производствах.

Целью изобретения является повышение достоверности определения дефектов за счет снижения влияния чистоты обработки и оптических свойств контролируемой поверхности в конкретных условиях контроля. (я)з G 01 и 21/88//G 01 В 11/30 диффузно отраженный световой поток в нескольких характерных точках индикатриссы рассеяния, преобразуют их в электрические сигналы, усредняют во времени и ранжируют по амплитуде в последовательность I,,, 1з, I Э1,. IaI .- IaN, одновременно эти электрические сигналы запоминают на время ранжирования t и преобразуют по алгоритму, определяемому из условия

1 при 13 =1э! =... = 1а1 =." = I a N:

2 при 13,= 1а 1 = .. = I ai > I a N, и! при 13 >1д1 » ° ° ° » Iai » IaN

М где N -номер алгоритма; 4-интенсивность Я зеркальной компоненты отраженного све-. тового потока; 131, 1у, 13N — интенсивность диффузных компонент отраженного светового потока, по характерному для данного алгоритма сигналу регистрируют дефекты на контролируемой поверхности. 1 ил.

На чертеже изображена принципиальная схема устройства для реализации способа определения дефектов на поверхности изделия.

Устройство содержит излучатель 1; фотоприемник 2 зеркальной составляющей отраженного света и фотоприемник 3 диффузной составляющей отраженного света, соединенные с входом преобразователякомпаратора 4, который выходом подключен к вычислительному блоку 5, связанному с блоком 6 постоянной памяти и

1619145 блоком 7 регистрации результатов контроля.

Способ осуществляется следующим образом.

На поверхность вращаемого (переме- 5 щаемого) контролируемого изделия 8 направляют световой поток от излучателя 1.

Фотоприемники 2 и 3 регистрируют соответственно зеркально и диффузно отраженные световые потоки в точках, 10 равноудаленных (для исключения влияния на отношение их амплитуд потерь в среде распространения и точной аппроксимации формы индикатриссы рассеяния) от точки падения светового потока на изделие 8 и 15 между собой. Амплитуды отраженных световых потоков в каждой точке, преобразованные в электрические сигналы фотоприемниками 2 и 3, усредняют во времени и сравнивают с амплитудами световых 20 потоков остальных точек в преобразователе-компараторе 4. По результатам сравнения амплитуд вычислительный блок 5 выбирает из блока 6 постоянной памяти программу, по которой определяют дефек- 25 ты на поверхности изделия 8.

Программа реализует алгоритм преобразования зеркальной и диффузной составляющих отраженного света, который обеспечивает наибольшую помехозащи- 30 щенность контроля в конкретных условиях.

Мерой оценки конкретных условий контроля, определяемых чистотой обработки поверхности контролируемого изделия 8 и оптическими свойствами его поверхностя- 35 ми, служит соотношение амплитуд отраженных световых потоков. Результаты контроля поверхности отображаются в блоке 7 регистрации.

Алгоритм определения дефектов на по- 40 верхности изделия 8 находится из условия

1 при I> "- 1д1 =... lal ... 1дд;

2 при 4 =131 =.. = 1 > IBM;

" при 1з =1д1 ° ° . » 1д! » 1дй;

Ф Ф

m при1з >1д1 » ° ° ° »1Э >>1дй где N — номер алгоритма преобразования;

l — интенсивность зеркальной компоненты отраженного потока;

1эу, 1эь 1ям — интенсивность диффузных компонент отраженного потока в точках регистрации.

Сравнение амплитуд отраженных световых потоков в каждой точке регистрации с амплитудами световых потоков остальных точек позволяет определять дефекты на поверхности по оптимальному для конкретного изделия алгоритму, снижающему влияние на результаты контроля чистоты обработк и оптических свойств поверхности иэделия 8, что повышает достоверность определения дефектов.

Формула изобретения

Способ определения дефектов на поверхности изделия; заключающийся в том, что направляют на контролируемую поверхность световой поток, регистрируют зеркально и диффузно отраженные световые потоки и определяют дефекты на поверхности изделия, отличающийся тем, что. с целью повышения достоверности определения дефектов, регистрацию зеркально и диффузно отраженных световых потоков производят в нескольких точках, равноудаленных от точки падения светового потока на изделие, сравнивают амплитуды отраженных световых потоков в каждой точке с амплитудами световых потоков остальных точек, а дефекты на поверхности определяют по результатам сравнения амплитуд.

1619145

Составитель Л. Лобэова

Техред М.Моргентал Корректор О. Кравцова

Редактор Л. Гратилло

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 42 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5