Фотометрический способ определения качества полировки оптических прозрачных деталей

 

Изобретение относи гея к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества полировки поверхностей оптических прозрачньгх деталей. Петь изобретения - повышение точности определения высоты шероховатости за счет учета доли дифсЬуиюго отражения и пропускания , которая выходит за предеаы фотометрического шара вместе с регулярной составляющей, а также информативности способа за счет определения длин корреляций и параметров нарушенного механической обработкой приповерхностного слоя. Поочередно направляют на рабочие поверхности детали монохроматический поток излучения измеряют для каждой поверхности коэффициенты S, и Я диффузного отражения и коэффициенты Г, и 0 диффузного пропускания при различных рлчморах входного (выходного) отверстия фотометрического пара и опреденяют отношения Я 1 и S, диЛ- фузного потока от приповерхностного слоя к оГниему дпффучному потоку для каждой из исследуемых поверхностей, высоты шероховатостей RCK и RCKZ длины корреляций 1 j и 1 по формулам . 1 ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (И) А1 (51)5 С 01 В 11/30

Ь

Г>»1<

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

На чертеже изображена принципиальНаЯ СХЕМЛ УСтРОйСтяа ДЛЯ оСУ>>»ЕСтВЛЕния предллглемого способа.

Устройство содерж»1т источник 1 монохромлтического излучения (лазер), фотометри >еский шлр 2 с отверстиями 3-5, фотоприемник 6. Индексом 7 обознлч нл деталь с измерие" мыми понерхностями 8 и 9.

Способ осу»>(ествляют следуюг»1»м обГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

llO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И OTHPblTHRM

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21 ) 44 53038 /? 8 (22) 23.05.88 (46) 15.0?.91. I>f<>J». Р 6 (72) F..A.Несмел<>н и A.Г.Афлнлсьева (53) 531.715,:7(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М - 1397727, кл. (: 01 В 11/30, 12,12.8f>. (54 ) <»>OTOM F ÒÐII>11 .(: ЕИЙ СII(f(;() I> ППРЕ> IF.—

ЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПО>111Р(1ВКИ 0ПТ11ЧЕСКИХ

I1P03PAfIHhE JIF TAJIF II (57) Изобретеьч»е относится к измерительной технике и может быть использовано для контроли качества полировки поверхностей оптических про 1 рлчных деталей. Пель изобретении повьш<ение точности определения высоты шеро ..AHëòîñòè зл счет учета доли диффузного отражения и пролусклния, которая выходнт зл пределы фоИзобретение относится к измери-" тельной технике и может быть использовано для контроля качества полированны.< поверхностей оптически прозрачных деталей.

Пель изобретения — повышение точности определения высоты шероховатости за счет учета доли диффузного отражении и пропусклния, которая выходит за пределы фотометрического шара вместе с регулярной составляющей, а также информативности способа за счет определения длш» корреляций и параметров нарушенного механической обработкой приповерхностного слоя. тометрического шара вместе с pe» улярной составляющей, л тлкже информативности способа за счет определения длин корреляций и плрлметроп нарушенного механической обрлботкой приповерхностпого слоя. Поочередно направляют нл рлбочие поверхности детали монохромлтический поток излучения измеряют для клждой поверхностии коэффициенты 8 1 и 82 ди<1><1>уз» ного Отр;>жения 11 коз<>><»и1»иР11ты < 1 11 дид><1>узного пропусклния при рлз2 личных»>лиме рлх входного (выходного) отверстия фотометри<>еского юлрл и опре»>еляют nT»f<>mefffff» S» 11 S2, диффузного потока от приповерхностного слоя к об»чему диффу >ному потоку для каждой нз исследуемых поверхностей, высоты шероховатостей R « и R;><2 длинь! кор)> еляций 1» f(1 2 11<> <>>ор мулам. 1 ил. разом.

Ионохроматически»» пучок излучения от источника 1 направляют перпендикулярно к поверхности 8 детлли 7, установленной вплотную за отверстием

16? 7830

Ъ "1

1 — ехр — .Р() ) - з (0 )

4«(2N 1 1

1=1 (3 ) sin 7, ,ы>п )> ) J >

11 2 ..21. р (q,) „. 2), N2@()j)sin 4 — ((. (0 )%sin kg

NP в1п>,)((з;1 2,) )z j ) 2). — - 2

> г»с» >> -г>.» д„„ >

411 ) N+sinsgj — sin zgj )2

2 где

N длина волны зондирующего излучения, половина угла ко»усл светового потокл, гыходящего из фотометрического шара, ч»гчо углов, выбранных для выводл излучения из плрл номер выбранного угла

P, = 1n5<, P = 1nGg р

+ ) + (+ )+ b(P t) — — ") — O(P(P2) 2 "1

2 Г,> д ) b(p + () < n) () ) — 4(<2-а>, )) (n-1) (и+>) еломления детаг2

50 2 (n-1) (1-r) (1+r) 1+r

8пг 2(n-1) 1-г

z а

8nr и — показатель пр

«ли

Г, = — (2g,(Q ) -2n(» kg

4; Зеркально отраженная часть потока через отверстие 3 отводится в пространство вне фотометрического шара 2.

Дид)фуэно отраженное от поверхности 8 излучение попадает в фотометрический шар 2, где о»о интегрируется и создает нл прнсм»ой »»верх»ости фото»риемникл 6 че(><"1 отверстие 5 ос век.е»»ость, пропорциональную коэффициенту О, диф-0 фузно отраженного от поверхности 8 иэлуче»»я ° Затем образец 7 переворачивают и л»алогично с>пределяют коэффициент ) д»ффузно отраженного излучения от поверхности 9.

Далее дс таль 7 помещают между истО llllll: .1 1 <1:1.(1 (Е»»я Н От»ЕрСтИЕМ 3

l((lР <1 IJ In Ill » <) II< .(> II()»I<<(HJII>»O>ig lIOJIO)I((ill(> jI(I nJIII, ((ри эт<)м регуляр»о прошедшее чере l Ji(-..тл.п 7 излучение отv<»iIIт <:я:ере от»с рст»е 4 в простр,(»ство 11»» фс тометрического пара 2. ,»11(!)()уз((о прохо„-(я(>();е через детлль 7 потоки излучения раздельно с обеих е поверхностей. 8 и 9 интегрируются в фотометрическом шаре 2 и создают на приемной поверхности фотоприемника 6 через отверстие 5 освещенности, пропорциональные коэффициенты с,(и соответствующим диффузно проходящим через деталь 7 излучениям. Затем изменяют величину отверстия 3 (т.е. угол ) выходящего из фотометрического пара 2 излучения) и повторяют все измерения.

Измерения P» Pz, С, и С проводят по крайне» мере при четырех значениях размера входного (выходного) отверстия фотометр»ческого шара и определяют высоты R oz, и R ri(z шероxoватостей,;лины (и 1rZ корреляций, а также д»ффузные пот(ки Г и Г от приповерхност»ьгх слоев »о формулам

1627830

1 Г (1«. 2 (Г ()2 + ((+ "2) Р,(P(+ Р2

"2) "(г с|Ы1 6! *) .

h(1+r — r ) 8 8n(1+r 2- r )

h

1 (1-r)

Г + (— R ) < скс

Г2

4((2

ГЮ + (9 RCK2) 25, -Д () sin 3 «-(Р, (3 )) ..) ) А )(. я @,(), sin «j -Z@z (Y) ) р 2Ы 2()) 3 ЫХ. 1 (т ° .)2

1. (1

R с К1 4 „ 1 ск2 4(Q P((g j ) s i n

1

4((2

Ъ

4к (P, = 1nG(, Р = 1nG g (а((), + ()с + с, + сс)+ (() (2 (a(I), +

)+ b() + й

2 г (n-1) 2(n-1)(1-ã) к (n+1) 1-г

b = с

8пг 8nr

1+г

2 (n-1) г определяют отношения S „ S дифй фузного потока от приповерхностного слоя к обг(ему диффузному потоку

15 для каждой иэ исследуемых поверхностей детали по формулам: и" зн "(е н ям RcK ск 1 < 12

S и S < судят о качестве п()лировки детали.

Ф о р м у л л и э о б р е т е и и я

Фотометрический способ определения качества полировки оптических прозрачных )(сталей(, злключлюшийся в том, что нлправляют на поверхности детали монохроматический поток излучения, измеряют с помо((ью фотометрического шлрл энергетические коэффициенты ()(и (к диф()уэно отраженных и ь(и (.> диффузно пропул л щенных потоков для каждой из поверхностей детали, определяют высоты

R cK u R cK< шероховатостей и судят о качестве полировки детали, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения высоты шероховатости за счет учета до и(диффузного отражения и пропускания, которля выходит зл пределы шара вместе с регулярной составляющей, л также информативности способа за счет определения длин корреляций и плрлмстров нлрушенного механической обрлботкой приповерхностного слоя, измерения энергетических коэАд)ищиентов Я((02, (.) проводят по крлйней мере при четырех значениях пло((лди отверстия фотометрическог(« г(ëðn и определяют высоты Р,.„, и Р ск2 иероховлтостей, длины 1 и ) корреляций и параметры S q и S(),вдруг)енного механической обработкой приповсрхностног() слоя по формулам

1á27830

1 р.. г Г1.й, () )з пЧ) — Е У, (9 ).KsinЧ) }, Г1 — Г1 (j в и ) Г1 з1и — (sinzQ ° ) 2 7 г ч . 1 "4- z(х-Л

Г = Г1 (1j) х ) g gj, — (* )2 у

1 — + z g p< pz. " а " <ð " ), 1

1 2 L (! 2 " "2 " (! (1 Г 2) "2 К )() h

1 (1-r)

3 п

Г

Я "СК1 тали, значениям Рск Нск, 1,, 12 и S и S 2 судят о качестве полировки детали.

Гг

S) г

41 27

+ (— R ) ск2

СocTëâèтеиь Л.Лобэова

Редактор 18. Середа Техред Г1.Дидык Корректор H.Ревская

Заказ 330 Тираж 381 Подписное

ВНИИПИ Государстве нного ко а т та ио изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Г1о ква, iK-35, Раушская наб., д, 4/5

11 ч

Производственно-иэдате Ibc кий к-мбинат Патент, r Ужгород, ул. Гагарина, 101 (- .й- 5

h(1+ rz- r ) 8 8n(1+rz rz) г 1

I длина волны излучения, половина угла конуса светового потока, выходящего из

Лотометрического шара, число углов, выбранных для вывода излучения из шара, номер выбранного угла; показатель преломления де

Фотометрический способ определения качества полировки оптических прозрачных деталей Фотометрический способ определения качества полировки оптических прозрачных деталей Фотометрический способ определения качества полировки оптических прозрачных деталей Фотометрический способ определения качества полировки оптических прозрачных деталей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной текнике и предназначено для контроля качества обработки поверхности изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения параметров шероховатости оптической поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля дефектов на поверхностях движущейся ленты при перемотке рулонов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения профиля шероховатости поверхности в машиностроении, оптическом приборостроении и т.д

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения субмикронной шероховатости поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения шероховатости поверхности и эрозионного износа выходных кромок турбинных лопаток

Изобретение относится к измерительйой технике и может быть испольдля бесконтактного измерения 13.1 (71) Заявитель(и): ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ИМ.Л.В.КИРЕНСКОГО (72) Автор(ы): КАБАНОВ ИВАН СТЕПАНОВИЧ,ПОДОПРИГОРА ВЛАДИМИР ГЕОРГИЕВИЧ,СУРГУТАНОВ ИГОРЬ ВЛАДИМИРОВИЧ,КОРБАН НИКОЛАЙ ПАВЛОВИЧ (54) Устройство для измерения шероховатости поверхности изделий (57) Реферат: Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения двух параметров шероховатости полированных поверхностей непрозрачных и прозрачных изделий

Изобретение относится к измерительной технике в области геофизических исследований и может найти применение для решения задач профилометрии, т.е.там, где необходима информация о параметрах шероховатости поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, приборостроении и оптической промышленности для бесконтактного контроля качества прецизионной обработки поверхностей изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля качества поверхностей изделий

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх