Способ измерения коэффициента теплопроводности полупроводникового образца

 

Изобретение относится к методам экспериментального измерения коэффициента теплопроводности образцов полупроводниковых материалов. Цель изобретения - снижение погрешности измерений. Цель достигается путем пропускания теплового потока через теплоконтактную грань, учета и измерения параметров, определяющих интенсивность теплового взаимодействия поверхности образца с внешней средой, измерения геометрических размеров образца и электрических сигналов, несущих информацию о температурах граней образца и внешней среды, достигается тем, что всю поверхность образца, кроме теплоконтактной грани, вводят в теплообмен с внешней средой, замеряют интенсивность теплообмена в виде коэффициента теплоотдачи, измеряют величины электрических сигналов, определяющих разности температур между теплоконтактной гранью и внешней средой, а также между свободной гранью образца, параллельной теплоконтактной, и внешней средой, а по отношению величин разностных сигналов судят, используя предварительно измеренное значение коэффициента теплоотдачи, о величине коэффициента теплопроводности. I з.п,ф-лы, 1 ил. оо SS ел GO

союз советсних социАлистичесних

РЕСПУБЛИК

А1 (19) (11) (g1)g G 0l N 25/18 фi.(Щюс р <

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ! ип, ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЬП ИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4647441/25 (22) 26. 12. 88 (46) 23. 03 ° 91. Бюл. К - 11 (71) Специальное конструкторское бюро "Теллур". с опытным производством

Института физики АН АЗССР (72) А.И,Грядунов (53) 536. 6 (088, 8)

1 (56) Теплопроводность твердых тел.

Справочник, /Под ред. А. С. Охотина. — M.: Энергоатомиздаг, 1984, с. 45, Охотин А, С. Теплофизические свойства полупроводников. — M.: Атомиздат, 1972, с, 75. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА

ТЕПЛОПРОВОДНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО

ОБРАЗЦА (57) Изобретение относится к методам экспериментального измерения коэффициента теплопроводности образцов полупроводниковых материалов. Цель изобретения — снижение погрешности измерений. Цель достигается путем пропускания теплового потока через

Изобретение о тносится к методам экспериментального измерения коэффициента теплопроводности образцов полупроводниковых матери ало в.

Цель изобретения — снижение погрешности измерения,.

На чертеже изображена схема устройства, реапизукщего предлагаемый способ. теплоконтактную грань, учета и измерения параметров, определяющих интенсивность теплового взаимодействия поверхности образца с внешней средой, измерения геометрических размеров образца и электрических сигналов, несущих информацию о температурах граней образца и внешней среды, достигается тем, что всю поверхность образца, кроме теплокантактной грани, вводят в теплообмен с внешней средой, замеряют интенсивность теплообмена в виде коэффициента теплоотдачи, измеряют величины электрических сигналов, определяющих разности температур между теплоконтактной гранью и внешней средой, а также между свободной

I гранью образца, параллельной теплоконтактной, и внешней средой, а по отношению величин разностных сигналов судят, используя предварительно измеренное значение коэффициента теппоотдачи, о величине коэффициента теплопроводности. l з. и, ф-лы, Образец I по одной предварительно прошлифов анной гр ани 2, являющейся теплоконтактной, установлен на теплоконтактной плоскости корпуса 3 градиентной печи 4. Через печь 4 про-. пущены прогода первой термопары 5, пер» вый спай которой установлен в отверстии теплоконтактной стенки корцуса

3 с обеспечением хорошего теплового

6753 где

К О к,у и к4н -т(о) -т„

3 163 контакта через тонкий электроизолирующий слой с теппоконтактной гранью 2 образца !. Первый спай второй термопары 6 установлен на свободной грани

7 образца 1. Вторые спаи термопар

5 и 6 размещены в среде, окружающей образец 1. Свободные концы термопар

5 и 6 соединены с противоположными плечами резистивного моста 8, в других плечах моста установлена эталонное сопротивление 9 величиной Rg и прецизионное переменное сопротивление !0 величиной R4, в диагональ моста 8 встроен гааьванометр 11 и кнопка 12, В состав устройства входит прибор для определения коэффициента теппоотдачи (не показан).

Способ осуществляют следующим образом. 20

Включают градиентную печь 4 и одновремейно«обеспечивают теплообмен с постоянным коэффициентом теппоотдачи на боковой поверхности образца и свободной грани 7, осуществляемый по- 25 средством создания потока газовой cpe+hi ° .окружающей образец. Иеэ RBHcHMblM образцом измеряют коэффициент теппоотдачи между поверхностью тела и потоком газа, который обеспечивается при 30 помощи вентилятора, расположенного в канале воэдуховода. Определяют отношение Y ..сигналов на концах первой и второй термопар 5 и 6. Используя значения размеров образца и коэффициента теппоотдачи, измерения которого производятся одновременно с измерениями теппопроводности образца МОЕ, определяют значение последнего по формуле 40

Р! ф --- --- ot ч s где. l — высота образца, т.е. расстояние между гранями, между которыми и внешней средой измеряются разности температур;

Р и S - периметр и площадь поперечного сечения образца; коэффициент теплоотдачи меж- 50 ду поверхностью и внешней средой, измерения которого проводятся одновременно с намерением коэффициента теплопронодностн Образца; 55

МОрень трюнецендентного у!3 ен йенйя

Ч ваМ+.к. Y IhY, Р! !!U -т(1)-т .

Здесь т(0) - температура теппоконтактной грани образца; т(1) " температура свободной грани образца, параллельной теплоконтактной; т " температура внешней среды«е

Ug и U измеряемые величины разностних электрических сигналов, определякщие разности температур между внешней средой и, соответственно, теплоконтактной и свободной граня ми;

К< и К " коэффициенты, определяющие преобразование величинн из меря емких р аэ но стных электрических сигналов в информации о разностях температур между внешней средой и, соответственно, теплоконтактной и свободной гранями.

Для снижения погрешности измерения коэффициента теплопроводности путем повышения точности определения отношения g величину последнего определяют по отношению величины переменного сопротивления R g к величине эталонного R< при балансе резистивного моста 7 в соответствии с формулой .!

К Ri

К2 <

При использовании термопар с одинаковым коэффициентом термоЭДС отноше" нне Р /R< и есть, в других случаях отношение К /К входит в постоянную экспериментальной установки, определяемой на стадии ее тарировки.

Таким образом, в предлагаемом методе измерения коэффициента теплопроводности полупроводникового образца нет необходимости в иэмерении величин тепловых потоков, проходящих через образец. Более того, измерение величин электрических сигналов, определяющих перепад температур на Образце, снодФтся к измерению Релнчнны пере менного сопротивления R < прн балансе

Яезпстйюного мостllв Проведение Цикле где

К 0 =Т(l) -Тс, 5 163675 экспериментальных измерений по предла" гаемому способу отличается экспериментальной простотой с малой постоянной времени, определяемой длительнос" тью установления стационарного температурного поля в образце.

Предлагаемый метод, отличаясь достаточной то чност ью и экспре с с иост ью, может найти применение в практике 10 экспериментальных исследований физических свойств полупроводниковых материалов, проводятся одновременно с измерением коэффициента теплопроводности образ ца;

" корень трансцендентного уравнения

М =ctlY + "- 1 зп (S

Р!

К v )

«е ) к ю

К1114 Т(о) Тс в формул а изобретения

1. Способ измерения коэффициента теплопроводности полупроводникового образца путем пропускания теплового потока через теплоконтактную грань, 20 учета и измерения параметров, определяющих интенсивность теплообмена поверхности образца с внешней средой, измерения геометрических размеров образэ ца и электриче ских сигналов, не25 сущих информацию о температурах граней образца и внешней среды, о т л ич ающийс я тем, что, с целью снижения погрешности измерений, всю поверхность образца, кроме теплоконтактной грани, вводят в теплообмен с внешней средой с постоянным коэффициентом теплоотдачи, измеряют коэффициент теплоотдачи и величины электрических сигналов, определяющих разности температур между теплоконтактной 35 гранью и внешней средой, а также между свободной гранью образца, параллельной теплококтактной, и внешней средой, путе м о предел ения т ер моЭДС термопар и по измеренным эначе ниям 40 коэффициент теплопроводности вычисляют по формуле

1 Pl 9

--- с( оь — „ 5 ° где 1 - высота образца, т, е. расстояние между гранямк, между которыми и внешней средой измеряются разности температур 1

P u S - периметр и площадь поперечного сечения образца; коэффициент теппоотдачи между поверхностью и внешней средой, измерения которого где К и К вЂ” коэффициенты, определякщие преобразование величин измеряемых разностных сигналов в информации о разнос".ях те мпе р атур между внешней средой и соответственно теплоконтактной н свободной rp аня ми;

U q. измеряемые величины разностных электрических си гналов, определяющие разности температур между внешней средой и соответственно теплоконтактной и свободной rp анями;

Т(О) - температура теплоконтактной грани образца;

Т(1) " темперагура свооодной гр ани о бр азц а, пар аллельной теплоконтактной;

Т - температура внешней среды.

2. Способ по и. 1, о т л и ч а ю— шийся тем, что электрические сигналы, определяющие разности температур, подают в одни противоположные глечи реэистивного моста, меняют величины сопротивлений в других противоположных плечах и балансируют мост, при этом отношение величин разно стных сигналов для вычисления теглопроводности определяют по формуле

K(R где R и К, - величины сопротивлений

1 в противоположных плечах ур ав но веше пи о го резистивного моста.

1636753

Корректор Л Пилипенко

Редактор Л.Зайцева

Заказ 812 Тираж 388 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Составитель Н. Грищенко

Те хред М. Дидык

11

Способ измерения коэффициента теплопроводности полупроводникового образца Способ измерения коэффициента теплопроводности полупроводникового образца Способ измерения коэффициента теплопроводности полупроводникового образца Способ измерения коэффициента теплопроводности полупроводникового образца 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к экспериментальной теплофизике и может быть использовано для определения теплои температуропроводности материалов неразрушающим методом

Изобретение относится к экспериментальной теплофизике и может быть использовано для определения теплоемкости , теплопроводности и температуропроводности материалов

Изобретение относится к области тепловых испытаний жидкостей, а именно к области определения их температуропроводностей

Изобретение относится к экспериментальной технике измерения теплофизических свойств веществ и материалов

Изобретение относится к тепловым испытаниям

Изобретение относится к теплофизическим измерениям и может быть использовано при измерении теплофизических характеристик материалов

Изобретение относится к области тепловых испытаний, а именно к области измерений теплопроводности жидкостей

Изобретение относится к области тепловых испытаний, а именно к измерению теплофизических свойств материалов

Изобретение относится к технической физике, в частности к теплофизическим измерениям

Изобретение относится к области теплофизических измерений и может быть использовано в тех отраслях, где требуется определение теплопроводности объемных, тонкослойных и пленочных, в том числе обладающих анизотропией теплопроводности, материалов

Изобретение относится к области технической физики

Изобретение относится к технической физике, а именно к области исследований теплофизических свойств веществ

Изобретение относится к области теплофизических измерений и может быть использовано для определения теплофизических свойств жидкостей и газов, в том числе и в быстропротекающих и необратимых процессах, в потоках при неустановившемся режиме и т.п., а также для измерения нестационарных температур (скоростей)

Изобретение относится к строительной теплотехнике, в частности к измерениям теплофизических характеристик (ТФХ) многослойных ограждающих конструкций (наружных перекрытий, перегородок, покрытий, полов и т.п.)

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для определения теплофизических характеристик материалов
Наверх