Способ спектрального анализа электромагнитного излучения

 

Изобретение относится к оптическому приборостроению. Целью изобретения является повышение производительности спектрального анализа при одновременном расширении диапазона частот анализируемого электромагнитного излучения. Электромагнитное излучение диспергируют на возбужденной на подложке поверхностной акустической волне. Диспергированные монохроматические компоненты детектируют . Рабочую частоту f поверхностной акустической волны выбирают из выражения f 1/4 vv/c , где v - скорость распространения поверхностной акустической волны в подложке; v- заданная частота электромагнитного излучения; с - скорость света. Используя возбуждение поверхностных акустических волн на гармониках основной частоты, можно проводить спектральный анализ с очень малыми длинами волн,3 ил. сл С

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 6 01 J 3/12

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР .

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4375216/25 (22) 10.02.88 (46) 15.04.91. Бюл. N 14 (71) Таджикский государственный университет им, В.И.Ленина (72) В.И.Кучеров, В.Г.Гафуров, Л.И.Заяц, В.Н.Банков, А.К»Джинчарадзе и Л.В.Орлова (53) 535.853 (088.8) (56) Свечников Г,С. Элементы интегральной оптики. M.: 1987, с.93-99.

Патент Великобритании

N 2089496, кл. G 01 J 3/26, 1982. (54) СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА

ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ (57) Изобретение относится к оптическому приборостроению. Целью изобретения является повышение производительности

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению.

Целью изобретения является повышение производительности спектрального анализа при одновременном расширении диапазона частот анализируемого электромагнитного излучения.

На фиг. 1 и 2 показаны блок-схемы уст-. ройства для осуществления предлагаемого способа; на фиг, 3 — вариант выполнения подложки с акустоэлектронными преобразователями.

Устройство содержит подложку 1, на рабочей грани которой расположены первый и второй акустоэлектронные преобразователи 2 и 3 поверхностных акустических волн (ПАВ), фазоинвертор 4, перестраиваемый генератор 5 высокочастотных электриче„„5U„„1642262 Al спектрального анализа при одновременном расширении диапазона частот анализируемого электромагнитного излучения. Электромагнитное излучение диспергируют на возбужденной на подложке поверхностной акустической волне. Диспергированные монохроматические компоненты детектируют, Рабочую частоту f. поверхностной акустической волны выбирают из выражения f = 1/4 v.v/c, где v — скорость распространения поверхностной акустической волны в подложке; v- заданная частота электромагнитного излучения; с — скорость света. Используя возбуждение поверхностных акустических волн на гармониках основной частоты, можно проводить спектральный анализ с очень малыми длинами волн. 3 ил. ских сигналов, оптоэлектронный преобразователь 6, источник 7 анализируемого электромагнитного излучения, оптоэлектронный преобразователь 8, блоки 9 и 10 перестройки, фокусирующую систему 11, диафрагму 12 и блок 13 ключей. Акустоэлектронные преобразователи 2 и 3 могут быть выполнены, например, в виде призм из

-плавленого кварца, на наклонной грани каждой из которых размещен пьезоэлемент, выполненный в виде снабженной возбуждающими электродами пластины из

"сильного" пьезоэлектрика, например из пьезокерамики (фиг.1). В этом случае подложка 1 может быть выполнена из любого твердого материала, отвечающего требованиям малого температурного коэффициента расширения и малого температурного коэф1642262 фициента задержки сигнала. Акустоэлектронные преобразователи 2 и 3 ПАВ могут быть выполнены каждый, например, в виде встречно-штыревой структуры, представляющей собой две вставленные друг в друга гребенки однофазных штыревых электродов, например, в виде полос алюминия (фиг.2). Подложка 1 при этом должна быть выполнена из пьезоэлектрического материала, например, из монокристаллического кварца, ниобата лития, Акустоэлектронные преобразователи 2 и 3 могут быть снабжены блоками 9 и 10 перестройки их рабочей частоты, соответствующей частоте акустического синхронизма, например в виде реактивного элемента с изменяемой величиной реактивности. При этом перестраиваемый генератор 5 высокочастотных электрических сигналов и блоки 9 и 10 перестройки могут быть связаны с одним верньером. Фаэоинвертор 4 может быть выполнен, например, в виде транзисторного усилительного каскада. Оптоэлектронный преобразователь 6 может быть выполнен в виде фотодиода при работе в ультрафиолетовой и видимой областях спектра, в виде термистора — при работе в инфракрасном диапазоне.

Устройство может быть также снабжено блоком светофильтров, размещенных на выходе источника 7. Блок светофильтров может быть механически связан с верньером генератора 5.

Способ осуществляют следующим образом, В подложке 1 возбуждают стоячую ПАВ и направляют анализируемое электромагнитное излучение от источника 7 на диспергирующую область рабочей грани подложки

1, на которой имеются чередующиеся пучности и,узлы стоячей ПАВ. Рабочую частоту

ПАВ выбирают из выражения

f = — 1.v(C

4 где v — скорость распространения ПАВ в подложке 1; v — заданная частота электромагнитного излучения; с — скорость света, Частоту f задают генератором 5. При подаче на первый акустоэлектронный преобразователь 2 (фиг.1 и 2) переменного электрического напряжения от перестраиваемого генератора 5 высокочастотных электрических сигналов по рабочей грани подложки 1 распространяется ПАВ в сторону второго преобразователя 3. Поскольку акустоэлектронные преобразователи 2 и 3 связаны через фазоинвертор 4, от второго акустоэлектронного преобразователя 3 в сторону первого акустоэлектронного преобразователя 2 также распостраняется ПАВ, В

40 результате синфазного сложения двух бегу- . щих ПАВ образуется стоячая ПАВ с зафиксированными чередующимися пучностями и узлами. Анализируемое электромагнитное излучение, выходящее из окна источника 7, проходит через фокусирующую систему 11 и диафрагму 12, которые обеспечивают падение электромагнитного излучения на часть рабочей грани подложки 1, т.е, на ее диспергирующую область. Период пространственного расположения пучностей и узлов определяе-,ся частотой акустического синхронизма акустоэлектронных преобразователей 2 и 3 и может изменяться в пределах их полосы пропускания при изменении частоты перестраиваемого генератора 5, С помощью блоков 9 и 10 перестройки величина перестройки может быть увеличена. При размещении на подложке

1 в параллельных акустических каналах нескольких акустоэлектронных преобразователей 2 и того же числа акустоэлектронных преобразователей 3, настроенных на соответствующие частоты, обеспечивается дискретное изменение периода пространственного расположения пучностей и узлов стоячей ПАВ с помощью блока 13 ключей. Поскольку стабильность генератора 5 может быть обеспечена высокой (10 и лучше), обеспечивается исключительно высокая точность установки периода пространственного расположения узлов и пучностей, на два — три порядка превышающая точность установки периода расположения штыревых электродов (фиг.2), что позволяет осуществить контролируемую подстройку частоты генератора 5.

Используя возбуждение ПАВ на гармониках основной частоты акустоэлектронных преобразователей можно проводить спектральный анализ электромагнитного излучения с очень малыми длинами волн, существенно менее 250 нм.

Формула изобретения

Способ спектрального анализа электромагнитного излучения, включающий диспергирование электромагнитного излучения на возбужденной на подложке поверхностной акустической волне и детектирование диспергированных монохроматических компонент электромагнитного излучения, о тличающийся тем,что,сцелью повышения производительности спектрального анализа при одновременном расширении диапазона частот анализируемого электромагнитного излучения, на подложке возбуждают стоячую поверхностную акустическую волну с регулируемым периодом, а рабочая частота f стоячей поверхностной

1642262 акустической волны удовлетворяет соотношению

1 ч

f = — v

4 с где v — скорость распространения поверх1 ностной акустической волны в подложке;

v — заданная частота электромагнитного излучения; с — скорость света. т

1642262

ФигЗ

Составитель С. Иванов

Редактор Ю. Середа Техред M.Ìîðråíòàë Koppemop M. o®o

Заказ 1139 Тираж 341 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35,.Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ спектрального анализа электромагнитного излучения Способ спектрального анализа электромагнитного излучения Способ спектрального анализа электромагнитного излучения Способ спектрального анализа электромагнитного излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению Целью изобретения является повышение разрешения Излучение проходит входной растр 3, размещенный на плоском торце волоконной линзы 2„ На этом же торце размещен выходной подвижный растр 5 На выходе волоконной линзы 2 установлен пакет 1 пленарных, световодов о Этот пакет передает излучение на дифракционную решетку ч, выполненную цилиндрической Дифрагированное излучение опять попадает в пакет 1 планарных световодов н через второй торец волоконной линзы 2 идет к выхолно.ту растру 50 Зторой -орел ..нчы 2 и форма пакета 1 соотве - к л гу Роуланда решетки +: В приборе отсутствуют астигматизм чсех порядке}, искривление растров и earn т алы-, а-1 кома В интегральном лслолт ши прибор компактен и портативен 2 м.. ФАКСИМИЛЬНОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕБиблиография:Страница 1Реферат:Страница 1Формула:Страница 2 Страница 3Описание:Страница 3Рисунки:Страница 3 PA4A/PA4F - Прекращение действия авторского свидетельства СССР на изобретение на территории Российской Федерации и выдача патента Российской Федерации на изобретение на оставшийся срок Номер и год публикации бюллетеня: 27-1993 (73) Патентообладатель: ИСАКОВ В.В

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к спектральному анализу и может найти применение при проведении эмиссионных и атомно-абсорбционных измерений с использованием многоэлементных фотоприемников

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано в различных оптических приборах для селекции спектральных линий

Изобретение относится к оптическому приборостроению

Изобретение относится к области спектроскопии

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к спектрофотометрии

Изобретение относится к автоматике и может быть использовано для автоматизированной регистрации спектров поглощения и люминесценции

Изобретение относится к области оптического приборостроения

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению, Целью изобретения является увеличение светосилы путем уменьшения потерь светового потока, обусловленных аберрациями

Изобретение относится к астрономической оптике и предназначено для фотографирования Солнца в монохроматических лучах
Наверх