Способ контроля радиусов кривизны оптических деталей

 

1. Способ контроля радиусов кривизны оптических деталей, заключающийся в том, что формируют коллимированный пучок излучения, устанавливают эталонный оптический элемент, освещают деталь, перемещают ее вдоль оптической оси, измеряют расстояние l между эталонным оптическим элементом и деталью и рассчитывают радиус R кривизны детали, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля деталей с малой апертурой, в качестве эталонного оптического элемента используют плоское зеркало с двумя отверстиями, одно из которых - в центре зеркала, устанавливают зеркало отражающей поверхностью к детали, освещают деталь через второе отверстие в зеркале, совмещают точку пересечения оптической оси освещающего пучка и отраженного от детали в плоскости зеркала и измеряют радиус r зоны контроля на детали и число n следов пучка излучения на детали, а радиус R кривизны детали рассчитывают по формуле

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что второе отверстие в зеркале выполнено на расстоянии 0,25-0,45 светового диаметра детали от первого отверстия.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля плоскостности оптических деталей

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля качества линз и объективов в производстве, занятом их изготовлением , Цель изобретения - повышение чувствительности контроля за счет увеличения контраста интерференционных полос

Изобретение относится к измерительной технике, к измерению размеров чувствительных площадок приемников электромагнитного излучения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения рельефа поверхности объекта

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля вогнутых эллипсоидов и параболоидов с рабочей центральной зоной и большими относительными отверстиями

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы шлифованных и полированных сферических и ас-- ферическпх поверхностей

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля формы поверхности изделий для определения их отклонения от заданной

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в авиаи судостроении

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля формы поверхности вогнутых асферических зеркал крупных телескопов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля крупногабаритных объектов, в частности в авиационной промышленности и судостроении

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактных измерений профиля деталей типа тел вращения, а также слабой волнистости поверхности в виде пространственной функции

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля технического состояния рельсового подвижного состава

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса
Наверх