Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для контроля асферических линз в процессе их обработки. Целью изобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в условиях серийного производства. Устройство содержит источник 4 излучения, точечную диафрагму 5, компенсатор 6, контролируемую линзу 3 и анализатор 7 оптического изображения. Контролируемая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка, причем компенсатор, диафрагма и источник излучения установлены в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона. Контроль асферической линзы заключается в анализе изображения точечной диафрагмы после прохождения излучения от источника через оптическую систему, состоящую из компенсатора и контролируемой линзы. В качестве анализатора может быть использован микроскоп. 1 ил.
"ЪМ
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛ ИСТИ Ч Е СК ИХ
РЕСПУБЛИК (siis . G 01 М 11/00
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4434339/10 (22) 06.05.88 (46) 07.07.91. Бюл.N 25 (71) МГТУ им. Н.Э.Баумана (72) Д.T.Ïóðÿåâ, M,А.Турчков, В.И.Ермилов и В.В.Полетаев (53) 535.818 (088.8) (56) Технология оптических деталей. Ред.
M.Н.Семибратов М,; 1085, с. 154, 221.
Авторское свидетельство СССР
М 1569639, кл, G 01 M 11/00, 09.03,88, (54) УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ФОРМЫ АСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ЛИНЗЫ В
ПРОЦЕССЕ ЕЕ ОБРАБОТКИ (57) Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для контроля асферических линз в процессе их обработки, Целью изобретения является повышение производительности контроля в
Изобретение относится к оптическому приборостроению.
Целью изобретения является повышео ние производительности контроля в процессе обработки в условиях серийного и роизводства.
На чертеже изображена принципиальная схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленной на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой и контролируемой асферической линзой 3.
Линза обращена к гильзе предварительно обработанной сферической поверхностью, по.которой осуществлено ее базирование, В полой части патрона установлены источник 4 излучения, точечная диафрагма
5 и линзы 6 компенсатора так, чтобы в пол„„Я „„1661603 А1 процессе обработки в условиях серийного производства. Устройство содержит источник 4 излучения, точечную диафрагму 5, компенсатор 6, контролируемую линзу 3 и анализатор 7 оптического иэображения.
Контролируемая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка, причем компенсатор, диафрагма и источник излучения установлены в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенса1ора совмещены с осью вращения патрона. Контроль асферической линзы заключается в анализе изображения точечной диафрагмы после прохождения от источника через оптиче.скую систему, состоящую из компенсатора и контролируемой линзы. В качестве анализатора может быть использован микроскоп.
1 ил, ученной оптической системе. состоящей иэ компенсатора и асферической линзы 3, была исправлены сферическая аберрация.
Устройство содержит также анализатормикроскоп 7.
Устройство работает следующим образом..
Устройство устанавливается на обрабатывающем станке и производится обработка заготовки, после окончания которой от заготовки отводится инструмент и са cToDO ны обработанной поверхности линзы 3 к устройству подводится микроскоп, сфокусированный на точку А, и на источник 4 излучения подается питание, При соответствии формы поверхности расчетному значению размер изображения точечной
1
1о„ о )
1()
1
1 й
1661603
Составитель В. Сячинов
Редактор Т, Юрчикова Техред М.Моргентал Корректор С Черни
Заказ 2117 Тираж Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5
Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 диафрагмы 5 должен иметь минимальную величину. По увеличению размера изображения или по изменению его формы судят об отклонении формы асферической поверности от расчетной. Применение кольцевых диафрагм, которые устанавливают между анализатором 7 и линзой 3, позволяет сурить о местных ошибках формы поверхности и линзы в целом, При обнаружении йогрешностей анализатор отводят из зоны рбработки и производят доводку асферической поверхности линзы 3. Вместо микроскопа в качестве анализатора может спользоваться решетка Ронки с экраном или подвижные решетки с экраном, О качестве линзы судят по анализу ронкиграмм йли муаровой картины, Формула изобретения
Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки, включающее точечный источник
5 излучения, компенсатор, установленные перед контролируемой асферической линзой, и анализатор качества изображения за ней, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения производительности контроля, 10 контролируемая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, закрепленным на шпинделе обрабатываемого станка, причем компаратор и тбчечный источник установлены в полой части патрона, 15 а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона.
