Способ определения параметров колебаний объекта

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения методом голографической интерферометрии параметров колебаний объекта. Целью изобретения является повышение точности за счет проведения измерений по величине частотного сдвига. Объект освещают когерентным излучением и записывают его голограмму на фоторефрактивном кристалле. Восстанавливают голограмму третьей волной и регистрируют зависимость интенсивности восстановленной волны во времени. Осуществляют относительный частотный сдвиг опорной и объектной волн до получения на одном из соседних периодов целого количества максимумов и по величине сдвига и числу максимумов рассчитывают амплитуду колебаний объекта. 1 ил.

ГО103 СОВЕТСКИХ

СО ЗИАЛИСТИ II: i:ÊÈÕ

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) 1370463 (21) 4660127/28 (22) 09.03.89 (46) 15.07.91. Бюл. ¹ 26 (71) Куйбышевский государственный университет (72) Н.H. Алятина, В.П. Гэращук, В.А. Жукова и В.В. Ивахник (53) 534.615(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 1370463, кл. G 01 Н 9/00, 1988, (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ КОЛЕБАНИЙ ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения методом голографической

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении и авиационной промышленности для определения методом голографической интерферометрии параметров колебаний обьекта.

Целью изобретения является повышение точности за счет определения амплитуды колебаний по относительному частотному сдвигу опорной и обьектной волн.

На чертеже представлена зависимость интенсивности восстановленной волны от времени в случае отсутствия частотного сдвига между опорной и объектной волны (а) и в случае наличия частотного сдвига между этими волнами (6).

Способ осуществляют следующим образом.

Освещают обьект когерентным излучением и записывают посредством опорной и обьектной волн голограмму на фоторефрак1

„, . Ж„„1бб3451 А2 (sI)s G 01 Н 9/00, G 01 В 9/021 интерферометрии параметров колебаний объекта. Цельюизобретения является повышение точности за счет проведения измерений по величине частотного сдвига, Обьект освещают когерентным излучением и записывают его голограмму на фоторефрактивным кристалле. Восстанавливают голограмму третьей волной и регистрируют зависимость интенсивности восстановленной волны во времени. Осуществляют относительный частотный сдвиг опорной и объектной волн до получения на одном из соседних периодов целого количества максимумов и IlO величине сдвига и числу максимумов рассчитывают амплитуду колебаний объекта. 1 ил. тивном кристалле типа Biiz TIQgo. Восстанавливают голограмму третьей волной и регистрируют зависимость интенсивности восстановленной волны от времени. Осуще° веЪ ствляют сдвиг частоты опорной волны относительно объектной до получения на одном из соседних периодов этой зависимости це- 0 лого количества максимумов. Сд

При отсутствии сдвига частоты в опорной фь волне относительно объективной волны вос- (Л ! становленный сигнал представляет собой а периодический сигнал с периодом, в два раза меньшим периода колебаний, и с локальными максимумами, количество которых на периоде пропорционально

ih амплитуде колебаний. Создание частотного сдвига в„- приводит к "перекачке" локальных максимумов из одного периода зависимости интенсивности восстановленной волны от времени в соседний период. Связь амплитуды колебании с величиной сдвига частоты обусловлена ел1 ч го как колеба1663451

Формула изобретения тель IblA процесс, так и сдвиг частоты приводит к изменению разности фаз опорной и предметной волны и амплитуда колебаний г может быть определена по формуле

Составитель В,Бахтин

Техред М,Моргентал

Корректор Т.Палий

Редактор M,Áàíäóðà

Заказ 2259 Тираж 322 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 4 +

Знак "-" либо "+" выбирается в зависимости от того приводит сдвиг частоты к увеличению количества локальных максимумов или к уменьшению.

Способ определения параметров колебаний объекта по авт. св. ¹ 1370463, о т л и5 ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности, осуществляют относительный сдвиг частоты опорной и объектной волн до появления целого количества максимумов на соседних периодах зависимости интен10 сивности восстановленной волны от времени,

Способ определения параметров колебаний объекта Способ определения параметров колебаний объекта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и предназначено для измерения паргметров колебаний диффузно отражающих объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения малых механических колебаний по трем осям

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для измерения параметров колебаний при исследовании и наладке вибромашин

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для определения резонансных частот колебаний микрообъектов Целью изобретения является расширение диапазона амплитуд колебаний, в котором могут быть определены резонансные частоты, и повышение точности за счет фиксации момента резонанса по размытию резкого изображения поверхности объекта

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения вибраций узлов, частей и деталей устройств

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для регулирования амплитуды колебаний конструкций типа пластин

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к приборам для голографической интерферометрии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения и контроля неоднородности прозрачных объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля плоскостности оптических деталей

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для записи голограмм на фототёрмопластике

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля формы поверхности изделий для определения их отклонения от заданной

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений точек поверхности деформируемых непрозрачных объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров напряженно-деформированного состояния бандажированных валков

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов
Наверх