Тестопригодное логическое устройство

 

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для построения легкотестируемой цифровой аппаратуры. Цель изобретения - упрощение тестирования логического устройства относительно константных отказов "-О". Устройство содержит две группы по N элементов И, группу из (N + 1)-го элементов И, две группы по N элементов ИЛИ, два диагностических входа, три группы информационно-диагностических входов, группу информационных выходов, два диагностических выхода. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСН ИХ

1 ЕСПУБЛИН (51)3 с 06 & 11/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H A ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Такты

Полюса устрой

2 3 4 5

Вход 9

Вход 11

Входы группы б

О 1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯ

ПРИ rHHT СССР (21) 4609 90/24 (22) 24. 11.-88 (46) 23.08. 91. Вюл И - 31 (/1) Киевское производственное объединение "Электронмаш" им. В.И.Ленина (12) H.Ä. Ñòóêà÷ (53) 681.3 (088 „8) (56) Соменци Ф,, Бай С:, Обнаружение неисправностей в программируемых логических матрицах // ТИИЭР, и., 5, ;= 5, 1986, с . 48. .Патент CItlA М 4293919, кл., С 06 Р 7/48, опубл. 1981.

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в конструкции программируемых логических интегральчых схем.

Цель изобретения — упрощение тестирования относительно константных отказов " 0".

На чертеже приведена структура тестопригодного логического устройства.

Устройство содержит первую 1 и вторую 2 группы N элементов И, тре„„SIJ„„1672453 А1 (54) TF.ÑÒ011ÐÈÃÎÄÍÎÅ ЛОГИЧЕСКОЕ

УСТРОЙСТВО (5/) Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для построения легкотестируемой цифровой аппаратуры. Цель изобретения — упрощение тестирования логического устройства относительпо константных отказов =0 . Устройство содержит две группы по И элементов И, группу из (1 +1)-го элемента И, две группы по М элементов ИЛИ, два диаг-1 г ностических входа, три группы информационно-диагностических входов, группу информационных выходов, два диагностических выхода. 1 ил. тью группу 3 (И+1) элементов И, первую 4 и вторую 5 группы И элементов

ИЛИ, 6-13 — входы-выходы.

Путем выборочного разрыва соепинений в местах, отмеченных на чертеже крестиками, устройство может настраиваться на реализацию произвольного СЬ конечного автомата с парафазным кодированием входных символов. Устройс-:во тестируется по таблице следую- ф щим образом. Ql

1G/2453

Продолжение таблицы

Такты

1 Т ° Т

Полюса устройства

1 4 ) 5

Входы группы 8

Входы группы 7

Выход 12

Выход 1

В течение интервала времени, обхватывающего такта 1 и 2, на вход 9

I 1 11 подается последовательность 1, а на остальные входы — константы, которые в случае исправности устройства 2р обеспечивают прохождение последовательности на .выход 12 по пути, проходящем через выходы и первые входы ° элементов группы 3 и 4. В течение интервала времени, обхватывающего такты 3 — 5, на вход 11 подается последовательность "1 0 1", а на остальные входы — константы, которые в случае исправности устройства обеспечивают прохождение последователь- 30 ности на выход 1 по пути, проходящем через выходы и вторые входы элементов группы 3, а также выходы и первые входы элементов группы 5. Если устройство имеет константные < отказы" 0",, 35

I то указанные последовательности не проходят на выходы ни по указанным, ни по каким-либо другим путям.

Формула изобретения 40

Тестопригодное логическое устройство, содержащее две группы N элемен" тов И, третью группу (И+1) элементов

И, две группы N элементов ИЛИ, о т — 45 л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения тестирования относительно константных отказов " 0", первая группа информационно-диагностических входов устройства соединена с gp первыми группами входов элементов И

/ первой и второй групп и группами входов элементов И третьей группы, вторая группа информационно-диагностических входов устройства соедйнена с входами элементов И первой группы, третья группа информационно-диагностических входов устройства соединена с входами элементов И второй группы, первый вход первого элемента И третьей группы является первым диагностическим входом устройства,. выход первого элемента И третьей группы соединен с первым диагностическим выходом устройства и первым входом первого элемента ИЛИ первой группы, второй вход последнего элемента И третьей группы является вторым диагностическим входом устройства, выход последнего элемента И третьей группы соединен с вторым диагностическим выходом устройства и первым входом последнего элемента ИЛИ второй группы, первый вход (j+1)-ro элемента И третьей группы (j = 1, 2, ° . °, N) соединен с выходом j-го элемента ИЛИ первой группы, второй вход j-ro элемента И третьей группы соединен с выходом j-ro элемента ИЛИ второй группы, выход j-го элемента И третьей группы, кроме первого, соединен с первым входом j-ro элемента ИЛИ первой группы и первым входом (j-t)-ro элемента ИЛИ второй группы, выход j-го элемента И первой группы соединен с вторым входом j-го элемента ИЛИ второй группы, вторая группа входов j-ro элемента И первой группы соединена с выходами первых j элементов ИЛИ второй группы, ! выход j-го элемента И второй группы соединен с вторым входом j-го элемента ИЛИ первой группы, вторая группа входов j-го элемента И второй группы соединена с выходами последних (N-j+1) элементов ИЛИ первой группы, выходы элементов ИЛИ второй группы соединены с третьими группами входов элементов И второй группы и группой информационных выходов устройства.

1612453

Составитель В.Шиянов

Техред Л.Сердюкова Корректор О.Кравцова

Редактор Т.Шагова

Заказ 2841 Тираж 388 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101