Контактное устройство для контроля микросхем с планарными выводами

 

Изобретение относится к импульсной измерительной технике, в частности к устройствам для измерения и контроля статических и динамических параметров многовыводных БИС с пленарными выводами с шагом между ними 0.625 мм Цель изобретения - повышение надежности контсэктирования, помехозащищенности и технологичности. Микросхему размещают в корпусе устройства так, чтобы каждый вывод попал в свой паз между двумя призматическимизубьями гребенка 2. Затем с помощью траверсы 18 прижим 3 подается в зону контактирования и прижимает выводы микросхемы к контактам упругими прокладками 10. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)5 Н 05 К 1/18, 1/11

ГОСУДАР СТ В Е ННЫ Й КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОЫ ЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Фог.1 (21) 4688442/21 (22) 23.05,89 (46) 15.11.91. Бюл. К 42 (72) С.Ю. Измайлов и А.Г, Орлов (53) 62.396.049(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1182691, кл. Н 05 К 1/18, 1983, Авторское свидетельство СССР

N 1557690, кл. Н 05 К 1/18, 1988. (54) КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ МИКРОСХЕМ С ПЛАНАРНЫМИ

ВЫВОДАМИ (57) Изобретение относится к импульсной измерительной технике, в частности к уст„„. Ж„„1691976 А1 ройствам для измерения и контроля статических и динамических параметров многовыводных БИС с планарными выводами с шагом между ними 0.625 мл.. Цель изобретения — повышение надежнос1и контактирования, помехозащищенности и технологичности. Микросхему размещают в корпусе устройства так, чтобы каждый вывод попал в свой паз л.ежду двумя призматическими- зубьями гребенки 2. Затем с помощью траверсы 18 прижим 3 подается в зону контактирования и прижимает выводы микросхемы к контактам упругими прокладками 10. 2 з.п. ф-лы, 3 ил..1691976

Иэобрете>!Ие относится к импульсноЙ измерительной технике, в частности к устройствам для иэмеренля и контроля статических и диl ами:.еских параметров 1и -(ОГ ".."эь.водных Б .1 с плана(!ными выводам(1 (: >i;;-Ом ь1 еж„-.;,,у ними 0,625 мм.

:. Ил .!эсбретения " Г!Овышение надеж"

HOC 1-:: .:ОНТ:..(ТИрааан(1Я, ПО ИехсзащИГцЕНности и тек! ) jf О! ичности, i-|B фиг, 1 схематически изображено vcт;>ойсг;10, разоез; на фи(. 2 — то же, вид сеap>!!: на (ьиг. 3 — гребенка, разрез.

,, I:! г incj Io co>8p>!<(ni корпус ". с диэлектричес!<ими; реоенками 2, Г!)10ский при)ким .. Е к;pIIyc8 эакр г!Лены контактные узлы

1 0, >!>8!8!-1 ., „,.i ко>;та. а! >и 5, размещенI ñ! ми, ::> (? Г!ад!! и е1х 0 Г !868 In K! I 2. HB Греоен ке ,Ii<>Г1:> н i Гел:.НО с д jifK (. ГорОн закреплены риэ>!(Ктричэские Г!.1;-. ины 7 с двухсторон "-.л .18галлизацией, которая электрически (:08(((!H8I"à с "э ;.1леЙ". В зубьях гребенки 2 выГIО. IHBH П-Об раз ныЙ паз 8, cTBHKN 9 кОтОрогO перпонди«улярны плоскости прижима

В Гlрижим" ". За! .реГ!Лена упруГая прохлад„а 10 г, возможность!о размещения нутри П-образного паза 8, Зубья гребенки

2 вь пол,IBHы призматиче:-,к!лми, причем в 8 p LL и и а и р и:1M ы н а и Iý а е л 8 и а в ст О р 0 н >i и ри ким» 31. 1 . и,">и:KI>f iB 3 выпОлHBHÎ входное

Отвс,.>стий . с:;. . шту. аром 12 и вь!ходные

Отвеэсти:-: !Я,(1:1я эых зда охлаждающего т г лэ .Оси-,е, Я, К ка. <, аму контакту 5 подпа" t . !<(i=":!(Сиальн(-!Й ка., - :,, 1 4 для сопряжения с иэ- Мери>ел1)(!Ой а! !Г>а .с!ТурОЙ, Оканчиваю ший.: высОкочас 1-Отным разъемом 15, Разь;э. .ь; : : жест:u =81,:репляю гся в специальных

;.тве",.cYNh.< Kopje уса .. Отверстие 16 в центUQ Г>р!>жима:pBQI-.ола-ает использование каг;су. ы с термопарой для контроля темпер:-: ры 1(орг>уса ми <росхемы 17 в процесса иэм.;ранив араметров. Подача прижима 3 в з(;ну KOiнтел<;ирования осуществляется с, по(„! ->Iq,i0;- ",авррсы ", Q

Пласты;-;.17 из двухстсроннего металлиэиг;",.!в а!1 10ãi, д !э(!ек рика (-,рименяются для fc," э па -1!":д Оэа ;1к нсго влияния KoHTBKTQB 5 и,,". ". к: э i(p 8 i! 1 р О в а и и я Г! н jj T р 8 н н B и м ет ал > иэи „ *ванной поверхHOB Гью Г>ластин 7 РомеХИ, <ОтОРОЯ „ >ОР, :ИР1 8ТСЯ ПРИ ПРОХОЖДЕНИИ эло".тэ;Hocкого сигнала через контакт 5, а такжс для Ооеспе:811ия возможности ра.:,IjK(«0п BT0K odl .(:InBfI,HbI>< l(B68»BA 4 FIR н .:1>ух(ных с. Оронах контактных узлов 4, К;нтактн =- устрсйство работает следуI0i",, Iì Обра:>ом, Ми.<р(>с.((>му разме!>.,ают в корпусе уст>>О. г ств:. аким Об (1зом, чтооы ка)кдыЙ выво, попал в:во!, I.,а;i между двумя

35 л

55 призматическими зубьями гребенки 2, За-, тем с помощь!о траверсы 18 прижим 3 подается в зону контактирования и прижимает выводы микросхемы к контактам 5 упругими прокладками 10, тем самым обеспечивая надежное контактирование каждого вывода микросхемы и соответствующего ему контакта, Охлаждение корпуса микросхемы осуществляется струей сжатого воздуха, поступающего в каналы траверсы 18 через входной штуцер 12, В случае использования в прижиме 3 капсулы с термопарой ее головка с помощью пружины прижимается к геометрическому центру корпуса микросхемы и позволяет, наряду с измерением электрических параметров, осуществлять контроль температуры ее корпуса..

После окончания измерений параметров объекта траверса 18 вместе с прижимом

3 поднимается вверх, гозволяя произвести замену микросхемы, Испольэованиеданного контактного устройства позволяет существенно повысить точность измерения электрических параметров за счет устранения взаимной помехи, а также охлаждать корпус объекта измерений при обеспечении надежного контакта выводов микросхемы с зондами устройства.

Формула изобретения

1. Контактное устройство для контроля микросхем с планарными выводами, содер>кащее корпус с диэлектрическими гребенками, плоский прижим и закрепленные в корпусе универсальные контактные узлы с

Г-образнь!Ми контактами, размещенными во впадинах диэлектрической гребенки, о тл и ч а ю ще е с я тем, что, с целью повышения надежности контактирования, помехозащищенности и технологичности, на гребенке дополнительно с двух сторон закреплены диэлектрические пластины с двухсторонней металлизацией, в зубьях гребенки выполнен П-образный паз, стенки которогО перпендикулярны плоскостл прижима, а в прижиме закреплена упругая прокладка с возможность!о размещения внутри

П-образного паза.

2. Устролство по и. 1, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что зубья гребенки выполнены призматическими, при этом вершина призмы нап равг!ена в сторону прижима, 3, Устройство по и. 1, о т л и ч а ю щ е ес я тем, -:то, с целью улучшения теплоотвода, в прижиме выполнено входное отверстие со штуцером и выходные Отверстия для выхода ОХлаждающего. теплоносителя, )6919 i6

СА ГРй I

Контактное устройство для контроля микросхем с планарными выводами Контактное устройство для контроля микросхем с планарными выводами Контактное устройство для контроля микросхем с планарными выводами 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к приборостроению , в частности к технологии производства печатных плат, и может быть использовано для проверки качества электрических цепей печатной платы

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в устройствах контроля микросхем

Изобретение относится к электрорадиотехнике , в частности к устройствам контроля электромонтажа, и может быть использовано для подключения многослойных и двусторонних печатных плат к контролирующему устройству

Изобретение относится к электрои радиотехнике и может быть использовано для измерения сопротивления изоляции полых корпусов электроизделий

Изобретение относится к технологическому оборудованию, в частности к электроизмерительным устройствам, применяемым для контроля переходного сопротивления при производстве галетных переключателей

Изобретение относится к производству радиоэлектронной аппаратуры, в частности к устройствам для технологического контроля монтажа и электрических параметров печатных схем, и является усовершенствованием изобретения по авт.св.N 1450146

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля печатных плат и узлов, смонтированных на печатных платах

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при производстве, транспортировке и хранении бескорпусных полупроводниковых приборов

Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано для определения правильности монтажа и измерения электрических параметров печатных плат

Изобретение относится к приборостроению , в частности к технологии производства печатных плат, и может быть использовано для проверки качества электрических цепей печатной платы

Изобретение относится к ради

Изобретение относится к радиоэлектронике и предназначено для соединения плат печатного монтажа посредством электрических разъемов

Изобретение относится к электротехнике , в частности к технологии производства печатных плат, и может быть использовано для проверки целостности токоведущих дорожек и зазора между соседними дорожками

Изобретение относится к радиоэлектронной технике и может быть использовано для подсоединения печатных плате контактными площадками, а также отдельных ламельных выводов к токонесущим проводам

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано при производстве, транспортировке и хранении бескорпусных полупроводниковых приборов

Изобретение относится к изготовлению неразъемных соединений в процессе производства аппаратуры на основе изделий микроэлектроники и полупроводниковых приборов, а конкретно - к контактным узлам, посредством которых осуществляется сборка, в том числе многослойных коммутационных структур для многокристальных модулей (МКМ)а также монтаж кристаллов БИС на коммутационной структуре в процессе изготовления МКМ
Наверх