Емкостной датчик для съема диагностической информации с цифровых микросхем

 

Изобретение относится к технике контроля микросхем. Цель изобретения - повышение достоверности встроенного контроля. Металлический электрод 1, на поверхность которого нанесен диэлектрический слой 2 переменной толщины, расположен на корпусе 3 микросхемы и перекрывает контактные площадки. Металлическая крышка 5 служит электростатическим экраном. Сигналы поступают на выход датчика через блок 6 согласования. 1 з.п.флы, 6 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)з G 01 R 31/28

ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

°ЪИ

C)

C)

Ql

С>

Apucmonn

Риг f

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4725606/21 (22) 27.07.89 (46) 23.12.91. Бюл, N. 47 (72) В.А. Линьков, Г.А. Филин и В.И. Антошкин (53) 621.317.799(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР ,М 1182415, кл. G 01 R 19/00, 1985.

Авторское свидетельство СССР

М 1492323, кл. G 01 R 31/28, 1987. (54) ЕМ КОСТНОЙ ДАТЧИК ДЛЯ СЪЕМА ДИАГНОСТИЧЕСКОЙ ИНФОРМАЦИИ С ЦИФРОВЫХ МИКРОСХЕМ

„„SU ÄÄ 1700500 А1 (57) Изобретение относится к технике контроля микросхем. Цель изобретения — повышение достоверности встроенного контроля. Металлический электрод 1, на поверхность которого нанесен диэлектрический слой 2 переменной толщины, расположен на корпусе 3 микросхемы и перекрывает контактные площадки. Металлическая крышка 5 служит электростатическим экраном, Сигналы поступают на выход датчика через блок 6 согласования. 1 з.п.флы, 6 ил.

1700500

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и Может быть использовано в качестве встроенного устройства для съема информации с цифровых микросхем для контроля и диагно- 5 стики.

Целью изобретения является повышение достоверности контроля микросхем, На фиг. 1 показан емкостной датчик, выполненный в корпусе микросхемы; на фиг,2- 10 сечение А-А на фиг, 1; на фиг, 3 — сечение

Б-Б на фиг. 1; на фиг. 4 — графики зависимости постоянной времени т от номера i контролируемого вывода для разных значений и — общего числа контролируемых выводов; 15

1 на фиг. 5 — графики зависимости d{i) толщины первого диэлектрического слоя от номера! контролируемой контактной площадки; на фиг, 6 — графики зависимости разрешающей способности от числа контролируемых 20 выводов для предлагаемого и известного датчиков.

Датчик содер>кит металлический электрод 1, выполненный в виде тонкого проводника с круглым сечением, на поверхность 25 которого нанесен первый диэлектрический слой 2 с переменной толщиной по его длине.

Металлический электрод 1 с нанесенным первым диэлектрическим слоем 2 располагается в корпусе микросхемы 3, перекрывая 30 контролируемые контактные площадки 4, При этом роль электростатического экрана выполняет металлическая крышка 5 микросхемы 3, а второго слоя — воздушная прослойка между металлическим электродом 35

1 с нанесенным первым диэлектрическим слоем 2 и крышкой 5, Через блок согласования б электрод 1 соединен с выходной клеммой.

Между металлическим электродом и 40 корпусом включается резистор, Резистор может располагаться в блоке 6 согласования, обладающем большим входным сопротивлением и малой входной емкостью, конструктивно выполненной в виде ручного 45 щупа, с помощью которого осуществляют съем и контроль результирующей ичформации с датчика.

Закон изменения толщины первого диэлектрического слоя 2, обеспечивающий максимальную разрешающую способ- 50 ность датчика, определяется следующим образом.

Известный датчик дифференцирует и суммирует на резисторе R первоначальные прямоугольные импульсы, т,е, преоб- 55 разует форму импульсов по закону е где r;- =BC„..

Наиболее похожими будут результирующие сигналы, соответствующие кодовым комбинациям с одинаковым числом логических единиц (комбинации вида 0111, 1110, 1101, 1011). Причем наиболее неблагоприятная ситуация с точки зрения распознавания будет при одинаковой амплитуде логических единиц и при совпадении передних и задних фронтах импульсов в подобных комбинациях.

В формальной постановке задачи рассматривают множество из и функций

-1,Г-„ е i = 1n, где n — количество выводов микросхемы, с которых снимается информация. Это множество линейно независимо и представляет собой базис и-мерногго векторного пространства V с векторами — функциями вида ае а;е

1=1

Так как мы имеем дело с цифровой информацией в виде логических нулей и единиц, то в векторном пространстве V выделим подпространство V с коэффициентами а) =

=(0,1},, содержащее 2" векторов.

Известно, что среднее значение любой функции f(x) на интервале от а до Ь определяется выражением ь т (х) dx. а

Тогда в качестве критерия или меры рэзличимости двух функций иэ векторного подпространства Ч удобно взять среднее расстояние Лмежду этими функциями, равное модулю разности средних значений этих функций на интервале t = (О,Т), где Т— минимальная длительность контролируемых импульсов. При

1 и

4=1 ; а) (е т) дав о l =1

1 и — Д, а;®е dtl (1) о I=1

i= Х= (л(- ") ! ал

>P) =ст))) — a(k)) =,Лл К =|,г" ) Ф К ! = 1 2яс -1 "; ф) = т- 1.0.1 ).

Использование величины 6 удобно тем, что минимальная ееличина мичч = мин th,l = 2 " — 2) т.е. среднее расстояние между наиболее блиэколежэщими кривыми из подпространства V как раз характеризует разреша)ощую способность датчика и может использоваться, например, для определения шага квантования Н

1700500. и количества уровней квантования на один сигнал, если предполагается преобразование результирующего сигнала в код с помощью АЦП.

Разрешающая способность датчика при прочих равных условиях определяется законом изменения емкости по длине металлического электрода.

Исследования данного критерия для датчиков с линейным и гиперболическим законом (датчик с линейно изменяющейся толщиной диэлектрика) изменения емкости показали, что для датчика с гиперболическим законом изменения емкости величина разрешающей способности в два раза выше.

Очевидно, существует некоторый оптимальный закон изменения емкости, обеспечивающий максимальную разрешающую способность датчика.

Таким образом, задача сводится к опреДЕЛЕНИЮ таКОГО ВЕКтОРа Т = (Т1 Тг,....Тп );

ГДЕ Т1 = Тмин И Тп = Тмакс ЗаДаны,тмин < т! < Тмакс = 2, jj 1, при котором минимальное среднее расстояние «будет максимальным. Сначала эта задача,была решена как задача оптимизации с целевой функцией и мин!, у()т (1 — e ®) - макс, j =1 (2) при логическом ограничении на сравнение результирующих сигналов, соответствующих кодовых комбинациях с одинаковым числом единиц: ф=о: y =<-1.о.1j;

j — 1

"- 2п (3) (берутся вектора у, в которых количество 1 равно количеству — 1, т,е, вида 1, -1, -1, 1, О, 1, О, -1, — 1, 1 и т.д,).

Но решение задачи в таком виде. не позволило обьяснить полученные результаты, Это можно сделать, если определить сначала оптимальные средние значения а; i = 1п, базисных функций е, при которых

-1/Т; п мин! > ф)a l макс, (4) ! =1 с теми же ограничениями (2) на вектора, а затем путем решенья трансцедентных уравнений

tj(1 — е т )=а, i =2n — 1 (5) определить значения ть

ЗНаЧЕНИЯ а1 И ап ОПРЕДЕЛЯЮТСЯ ПУТЕМ постановки в (5) значений тмин и тмакс, а

ОП-16 дд гл д

010 0 0 Я ае а„, при котором

ai = à i — s + 0 i — 1 Л:1- 2, a - 1: (6)

15 ап — a1 п

n — 1 где S „— 1 =, Ui — сумма и-1 первых

j =1

20 чисел Фибоначчи;

Ц = Ui-z+ Ui-1. U1 = Uz = 1 — рекуррентное уравнение, определяющее J-й член последовательности чисел Фибоначчи. Эти результаты (формулу 6) можно получить так25 же путем цепочки индуктивных рассуждений исходя иэ теории чисел Фибоначчи.

Таким образом, при заданном п и извеСтНЫХ ЗНаЧЕНИЯХ а1 И ап МОЖНО СНаЧаЛа ПО формулам (7) и (6) определить Ли à j, i - 2, 30 п-Т, а затем, решая трансцендентные уравнения (5), например, методом итерации, найти значения постоянных времени rj .

На фиг. 4 показаны графики зависимости постоянной времени т от номера конт35 ролируемого вывода для разных значений и. Частота контролируемой информации 1 мГц, Тмин =0,1мкс, r»« =10MKc, Кривая т (1) плавно возрастает до! =

=n — 1, а затем резко взмывает вверх. Значе40 ние тп при любом и на порядок превышает значение т„— 1. Обратная же зависимости — (i ) характеризуется плавным измене1

z нием значения функции при всех значениях

Поскольку толщина d первого диэлектрического слоя 2 обратно пропорциональна т, то можно записать

50 cIj = —

К (8)

Tj

Поскольку максимальная толщина бмакс первого диэлектрического слоя ограничена размерами контактных площадок 4 в корпусе микросхемы 3. то при определении коэффициента k необходимо исходить иэ бмакс, тогда

К = бмакс Тмин. (9)

Подставляя (9) в (8), получаем формулу для определения толщины первого диэлекостальные aj — путем решения задачи (4).

После анализа решения было установЛено, что полученные значения аь i - 1, и отстают друг от друга на величины, пропорциональ-.

5 ные числам Фибоначчи. Одним из вариантов такого расположения оптимальных значений а является следующий:

1700500 трического слоя 2 в точке перекрытия металлического электрода 1 и i-й контактной площадки

6i ° омакс (10)

На фиг. 5 приведены графики зависимости d(i) толщины первого диэлектрического слоя 2 от номера контролируемой площадки, На фиг. 6 показаны зависимости ф, (n) для предлагаемого датчика, а такх1е для известного при тмин = 0,1 мкс, « иакс = 10 МКс.

Из графиков видно, что разрешающая способность данного датчика при любом и во много раз выше, чем у известных. Исходными данными для расчетов параметров датчика являются бракс «мин «макс, бнин, 1макс и бмин определяются размерами контактных площадок в микросхеме. «м „, и

4 кс определяются частотой, на которой работает конкретная микросхема, и зависят от величины Смин и Ctgayc (емкости связи 1-го и и-ro участков) и резистора R.

Очевидно, что См ц должно быть как можно меньше, а С а с как можно больше.

Смака выбирается такой, чтобы не происходило взаимного искажения сигналов, проходящих по двум соседним выводам микросхемы, и может быть определена .Экспериментально. Из эквивалентной схемы известного датчика видно„что между каждого парой дорожек включено последовательно по две ейкости, поэтому величина результирующей емкости согласно

С1 Сг формуле Срез = С + С будет меньше из

С1+ С2 двух, Минимальная величина емкости С ив

Определена величиной входной емкости схемы согласования.

Предлагаемый датчик характеризуется оптимальным законом изменения емкости от одной контактной площадки к другой, что позволяет получить максимальную разрешающую способность датчика и значительно повысить достоверность снимаемой информации. Малые габариты, и вес и гибкость позволяют выполнить датчик в корпусе микросхемы что дает возможность получить всю информацию о ее работе по одному дополнительному выводу. Датчик позволяет получать информацию не только о наличии совокупностей логический "1" и

"0", но и об их форме и длительности, дрейфе или уменьшении логических уровней и быстродействия, т.е. получать дополнительную информацию, по которой можно судить о вероятности безотказной работы микросхемы. Кроме того, металлический электрод с первым диэлектрическим слоем, дополненный электростатическим экраном. можно использовать и для контроля плат печатного монтажа, приклеив его в любом

5 необходимом месте платы.

Датчик может быть выполнен и в виде ручного безконтактного щупа для съема информации с нескольких выводов микросхемы или дорожек платы, 10 Формула изобретения

1. Емкостной датчик для съема диагностической информации с цифровых микросхем, содержай ий металлический электрод, первый диэлектрический слой, отделяющий

15 металлический электрод от контактных площадок, электростатический экран, второй диэлектрический слой; отделяющий металлический электрод с нанесенным первым диэлектрическим слоем от электростатиче20 скогоэкрана, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля микросхем, металлический электрод выполнен в виде проводника с круглым сечением. на поверхность которого нане25 сен первый диэлектрический слой с переменной толщиной, причем толщина di первого диэлектрического слоя в точке перекрытия металлического электрода с i-й контактной площадкой (i = 1, и, где ив

ЗО число контролируемых выводов микросхемы) определяется по формуле

МИН

О1 «бмзкс

«(. где бараке — толщина nepaoro диэлектричеЗ5 ского слоя, соответствующая 1-й контактной площадке;

«1 — постоянная времени, соответствующая i-му участку, является решением трансцендентного уравнения

1 — а1 /« -1/«1 в котором ап -а1

ai =а1 — 1 +Ui — 1

Sn-1

45 где Ui-1 — (i 1)-й член последовательности чисел Фибоначчи;

n — 1

S и — 1 =, U;. — сумма первых n — 1

1=1

50 чисел Фибоначчи; а1 =«мин(1 — е 1 «""") где тмин v, «макс — минимальное и максимальное значения постоянной времени, соответствующее 1-му и и-му участкам.

2, Датчик по и. 1, отл ич а ю щи йс я тем, что металлический электрод с первым диэлектрическим слоем располагается в корпусе микросхемы с перекрытием

1700500

6g контролируемых контактных площадок и соединен с дополнительным вы-, водом микросхемы, я вляющимся выходом датчика, металлическая крышка микросхемы является электростатиче- 5 ским экраном, а воздушная прослойка между металлическим электродам с первым диэлектрическим слоем и металлической крышкой — вторым диэлектрическим слоем;

7 8 g Ю „r Q 6 .r4 ю 1б

Составитель 8.Степанкин

Редактор M,Ëèêîàè÷ Техред М.Моргентал Корректор О.Кравцова

Заказ 4465 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035,Москва,Ж-35, Раушская наб„ 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101

Емкостной датчик для съема диагностической информации с цифровых микросхем Емкостной датчик для съема диагностической информации с цифровых микросхем Емкостной датчик для съема диагностической информации с цифровых микросхем Емкостной датчик для съема диагностической информации с цифровых микросхем Емкостной датчик для съема диагностической информации с цифровых микросхем Емкостной датчик для съема диагностической информации с цифровых микросхем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля цифровых устройств, в частности для многоканальной параллельной визуальной индикации статических сигналов с возможностью выбора оператором для анализа любой группы каналов

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для автоматизированного контроля цифровых блоков, включающих в себя большие интегральные схемы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при проверке логических микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования логических блоков с установками тестового контроля

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано для переключения логических элементов при испытании их работоспособности

Изобретение относится к технике измерения статических параметров интегральных микросхем, в частности к измерению входных пороговых напряжений логических схем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к электротехнике, в частности к диагностированию устройств релейной защиты и противоаварийного управления в системах электроснабжения (РЗА)

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места неисправного элемента в цифровых схемах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при отладке логических блоков, микропроцессорных систем, ЭВМ и т.д

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля логических устройств

Изобретение относится к технической диагностике и может быть использовано при контроле интегральных логических схем и цифровых устройств, построенных на их основе

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в аппаратуре контроля при электротермотренировке цифровых блоков и при испытаниях их на ресурс

Изобретение относится к анализаторам электронных схем. Устройство содержит интегральную схему, содержащую: схему логического анализатора, имеющую первый вход, принимающий множество сигналов, и первый выход для обеспечения выбранных выборок сигналов, поступающих на первый вход, и первый блок, имеющий первый вход, подключенный к схеме логического анализатора для приема одного или более сигналов, поступающих на его первый вход, и выход, подключенный к схеме логического анализатора для непосредственной подачи на него отдельного набора из одного или более сигналов, которые основаны на одном или более сигналах на первом входе первого блока, согласно заранее определенной функции, причем заранее определенная функция является конфигурируемой. Технический результат заключается в повышении отладочных возможностей и расширении функциональных возможностей. 3 н. и 14 з.п. ф-лы, 11 ил.
Наверх