Способ измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур

 

Изобретение относится к СВЧ-технике. Цель изобретения - расширение области применения. По известному способу измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур с использованием электронного зонда, согласно которому изменяют напряжение инжекции электронного пучка, пропускаемого через ускоряющую структуру , находят максимальное значение -, величины fikW/ P, ,где 4W - прираще- j ние энергии Р - мощность высокочастотного сигнала, и затем рассчитывают высокочастотные характеристики структуры, в частности отношение амплитуды ускоряющей гармоники электрического поля Е к величине -NT. Для определения этой величины на конкретном локальном участке структуры необходимо , -чтобы длительность высо-t кочастотных импульсов, питающих ускоряющую структуру, выбиралась согласно выражению Ј L Ј(Vrp +Ve ) / (VTp Ve)3 , где L.- длина ускоряющей структуры, м; Vrpгрупповая скорость распространения СВЧ- мощности, м/с; Ve- скорост-ь синхронных электронов пучка, усредненная по длине измеряемого участка структуры, м/с. 3 I

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСГЪБЛИН ) Н 05 Н 7/ 0

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ н *втстовнт свнсвтвввствт

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ ССО!

:.(61) 1102478

"(21) 4709050/21 (22) 26.06.89 (46) 07.02.92.. Ьюл. и,5 (71) Институт химической кинетики и горения СО АН СССР (72} В.В. Козлюк (53) 621 384.6 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

К 1102478, кл. Н 05 Н 7/00, 1983. (54) СПОСОЬ ИЗМЕРЕНИЯ ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК УСКОРЯЮЩИХ СТРУКТУР (57) Изобретение относится к СВЧ-технике. Цель изобретения - расширение области применения. По известному способу измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур с использованием электронного зонда, согласно которому изменяют напряжение инжекции электронного пучка, Изобретение относится к СВЧ-технике и является усовершенствованием известного способа, описанного в ввт.св. СССР И 1102т78 (1J. Оно ножет быть использовано при измерениИ характеристик ускоряющих структур переменного шага, обладающих отрицательной дисперсией.

Известный способ для измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур заключается в изменении напряжения инжекции электронно го пучка, проходящего через ускоряющую структуру При этом измеряют приращение ЬИ энергии электронов для различных значений напряжения инÄÄSUÄÄ 1711349 2

2 пропускаемого через ускоряющую структуру, находят максимальное значение величины QM/ P,,где ДM — приращение энергии Р— мощность высокочастотного сигнала, и затем рассчитывают высокочастотные характеристики структуры, в частности отношение амплитуды ускоряющей гармоники электрического поля Е к величине Ð, Для определения этой величины на конкретном локальном участке структуры необходимо.,:чтобы длительность высо-, кочастотных импульсов, питающих ускоряющую структуру, выбиралась сог" ла сна выражению ñ 4 L ((Ч„+V< ) /(Ч, xVt }), где L, - длина ускоряющей структуры, м; Ч„Р - групповая скорость Е распространения СВЧ- мощности, м/с;

V - -скорость синхронных электронов е пучка, усредненная по длине измеряе° мого участка структуры, м/с.

Ф жекции и при изменении мощности P

СВЧ-сигнала находят максимальное значение величины †. Затем по извест У

Гр ным аналитическим выражениям определяют высокочастотные характеристики> в частности, отношение амплитуды ускоряющей гармоники электрического поля к квадратному корню из величины мощности - СВЧ-сигнала.

E .(Р

Однако .этот способ позволяет определять лишь усредненное по длиE не структуры отношение -- . Для ускоР

17 13 л 1 V / + V6 е ряющих структур переменного шага, обладающих отрицательной дисперсией, например для структур, состоящих из множества спаянных ячеек, это усредненное значение может существенно

Е отличаться от отношения -- на локаль„ " ных участках исследуемой структуры.

Целью изобретения является расши- 0 рение области применения эа счет обеспечения возможности измерения

Е величины -- на любом локальном участ+p ке ускоряющей структуры.

Для достижения цели по способу измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур, включающему пропускание через ускоряющую структуру электронного пучка, измерение приращения энергии ДУ электронов при изменении мощности СВЧ-сигнала для различных значений напряжения инжекции, определение максимальЬИ

25 ного значения -- и нахождение ис-Р комых параметров по известным аналитическим соотношениям, длительность л с, СВЧ-импульсов, питающих ускоряющую структуру, выбирают иэ условия

30 где L — длина ускоряющей структу- 35 ры3

V - групповая скорость рас- > пространения СВЧ-мощности;

V — скорость синхронных электе ронов пучка, усредненная @ по длине измеряемого участка структуры °

Заявляемый способ отличается от изобретения по авт.св. СССР и 1102478 тем, что питание ускоряющей структу- 45 ры осуществляется импульсами СВЧмощности соответствующей длительнос ти. Сравнение с другими известными способами, в частности с методом возмущений, показывает, что исследо- 50 вание ускоряющих секций длиной s несколько метров известным методом возмущений представляет существенные сложности из-.за провисания нити ьь большой базе. Так, например, для %й- 55 ти с возмущающим телом общим весом

0,5 t-, длиной 5 м при усилии натяжения 1Н провисание может достигать

49

2,5 мм, что недопустимо для точных измерений высокочастотных характеристик ускоряющих структур и диаметром апертуры в несколько миллиметров.

Использование методики измерения

Е величины -- при помощи электронного

„Г пучка свободно от этого недостатка, присущего методу возмущений, а модуляция СВЧ-мощности импульсами соответствующей длительности позволяет провести локалвное измерение этой величины в том или ином сечении ускоряющей структуры. Таким образом, заявляемое техническое решение соответствует критериям "новизна" и "существенные отличия".

Физическая сущность способа сводится к следующему.

В ускоряющей структуре переменного шага со взаимно встречным направлением частиц пучка и СВЧ-мощности для каждого значения напряжения инжекции, соответствующего значению за- медления фазовой скорости ускоряющей гармоники электрического поля, имеет-. ся ускоряющий участок, для которого выполняется условие синхронизма влета частиц. Начало этого участка определяется значением напряжения инжекции, а его длина 1 - из выражения л Vю Ve гр + 6

Отметим, что варьИрованйе напряжения инжекции пучка приводит к ска- нированию измеряемого ускоряющего участка по продольной координате вдоль ускоряющей структуры. Это позволяет провести зондирование структуры после сборки ее с точки зрения эФФективности ускорения.

Инжектируемый электронный .пучок поступает в пространство взаимодействия ускоряющей структуры, в котором импульсом мощности СВЧ-питания

Формируется электрическое поле обратной волны. При равенстве скоростей электронов и Фазовой скорости ускоряющей гармоники электрического поля создаются оптимальные условия для захвата частиц в режим ускорения в том сечении ускоряющей структуры, в котором выполняется это равенство.

При подаче на вход структуры

P

11349 жителем типа ВЭУ-1, соединенным с входом измерительного осциллографа.

Приращение ЬW энергии находится из

5 выражен ия

У = <(U — Ugq ).

3 где Uää - напряжение инжекции пучка;

U — напряженйе, при котором про1О исходит полное запирание пучка.

При фиксированных значениях напряжения инжекции пучка и длительности . импульса подбором величины мощности

СВЧ-питания находят Р д р, при которой осуществляется максимальное от5W ношение —— р

Измерение .импульсной мощности

СВЧ-питания производится при помощи детекторной головки, откалиброванной по постоянной величине СВЧ-мощности.

Найденное значение мощности Рс к р

25 обеспечивает такие ускоряющие поля по длине 1, при которых осуществляется синхронное ускорение частиц, находящихся в окрестности максимума волны. Групповая скорость V p определяет 0 ся из выражения л Vrp+ Ve 7гр Ve с

V = у и, где с - скорость света; и г - замедление группово" скорости волны, определяемое путем графического дифференцирования дисперсионных характеристик резонансных

4В макетов ускоряющей структу ры.

Е ЬИ 1 Ve+ 7гр

«Г /

= () 1 ., Р р 1оо, ж " е гр речив МакС где Š— амплитуда ускоряющей гармоники электрического гюля;..

P - мощность СВЧ-сигнала

Р „„ - мощность СВЧ-сигнала, соответствующая максимальноЬ му значению . л

b W — приращение энергии элект.ронного пучка;

0 - полное затухание напряженности электрического поля . от входа структуры до из50 меряемого ускоряющего: участка;

6 - заряд электрона.

Приращение $ W энергии в структуре определяется методом запирающего потенциала. Ускоренные электроны, пролетевшие зону торможения, регистрируются вторично-электронным умно45 увеличением Фазовой скорости волны

rio всей длине ускоряющего участка.

Энергия, до которой ускоряются электроны, определяется длиной этого участка. В силу встречности движения в"-пны и электронов время взаимодействия t импульса СВЧ-мощности с пучком укорачивается по сравнению с длительностью с». импульса на величину, определяемую выражением л 7rp

t (°

ЬЗ Ч„° + Ve

Длина 1 ускоряющего участка структуры определяется произведением 1- =

= 1 Че, и она не должна превышать длины всей ускоряющей структуры. Из неравенства 1(L следует ограничение, налагаемое на длительность импульса мощности СВЧ-питания сверху

Известно, что, распространяясь в дисперсионней среде, волновой пакет расплывается по длительности c,g...По" г этому длительность импульса ограничивается и снизу с с .

Ф ".

Высокочастотную характеристику согласно .заявляемому способу опреЕ

P деляют из выражения

Скорость синхронных электронов находится из выражения

Затухание о измеряется одним из методов, например методом замещения.

Таким образом, максимальнос зна5Я чение отношения — и соответствуюЕ щее ему отношение -- для любого уско„ГР ряющего участка 1 ускоряющей структуры, обладающей длиной L, достигаются при выбранных значениях напряжения инжекции 11д„ „ входной СВЧ-мощности 171134

Чго+ Че

ФаL — — ——

1 гу

25 где L — длина ускоряющей структуры, м;

Чг — групповая скорость- распространения СВЧ-мощности, м/с;

V — скорость синхронных электронов, и/с.

Увз

Е (-.-) 1

О/ее49т

Š—, В/ 0

s6 —, вивт

1 авт ф„дб

>Рв

Сйттйт1

%ST

Ullllx в п.м. о

1,04 10 0,3

1 07.10 0,3о1

1,06 10 0,303 Iв1 ° 10 0,312

1,33 7,42 10

0 95 .1,38 10

0,6 1,42 10 о,35 1 44 1о

83оо

791о

8680

6933

8401

8465

2503

2546

2641

149

189

144

154

21О

3 250

27о !

3.7 °

Составитель 8. Козлюк

Техред А, Кравчук .

Корректор M. Самборская

Редактор Т. Юрчикова

Заказ 350 Тираж Подписное

ВН1ЫПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Óêãîðîä, уа. Гагарина,101

P0 и длительности i импульса мощностй СВЧ-питания.

Погрешность определения -- скла„ГР дывается в основном из погрешности измерения импульсной мощности P СВЧпитания и замедления групповой скорости n . Мощность P определяется пересчето1ч входной мощности Р«11>Р

g входу рассматриваемого ускоряющего . участка через затухание 0(электромагнитной волны. Входная мощность

Р„ц„Римпульса СВЧ-питания определяется йри помощи калиброванной детектор- 15 ной головки. Погрешность определения мощности. Р достигает 1ОЖ. Погрешность определения замедления групповой ско-: рости составляет 16-156. Полная. погЕ решностb определения -..- для ускоря Р ющих участков структуры составляет

-10-133.

Пример. Заявляемый способ был экспериментально»проверен на ускоряющей структуре встречно-штырево-. го типа длиной L р 0,7 м. Начальная энергия ускоряющей структуры 210 эВ,. конечная 4/О. эВ. Длительность импульса мощности СВЧ-питания составляла

50 нс.

8

Результаты измерений представлены в таблице. Для сравнения приведена колонка с результатами измерений

Е (--), полученными методом возмущеГ Е09М ниц (3). Ив таблицы видно, ито реЕ зультаты измерений --, проведенных

„ГР двумя независимыми методами, совпадают в пределах погрешностей этих методов.

Формула и зоб ре тен и я:

Способ измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур по авт.св. М 1102478, о т л и ч а .юшийся тем, что, с целью расшире-,, ния области применения, длительность

< СВЧ-импульсов, питающих ускоряющую структуру, выбирают иэ условия

Способ измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур Способ измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур Способ измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур Способ измерения высокочастотных характеристик ускоряющих структур 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способу медленного вывода электронов из синхротронов и накопителей и может быть использовано п ускорительной технике

Изобретение относится к устройствам диагностики пучка частиц высоких энергий и может быть использовано для измерения профиля пучков частиц в сильноточных ускорителях

Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано при генерации потоков поляризованных электронов в резонаторных ускорителях

Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано при разработке систем охлаждения ускоряющих секций резонансных ускорителей заряженных частиц

Изобретение относится к ускорительной технике, в частности к устройствам высокочастотных и индукционных ускорителей заряженных частиц

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано, например, при питании крупных электрофизических установок

Изобретение относится к области техники ускорителей заряженных частиц и может быть использовано в качестве ускоряющей структуры для промежуточных и высоких энергий ускоряемых частиц

Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано в высокоинтенсивной начальной части ускорителя с пространственно-однородной квадрупольной фокусировкой

Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано в высокоинтенсивной начальной части ускорителя с пространственно-однородной квадрупольной фокусировкой

Изобретение относится к системам высокочастотного питания ускорителей заряженных частиц, конкретно к системам высокочастотного питания резонансных ускорителей от магнетронов

Изобретение относится к области медицины, медицинской аппаратуры, а именно к устройствам и способам для лучевой терапии

Изобретение относится к области ускорительной техники и может быть использовано в устройствах ускорения ионных пучков

Изобретение относится к системам высокочастотного питания ускорителей заряженных частиц, конкретно к системам высокочастотного питания резонансных ускорителей от магнетронов

Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано при разработке бетатронов с выведенным электронным пучком, например, для целей лучевой терапии
Наверх