Дефектоскоп для неразрушающего контроля протяженных ферромагнитных изделий

 

Изобретение относиться к неразрушающему контролю качества и может быть использовано для контроля стальных канатов и др. Цель изобретения - повышение чувствительности , разрешающей способности и помехоустойчивости - достигается за счет использования второй пары концентраторов магнитного потока и двух дополнительных датчиков Холла, при этом концентраторы выполнены в виде двух пар шайб, установленных соосно с отверстиями полюсных наконечников и имеющих по два диаметрально расположенных конических выступа, образующих зазоры, а внутренний диаметр шайб одной пары больше или равен наружному диаметру шайб другой пары, 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 6 01 N 27/90

ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ у)

1=К АВТОРСКОМУ . СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4605296/28

{22) 22.11,88 (46) 07,05.92; Бюл, № 17 (71) Институт горной механики им. Г.А.Цулукидзе (72) B,À,Каландадзе, К.Л.Стефаниди, Ш.Г,Надирадзе, Т,Г,Гогичалшвили, Н.P.Öèрикидзе и А.3. Картвелиш вили (53) 620.179.14.08 (088.8) (56) Дефектоскоп МД-12Х, Фирма "Мерастер", ПНР.

Патент Великобритании

¹ 1539313, кл. G 01 N 27/90, 1979. (54) ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ПРОТЯЖЕННЫХ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для магнитного контроля ферромагнитных объектов, в частности стальных канатов шахтных подъемных установок, подвесных канатных дорог и др, Известны двухфункциональные устройства для неразрушающего контроля ферромагнитных обьектов.

Дефектограф МД-12х, в котором измерительные головки для контроля потери сечения и обрыва проволок в стальных канатах собраны в одном корпусе, причем в качестве чувствительного элемента для контроля обрыва проволок использованы две разъем н ые индукцио н н ые катушки (внутренняя и внешняя), а для контроля потери сечения использован концентратор с датчиками Холла, расположенный между индукционными катушками.

Недостатки этого дефектографа заключаются в низкой помехоустойчивости и чувствительности к дефектам, Кроме того, ему

„,!Ы„„1732251 А1 (57) Изобретение относиться к неразрушающему контролю качества и может быть использовано для контроля стальных канатов и др. Цель изобретения — повышение чувствительности, разрешающей способности и помехоустойчивости — достигается за счет использования второй пары концентраторов магнитного потока и двух дополнительных датчиков Холла, при этом концентраторы выполнены в виде двух пар шайб, установленных соосно с отверстиями полюсных наконечников и имеющих по два диаметрально расположенных конических выступа, образующих зазоры, а внутренний диаметр шайб одной пары больше или равен наружному диаметру шайб другой пары, 1 ил. присущи недостатки дефектоскопов, в которых в качестве измерительной головки контроля сплошности используются индукционные катушки. Уровень сигнала на выходе их зависит от скорости относительного перемещения контролируемого изделия, при резких изменениях этой скорости появляются ложные импульсы, а при скоростях ниже 0,4 м/с контроль разрыва сплошности в металле становится невозможным.

Кроме этого, расположение измерительной головки контроля сечения между индукционными катушками ограничивает чувствительность канала, так как габариты концентратора ограничены размерами индукционных катушек.

Наиболее близким техническим решением является дефектоскоп, содержащий постоянный магнит с отверстием для контролируемого изделия в полюсных наконечниках, установленные в межполюсном промежутке два концентратора магнитного потока с датчиками Холла в зазорах, 1732251

Однако это устройство имеет ет сущест- полненных меньшего диаметра с коничевенные недостатки; сложность кон онструкции скими выступами 13 — 16 и расположенными

18 конд у в хфункциональнои измерит р тельной голо- в их зазорах датчиками Холла 17 и, конвки дефектоскопа, низкая помехоу т оустойчи- центраторы 11 и 12 магнитного потока и вость канала контроля сечения, низ ия низкая 5 датчики Холла 17 и 18 образуют измерительоаз ешающая способность канала конт а контро- ную головку канала контроля сплошности, оазре щ б блока 19 обработки информации с каналом ля сплошности. лока н ля

Сложность измерительнои гол в оловки де- контроля сплошности и каналом ко тро то голо- сечения и последовательно соединенного с фектоскопа в целом связана с тем, что г лвка контроля сечения и головка к нт а контроля 10 ним двухканального блока 20 регистрации сплошности разо общены; первая расположе- результатов измерений, ю им обна в воздушных зазорах полюсных олюсных наконеч- Дефектоскоп работает следу щ ников намагничивающей системы, а вторая разом. истем 1 с — в межполюсном пространстве, анстве, что сложно Через намагничивающую систему с

15 отверстиями в полюсных наконечниках пров эксплуатации, внии ие 2 кото ое

При любом искривлении внии контролируе- ходит контролируемое издел, р следнего от намагничивается до насыщения частью т Ф мого изделия или смещения последнег оси намагничивающеи си истемыдефектоско- полного магнитного потока системы (не попа, происходит перераспределение ма ние магнит- казан), Часть Ф полного магнитного потоного потока через изделие, вызыва зывающее 20 ка в межполюсном промежутке замыкается ложные сигналы на выходе изм ерительной через концентраторы 3 и 4 с коническими выступами 5 — 8 и пронизывает датчики Холголовки контроля сечения.

Разрешающая спосо ность, выр б выражаю- ла 9 и 10, на выходе которых появляется щаяся возможностью регистр ации близко ЭДС, несущая информацию о сечении контраспбложенных разрывов проволок к ок канатов 25 ролируемого изделия. Часть Фр магнитного и определяемая ширинои м ежполюсного потока, возникающего в месте разрыва конрасстояния магнитопровода Ш-образного тролируемого изделия,-замыкается через концентратора измерительной г л головки, концентраторы,11 и 12 магнитного потока с, так как точечное зондиро- коническими выступами 13 — 1б и пронизыконтроля низка, так как точечн в не осуществляется. 30 вает датчики Холла 17 и 8, н д

1 на выхо е котование дефектов не осущ ая инфо мацию

Ц бретения является повыше- рых появляется ЭДС, несущая инф р

Целью изо рете г из елия ние чувствительности, раз е разрешающей спо- о сплошности контролируемо о . д собности и помехоуст ч ой ивости Сигнал с датчиков Холла 9 и 10 поступает на канал контроля сечения блока 19 обработки де ектоскопа.

Поставленная цель достигается тем, что 35 информации, сигнал с датчиков Холла 17 и дефектоскоп сна жен второи п б арой концен- 18 поступает на канал контроля сплошности траторов магнитного потока и д вумя допол- блока 19 обработки информации, после чего нительными датчиками Холл а. информация поступает на соответствующий

Концентраторы выполнены в вид де двух пар вход двухканального блока 20 регистрации шайб, установленных соосно с отверстиями 40 результатов измерений, полюсных наконечников и имеющих по два диаметрально расположенных конических Фор у м ла изобретения выступа, образующих зазоры, а внутренний диаметр шайб однои пары ол б больше или ра- Дефектоскоп для неразрушающего конжном иамет шайбвторой пары. 45 троля протяженных ферромагнитных издеий постоянный магнит с

На чертеже представлена структурная лий, содержащии по отверстиями для контролируемого изделия схема дефектоскопа.

Дефектоскоп для неразруш рушающего кон- в полюсных наконечниках и установленные троля протяженных ферром фе ромагнитных изде- в межполюсном промежутке два концентралий состоит из намагничива ющей системы 50 тора магнитного потока с датчиками Холла

1 с отверстиями для контролируемого изде- в зазор ах отл ич а ю щи йся тем,что, с лия 2 в полюсных наконечник е никах первой па- целью повышения чувствительности, разреры концентраторов 3 и магнитного и

3 4 отока, шающей способности и помехоустойчивопапой выполненныхсконическимивыступами5 — 8 сти, он снабжен второй паро и расположенных в их зазо рах датчиков 55 концентраторов магнитного потока и двумя

Холла 9 и, пара кон

9 10, центраторов 3 и 4 дополнительными датчиками Холла, конмагнитного потока вмест вместесдатчикамиХол- центраторы выполнены в виде двух пар ла 9 и 0 о разует из

9 10 6 змерительную головку шайб, установленных соосно с отверстиями канала контроля сечения, вт торой пары кон- полюсных наконечников и имеющих по два центраторов 11 и 12 магнитного потока, вы1732251 диаметрально расположенных конических диаметр шайб одной пары больше или равыступа, образующих зазоры, а внутренний вен наружному диаметру шайб второй пары, 17

Составитель В, Калэндадзе

Редактор М, Бланар Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор Т. Палий

Заказ 1579 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Дефектоскоп для неразрушающего контроля протяженных ферромагнитных изделий Дефектоскоп для неразрушающего контроля протяженных ферромагнитных изделий Дефектоскоп для неразрушающего контроля протяженных ферромагнитных изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в машиностроении для обнаружения дефектов и нарушений структуры материала методом вихревых токов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля методом вихревых токов и может найти применение при создании приборов для использования в машиностроении, авиации, химической промышленности и т.д

Изобретение относится к неразрушающему контролю, а именно к вихретоковой структуроскопии ферромагнитных материалов

Изобретение относится к неразрушающему вихретоковому контролю и может использоваться для настройки толщиномеров многослойных покрытий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при дефектоскопии стальных тросов

Изобретение относится к вихретоковой дефектоскопии и может найти применение для контроля труб теплообменника с трубами U-образной формы

Изобретение относится к средствам неразрушающего электромагнитного контроля и может быть использовано для контроля изделий авиационной техники , работающей в скоростных газовых потоках с перепадом температуры

Изобретение относится к неразрушающему контролю методом вихревых токов и может быть использовано для дефектоскопии электропроводных изделий, в том числе имеющих диэлектрическое покрытие

Изобретение относится к методам контроля качества поверхностного упрочненияи может быть использовано при определении гл^^ины поверхностно закаленных и отпущенных изделий

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх