Устройство для контроля качества пористых материалов

 

Область применения1 относится к средствам контроля и может быть использовано для обнаружения пористых материалов. Сущность изобретения: для повышения точности контроля путем обнаружения пористых материалов в устройство, содержащее частотный генератор, датчик, состоящий из светои фотодиода, установленных на рабочей поверхности корпуса, и блок обработки информации, введены генератор импульсов , светофильтр с длиной волны 920-960 нм, причем светофильтр расположен между пористым материалом и светои фотодиодом , светодиод установлен под углом 26,5-28,4° относительно перпендикуляра к плоскости рабочей поверхности, а фотодиод установлен под углом 17,3-19,6° относительно этого же перпендикуляра. 4 з.п. флы, 2 ил., 2 табл. С/ с

СОКОЗ С<.!ВЕТСКИХ

СОЦИАЛ ИС I ИЧЕ ГКИХ

РЕГЛ1УБЛИК (5Н5 Н 01 L 31/14

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4709484/25 (22) 27.04.89 (46) 23.07.92. Бюл. N 27 (71) Всесоюзный научно-исследовательский институт легкого и текстильного машиностроения (72) В.Г.Бродягин, И.М.Богомолов, С М Рурукина, Б.H.Áûõîâñêèé и В,В,Губин (56) Авторское свидетельство СССР

N1000365,,кл. В 65 Н 25/26, 1983, Авторское свидетельство СССР

М 767872, кл. Н 01 1 31/14, 1980, (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОРИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ (57) Область применения: относится к средствам контроля и может быть использовано

Изобретение относится к средствам контроля и может быть использовано для обнаружения пористых материалов.

Известно устройство для контроля положения кромки материала. содержащее два датчика положения кромки, установленных с возможностью относительного перемещения в направлении, перпендикулярном направлению движения, каждый иэ которых содержит фотоприемник, симметрично расположенный между двумя источниками излучения и оптическая ось которого перпендикулярна плоскости движения материала, а оптические оси фотоприемника и источников излучения каждого датчика положения кромки расположены в одной плоскости, угол меж,, 5U „„1749956 А1 для обнаружения пористых материалов.

Сущность изобретения: для повышения точности контроля путем обнаружения пористых материалОв в устройство. содержащее частотный генератор, датчик. состоящий из свето- и фотодиода, установленных на рабочей поверхности корпуса, и блок обработки информации, введены генератор импульсов, светофильтр с длиной волны 920-960 нм, причем светофильтр расположен между пористым материалом и свето- и фотодиодом, светодиод установлен под углом

26,5-28,4 относительно перпендикуляра к плоскости рабочей поверхности, а фотодиод установлен под углом 17,3 — 19,6 относительно этого же перпендикуляра. 4 з.п. флы, 2 ил., 2 табл. ду оптическими осями источников излучения каждого датчика положения кромки составляет 10 — 30, расстояния между плоскостями расположения оптических осей фотоприемника и источников излучения датчиков положеййя кромки не менее расстояния от приемйои части фотоприемников до плоскости движения материала, а расстояние между "ойтической осью фотоприемника и серединами выходных частей источников излучения каждого датчика положения кромки равно половине расстояния от приемной части фотоприемника до плоскости движения материала, Недостатками-данного устройства я вляются усложненная Конструкция и отсутствие схемы обработки информации.

1749956

Известен фотоэлектрический импульсный датчик, содержащий растр, источник и приемник света, расположенные нэ равных расстояниях от растра, Недостатком указанного устройства яв- 5 ляется низкая точность обнаружения, Цель изобретения — повышение точности обнаружения материалов.

Поставленная цель достигается тем, что устройство для обнаружения пористых мэ- 10 териалов содержит датчик, состоящий из. свето- и фотодиода, частотного генератора и схемы обработки информации. Оно имеет также светодиод, установленный под углом

26,5 — 28,4 относительно оси, перпендику- 15 лярной движению материала, фотодиод, установленный под углом 17,3-19,6 относительно этой же оси, светофильтр с длиной волны в интервале 920-960 нм.

Углы, под которыми установлены свето- 20 и фотодиод, а также длина волны светофильтра определены опытным путем. Подтверждением правильности выбранных интервалов служат данные, приведенные в табл, 1 и 2. 25

Устойчивое функционирование устройства возможно при одновременном соблюдении следующих условий: установки светодиода под углом 26.5-28,4 относительно оси, перпендикулярной движению 30 материала, установки фотодиода под углом

17,3-19,6О относительно этой же оси, светодиод должен быть утоплен в kopriyo на глубину 2 — 5 мм, мощность находится в: интервале 0,6 — 0,75 мВт, фотодиод должен 35 быть утоплен в корпус на глубину 3-7 мм, отверстия под свето- и фотодиод должны иметь шероховатую поверхность.

На фиг,1 изображена схема предлагаемого устройства; на фиг.2 — схема, поясня- 40 ющая работу устройства.

Устройство включает резисторы 1-15, диоды 16 и 17,транзисторы 18-21, полевой транзистор 22, конденсаторы 23-30, фотодиод 31, светодиод 32 и частотный генера- 45 тор 33. Шина положительного потенциала связана параллельно с первыми выводами конденсатора 23 и резисторов 1 — 3. Второй вывод резистора 3 соединен параллельно с первыми выводами резисторов 4 — 6 и кон- 50 денсатора 24, вывод которого связан параллельна с вторым выводом конденсатора 23, первым выводом конденсатора 25 и шиной заземления источника питания. Второй вывод конденсатора 25 соединен параллельно 55 с вторым выводом резистора 4, первыми выводами резисторов 7 и 8. Второй вывод резистора 8 связан параллельно с затвором полевого транзистора 22 и выходом фотодиода 31, вход которого соединен пэраллельл но с шиной заземления источника питания и истоком полевого транзистора 22. сток. которого параллельно связан с вторым выводам резистора 7 и первым выводом конденсатора 26. Второй вывод последнего соединен параллельно с первым выводом резистора 9 и базой транзистора 18, эмиттер которого связан через резистор 10 с шиной заземления источника питания, Коллектор транзистора 18 соединен параллельно с вторым выводом резистора 6 и базой транзистора 19, эмиттер которого через резистор 11 связан с шиной заземления источника питания. Второй вывод резистора 9 соединен с шиной заземления источника питания через конденсатор 27.

Коллектор транзистора 19 связан параллельно с вторым выводом резистора 5 и первым выводом конденсатора 28, второй вывод которого соединен параллельно с входом диода 16 и выходом диода 17, вход которого связан с шиной заземления источника питания. Выход диода 16 соединен параллельно с первым выводом резистора 12 и шиной заземления источника питания через конденсатор 29. Второй вывод резистора 12 связан параллельно с первыми выводами конденсатора 30, резистора 13 и базой транзистора 20, эмиттер которого, а также вторые выводы конденсатора 30 и резистора 13 соединены с шиной заземления источника питания. Коллектор транзистора 20 связан параллельно с вторым выводом резистора 2 и базой транзистора

21, эмиттер которого связан с шиной заземления источника питания через резистор 14.

Коллектор транзистора 21 соединен параллельна с вторым выводом резистора 1 и резистором 15, На фиг,2 обозначены: светодиод 1, фатоприемник 2 и светофильтр 3. Светодиод установлен под углом р1 относительно оси, -перпендикулярной движению материала, Фотоприемник расположен пад углом р2 относительно этой же аси. Глубина нарезки равна соответственна 11 и I2.

Устройство работает следующим образом.

В качестве оптоэлектронного преобразователя (приемника) используется фотодиод 31. На выходе фотодиода включен согласующий каскад, состоящий из резисторов 4, 7, 8 и конденсаторов 23, 25, Палевой транзистор 22 используется как усилитель полученного сигнала. Усиленный полевым транзистором сигнал подается на конденсатор 26, который отфильтровывает постоянную составляющую с целью выделения полезного сигнала. Конденсатор 27 подав1749956 ляет случайные флуктуационные помехи, могущие возникнуть в схеме. Переменная составляющая сигнала поступает на усилительный каскад, состоящий иэ двух транзисторов 18 и 19. Функции конденсатора 28 аналогичны функциям конденсатора 26

Усиленная переменная составляющая подается на выпрямитель (детектор, состоящий из диодов 16 и 17), выпрямляется и заряжает интегрирующую емкость (конден10 сатор 29). Затем потенциал через фильтр, состоящий иэ резистора 12 и конденсатора

30, подается на базу каскада формирователя выходного сигнала (усилительного каскада, состоящего из транзисторов 20 и 21) и

15 через защитный резистор 15 выводится на схему автоматики. Резисторы 1, 2, 3, 5, 6, 10, 11, 13 и 14 используются для создания необходимых смещений, 20

Экономический эффект от использова. ния предлагаемого изобретения может быть определен по эффекту от использования УДМ, составной частью которого является предлагаемое устройство.

Формула изобретения

1. Устройство для контроля качества пористых материалов, содержащее частотный генератор, датчик, состоящий из свето- и верхности корпуса, и блок обработки информации, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что. с целью повыШения точности контроля путем обнаружения пористых материалов, оно содержит генератор импульсов, светофйльтр 35 с длиной волны 920-960 нм, причем светофильтр расположен между пористым материалом и свето- и фотодиодом. светодиод установлен под углом 26,5-28,4 относи40 тельно перпендикуляра к плоскости рабочей поверхности, а фотодиод установлен под углом 17.3-19,6 относительно этого же перпендикуляра.

2. Устройство по п.1. о т л и ч а ю щ е ес я тем, что схема обработки информации имеет транзисторы, диоды, резисторы, полевой транзистор, конденсаторы, причем шина положительного потенциала связана с первыми выводами первого конденсатора и первого. второго и третьего резисторов, 50

С второй вывод третьего резистора соединен с первыми выводами четвертого, пятого и шестого резисторов и второго конденсатора, второй вывод которого связан с вторым выводом первого конденсатора, первым выводом третьего конденсатора и шиной заземления источника питания, второй вывод третьего конденсатора соединен с вторым фотодиода, установленных на рабочей по- 30 выводом четвертого резистора. первыми выводами седьмого и восьмого резисторов, второй вывод восьмого резистора связан с затвором полевого транзистора и выходом фотодиода, вход которого соединен с шиной заземления источника питания и истоком полевого транзистора, сток которого связан с вторым выводом седьмого резистора и первым выводом четвертого конденсатора, второй вывод которого соединен с первым выводом девятого резистора и базой первого транзистора, эмиттер которого связан через десятый резистор с шиной заземления источника питания, коллектор первого транзистора соединен с вторым выводом шестого резистора и базой второго транзистора, змиттер которого через одиннадцатый резистор связан с шиной заземления источника питания, второй вывод девятого резистора соединен с змиттером второго транзистора неподсредственно, а с шиной заземления источника питания —,через пятый конденсатор, коллектор второго транзистора связан с вторым выводом пятого резистора и первым выводом шестого конденсатора, второй вывод которого соединен с входом первого диода и выходом второго диода, вход которого связан с шиной заземления источника питания, выход первого диода соединен с первым выводом двенадцатого резисторА и шиной заземления источйика питания через седьмой конденсатор, второй вывод двенадцатого резистора связан с первыми выводами .восьмого конденсатора, тринадцатого резистора и базой третьего транзистора, эмиттер которого, а также вторые выводы восьмого конденсатора и тринадцатого резистора соединены с шиной заземления источника питания, коллектор третьего транзистора связан с вторым выводомм второго резистора и базой четвертого транзистора, змиттер которого связан с шиной заземления источника питания через четырнадцатый резистор, коллектор четвертого транзистора соединен с вторым выводом первого резистора и пятнадцатым резистором.

3, Устройство по п.1, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что светодиод углублен в корпус на глубину 2 — 5 мм., 4. Устройство поп.1, отл ича ю щ еес я тем, что фотодиод углублен В корпус на глубину 3-77 мм.

5. Устройство по п.1. отл и ч а ю ще ес я тем, что отверстия под свето- и фотодиод имеют поверхность с минимальным коэффициентом отражения в диапазоне длин волн светофильтра.

1749956

Таблица!

1 25,0 25,5 26,0 26,5

2 16,0 16,5 17,0 17,5

0,75 0,86 0,97 0,99 1,00 0,98 0,97 0,79 0,63 0,54

Фэ ВЭФ Э ЭФ ФФ

900 920 940 960 980 40

Амллитуда лолезного ,сигнала 0,62 0,76

0,84 0,98 1,0 0,99 0,87 0,79 0,66 0,57

Иоа1ность отфаменно о иэлуцемия 0,6 1

27,0 27,5 28,0 28,5 29,0 29,5 30,0

18,0 18,5 19,0 19,5 20,0 20,5 21,0

Таблица2

1000 1020 10

174995б

Составитель С.Рурукина

ТехредМ.Моргентал . Корректор Э.Лончакова

Редактор И. Горная

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 2599 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Устройство для контроля качества пористых материалов Устройство для контроля качества пористых материалов Устройство для контроля качества пористых материалов Устройство для контроля качества пористых материалов Устройство для контроля качества пористых материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано, например, в системах вводе оптической информации в ЭВМ

Изобретение относится к автоматике и пычиа1ителышн тех1шке и может быть использовано, например, в устройствах ввода оптической информации

Изобретение относится к оптоэлектронике и может быть использовано в качестве элемента памяти, оптоэлектронного триггера и т.д

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в оптоэлектронных интегральных схемах

Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для получения видимых изображений объектов, испускающих или рассеивающих инфракрасное (ИК) и субмиллиметровое (СМ) электромагнитные излучения (ЭМИ)

Изобретение относится к быстродействующим фотодетекторам оптического диапазона волн и может найти применение при создании быстродействующих приемников излучения для оптических систем передачи информации
Наверх