Устройство наклона столика растрового электронного микроскопа

 

Изобретение относится к технике электронной микроскопии, в частности к устройствам для наклона столиков объектов в растровых электронных микроскопах. Целью изобретения является повышение точности позиционирования столика за счет исключения влияния упругих деформаций его составных элементов. Для этого в устройстве наклона привод вращения кронштейна , на котором закреплен столик, образован двумя пластинами из материала с термомеханической памятью, которые симметрично размещены внутри соосных втулок, установленных на концах кронштейна . Одна из пластин имеет в нагретом состоянии скрученную вдоль оси форму, другая - плоскую форму. Внутренние концы пластины размещены в направляющих пазах кронштейна по скользящей посадке, а внешние соединены с термобатареями. При нагреве одной из пластин развиваемое ею усилие фазового перехода скручивает или раскручивает другую холодную пластину только в области пластической деформации. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (si>s Н 01 J 37/20

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4753522/21 (22) 30.10.89 (46) 30,07.92. Бюл. № 28 (71) Сумское производственное объединение "Электрон" (72) С.Д.Прокошкин, Т.В.Морозова, А.И.Феклистов, А.И.Никифоров, Ю.В.Шестаков и В.Г. Веприк (56) Тихонов А.С,и др. Применение эффекта памяти формы в современном машиностроении. M,: Машиностроение, 1981, с. 67.

Авторское свидетельство СССР

¹ 1018175, кл, Н 01 J 37/20, 1983, (54) УСТРОЙСТВО НАКЛОНА СТОЛИКА

РАСТРОВОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА (57) Изобретение относится к технике электронной микроскопии, в частности к устройствам для наклона столиков объектов в растровых электронных микроскопах.

Изобретение относится к технике электронной микроскопии, в частности к устройствам для перемещения объектов в растровых электронных микроскопах(РЭМ), и может найти применение в автономно работающих в вакууме устройствах.

Целью изобретения является повышение точности позиционирования столика за счет исключения влияния упругих деформаций в его приводе.

На фиг,1 показан столик РЭМ в исходном, горизонтальном состоянии; на фиг.2-, то же, в наклоненном на 90 положении. .Устройство включает основание пред-

-метного столика, размещаемого в вакуумируемом объеме. ограниченном стенками

„„Я2„„1751827 А1

Целью изобретения является повышение точности позиционирования столика за счет исключения влияния упругих деформаций его составных элементов. Для этого в устройстве наклона привод вращения кронштейна, на котором закреплен столик, образован двумя пластинами из материала с термомеханической памятью, которые симметрично размещены внутри соосных втулок, установленных-на концах кронштейна, Одна из пластин имеет в нагретом состоянии скрученную вдоль оси форму, другая— плоскую форму. Внутренние концы пластины размещены в направляющих пазах кронштейна по скользящей посадке, а внешние соединены с термобатареями, При нагреве одной из пластин развиваемое ею усилие фазового перехода. скручивает или раскручивает другую холодную пластину только в области пластической деформации. 2 ил. корпуса 2 РЭМ. Основание 1 закреплено на кронштейне 3, на концах которого установлены симметрично относительно средней плоскости его поворота две Соосные полые втулки 4 и 5, образующие приводной вал.

Привод вращения образован двумя пластинками 6 и 7 из материала с термомеханической памятью, которые симметрично размещены внутри втулок вдоль их осей, Внутренние концы пластины входят в направляющие пазы 8 кронштейна 3 по скользящей посадке, внешние концы пластин выходят через уплотнитель за пределы корпуса 2 и контактируют с термобатареями 9 и 10, Одна из пластин имеет в нагретом состоянии (" помнит" ) скрученную вдоль

1751827 продольной оси форму, другая — плоскую форму. При этом в каждой из пластин может осуществляться только прямой фазовый переход мартенсит — аустенит.

При реализации изобретения размеры пластин составляли 10х1,5 80 мм, материал — нитинол. Для уплотнения были использованы поворотные трубки, а термобатареи выбраны типа "Селен", Устройство работает следующим образом.

В исходном состоянии, когда столик занимает горизонтальное положение, обе пластины имеют плоскую форму. Для поворота столика прбгревают первую пластину

6, например, прямым пропусканием через нее импульсов электрического тока (50 В, до

100 А). Прогрев осуществляют до температуры достижения ею области фазового перехода и начала процесса скручивания, угол которого регулируют уровнем прогрева. Эта пластина, скручиваясь, развивает достаточное усилие и скручивает вторую холодную пластину 7 в области пластической деформации, Уменьшение длины скручивающихся- riëàñ èí компенсируется йри этом перемещением свободного конца пластин в направляющих пазах 8 кронштейна 3, Для возврата столика в исходные положения охлаждают с помощью термобатареи 9 первую пластину 6 и прогревают аналогичным образом вторую пластину 7. При этом вторая пластина 7 начинает раскручиваться и пластически деформирует первую пластину

6 так, что обе пластины снова принимают плоскую форму, Затем с помощью термобэтареи 10 охлаждают вторую пластину 7, и цикл наклона может быть повторен снова.

При наклоне столика и возврате в исходное положение прогреваемые пластины преодолевают сопротивление только пластической деформации соответствующих

5 противоположных пластин, благодаря чему влияние каких-либо упругих деформаций исключается.

Использование привода с взаимодействующими пластинами из материала с термо10 механической памятью кроме повышения точности позиционирования позволяет упростить конструкцию устройства наклона в целом и повысить надежность его работы, 15 Формула изобретения

Устройство наклона столика растрового электронного микроскопа, содержащее основание, закрепленнде на кронштейне, который жестко соединен с приводным валом, 20 установленным в корпусе и соединенным с приводом вращения, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности позиционирования столика за счет исключения влияния упругих деформаций, приводной

25 вал выполнен в виде двух соосных вращающихся полых втулок, симметрично расположенных относительно средней плоскости поворота кронштейна, а привод вращения образован двумя пластинами из материала

30 с термомеханической памятью. которые симметрично размещены внутри втулок вдоль их осей, при этом одна из пластин имеет в нагретом состоянии скрученную вдоль продольной оси форму, другая — пло35 скую форму, их внутренние концы размещены в направляющих пазах кронштейна по скользящей посадке, а внешние концы соединены с термобатареями.

1751827

10 иг.

Составитель В.Гаврюшин

Редактор М,Бандура Техред М,Моргентал Корректор М.Демчик

Заказ 2696 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Устройство наклона столика растрового электронного микроскопа Устройство наклона столика растрового электронного микроскопа Устройство наклона столика растрового электронного микроскопа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вакуумной технике и может быть использовано в электронной спектроскопии

Изобретение относится к электроннозондовой технике и может быть использовано для исследования слоистых материалов

Изобретение относится к вакуумным манипуляторам высоковакуумных установок для электронной спектроскопии

Изобретение относится к устройствам для точного дистанционного позиционирования образца и может быть использовано, например, в растровых туннельных микроскопах

Изобретение относится к технике электронной микроскопии

Изобретение относится к диафрагмирующим управляемым устройствам электронной микроскопии и может использоваться в качестве исполнительного механизма, работающего автономно в вакууме

Изобретение относится к области вакуумного машиностроения и может быть использовано в вакуумных установках для нанесения пленочных материалов и для проведения исследований материалов в сверхвысоком вакууме

Изобретение относится к туннельной электронной микроскопии и может быть использовано в приборах для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атомов

Изобретение относится к электровакуумным приборам и может быть использовано для управления положением объектов в растровом электронном микроскопе

Изобретение относится к области оптики и предназначено для использования в качестве дефлектора в системах управления положением оптического луча в пространстве

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов

Изобретение относится к области микроэлектронной техники и может быть использовано при разработке технологического и тестового оборудования

Изобретение относится к области литографии и касается опорной структуры подложки. Прижатие подложки к поверхности опорной структуры осуществляется посредством капиллярного слоя жидкости. Поверхность опорной структуры имеет внешнюю кромку и включает в себя опорные элементы, предназначенные для приема прижимаемой подложки в нескольких опорных местоположениях. Опорная структура подложки дополнительно включает в себя герметизирующую структуру, которая ограничивает поверхность и имеет кромку, образующую герметизирующий обод. Расстояние между внешней кромкой поверхности и самым внешним из опорных местоположений является большим, чем расстояние между внешней кромкой поверхности и герметизирующим ободом. Расстояние между герметизирующим ободом и самым внешним местоположением опоры больше, чем максимальное расстояние между соседними опорными местоположениями. Технический результат заключается в увеличении прижимного усилия, уменьшении загрязнения вакуумной среды и увеличении срока службы устройства. 3 н. и 12 з.п. ф-лы, 30 ил.

Группа изобретений относится к приготовлению образца для минералогического анализа в электронно-лучевой системе в нефтегазовой и горнодобывающей отраслях. По первому варианту способа забирают минералогический образец для анализа, сушат его и отделяют от собранного образца более мелкую представительную аликвоту и помещают вместе аликвоту и оба компонента быстросхватывающегося двухкомпонентного фиксирующего состава на основе эпоксидной смолы в форму образца. Производят отверждение фиксирующего состава в течение 3 мин и добавляют аликвоту к фиксирующему составу в форме, смешивают аликвоту и фиксирующий состав в форме в автоматическом смесителе. Причем упомянутое смешивание начинается в течение 30 секунд с момента добавления аликвоты к фиксирующему составу в форме. Обеспечивают возможность отверждения фиксирующего состава для формирования отвержденной заготовки образца в форме, разрезают форму и отвержденную заготовку образца для удаления верхней части отвержденной заготовки образца и вскрытия плоской внутренней поверхности образца, и без шлифовки или полировки поверхности образца наносят слой проводящего материала на поверхность образца для получения образца для анализа. По второму варианту способа объединяют образец с неотвержденным фиксирующим составом на основе эпоксидной смолы, смешивают образец и фиксирующий состав в форме в автоматическом смесителе. Обеспечивают возможность отверждения фиксирующего состава для формирования отвержденной заготовки образца в форме. Разрезают форму и отвержденную заготовку образца для удаления верхней части отвержденной заготовки образца и вскрытия плоской внутренней поверхности образца. Наносят слой проводящего материала на поверхность образца для получения образца для анализа. Устройство содержит систему дозирования для дозирования неотвержденного фиксирующего состава на основе эпоксидной смолы, систему смешивания для смешивания неотвержденного фиксирующего состава с минералогическим образцом в форме, резак для разрезания отвержденного фиксирующего состава и минералогического образца в форме при разрезании самой формы, обеспечивающий без шлифовки достаточно гладкую поверхность образца для анализа образца с помощью пучка электронов. 3 н. и 17 з.п. ф-лы, 12 ил.
Наверх