Устройство для измерения профиля объекта

 

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, предназначено для бесконтактного оперативного обмера профиля объекта и может быть использовано в метрологических лабораториях и на машиностроительных заводах. Цель изобретения состоит в расширении диапазона контролируемых объектов. Лучи света от источника 1 света отражаются внутренним и внешним элементами выпуклого трехэлементного зеркала 2 на элементы вогнутого трехэлементного зеркала 3. Так как образующие элементов зеркала 3 имеют формы дуги эллипса и дуги параболы, то лучи света, пересекаясь на оси устройства, формируют интерференционное поле с продольной модуляцией интенсивности. Лучи света, отраженные объектом, отражаясь последовательно от зеркал 3 и 2, попадают на фотоприемник 4. При перемещении устройства с помощью системы 5 перемещения на выходе фотоприемника 4 формируется переменный электрический сигнал, который обрабатывается в блоке 6 записи данных. 3 ил. W fe VI ел со Ю Os о Фиг1

СОЮЗ СОВЕТСКИХ .

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5!)5 6 01 В 11/24. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР!

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ !

Ql

Ср3

Ю

О

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4788616/28 (22) 06.02.90 (46) 07.08.92. Бюл. hh 29 (71) Объединенный институт ядерных иссле. дований (72) Л. М. Сороко . (56) Авторское свидетельство СССР

Q 1680058, кл. 6 01 В 11/24, 1990. (54) УСТРОЙСТВО PJlR ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЯ ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к контрольноизмерительнойтехнике, преднаэначенодля бесконтактного оперативного обмера профиля объекта и может быть использовано в метрологических лабораториях и на машиностроительных заводах. Цель изобретения состоит в расширении диапазона контроли„„5U„, 1753260 А1 руемых объектов. Лучи света.от источника 1 света отражаются внутренним и внешним элементами выпуклого трехэлементного зеркала 2 на элементы вогнутого трехэлементного зеркала 3, Так как образующие элементов зеркала 3 имеют формы дуги эллипса и дуги параболы, то лучи света. пересекаясь на оси устройства, формируют интерференционное поле с продольной модуляцией интенсивности, Лучи света, отраженные объектом. отражаясь последовательно от зеркал 3 и 2, попадают на фотоприемник 4. При перемещении устройства с помощью системы 5 перемещения на выходе фотоприемника 4 формируется переменный электрический сигнал, который обрабатывается в блоке 6 записи данных. 3 ил.

1753260

Изобретение относится к контрольноизмерительнойтехнике,предназначенодля бесконтактного оперативного обмера профиля объекта и может быть использовано в метрологических лабораториях и на машиностроительных заводах, Для бесконтактного измерения профиля обьекта используют систему из лазера и двух или более электронных теодолитов, Обмеряемая точка объекта освещается пучком света от лазера. Положение освещенной точки обьекта в пространстве в системе координат X. Y, Z определяется методом засечек и ри помощи двух-четырех электронных теодолитов позволяет определить координаты X, Y освещенной точки при помощи компьютера, Недостаток подобной системы измерения профиля объекта состоит в том, что погрешность измерения в ней ограничена диаметром пучка .света от лазера, который составляет около 0,1 мм, а также в том, что система обладает низким быстродействием, Последнее вытекает из того, что для бесконтактйого измерения профиля объекта последний необходимо освещать. последовательно во многих точках объекта путем изменения ориентации пучка света ot лазера и электронных теодолитов.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является устройство для измерения профиля роговицы глаза (кератометр), содержащее точечный источник света, систему освещения, объектив, точечный фотоприемник, блок записи данных, а также систему перемещения и контроля по ложения устройства относительно обьекта, система освещения и объектив выполнены . в виде единого блока из выпуклого трехэлементного зеркала из трех поясков, внутреннего, среднего и внешнего, и вогнутого трехзлементного зеркала из трех поясков, внутреннего, среднего и внешнего, образующие поясков выпуклого трехэлементного зеркала имеют вид прямых линий, образующие поясков вогнутого трехэлементного зеркала имеют вид дуг парабол; фокус дуг парабол внутреннего и внешнего поясков выпуклого трехэлементного зеркала находится в точке, где расположено мнимое изображение точечного источника света, формируемое внутренним и внешним поясками выпуклого трехэлементного зеркала, фокус дуги параболы среднего пояска выпуклого трехэлементного зеркала находится в точке, где расположено мнимое изображение точечного фотоприемника, формируемое средним пояском выпуклого трехэлементного зеркала, точечный источник света и точечный фотоприемник жестко

20 него элемента в виде дуги эллипса, первый

35

45

5

10 скреплены с системой освещения и с объективом, Недостаток прототипа состоит в том, что обмеряемый объект должен иметь достаточно простой и плавный профиль.

Цель изобретения — расширение диапазона контролируемых обьектов.

Поставленная цель достигается тем, что в устройстве, содержащем последовательно установленные точечный источник света, объектив, включающий оптически связанные выпуклое трехэлементное коническое зеркало и вогнутое трехэлементное коническое зеркало, фотоприемник, блок регистрации, электрически связанный с фотоприемником, и систему перемещения и контроля положения устройства, при этом вогнутое трехэлементное коническое зеркало выполнено с образующей внешнего или внутренфокус которого расположен в точке, где находится мнимое изображение точечного источника света, формируемое внешним или внутренним, соответственно, элементом выпуклого трехэлементного зеркала, а второй фокус эллипса находится в точке, равноудаленной от поверхности этого элемента и от точки пересечения пучков света с осью симметрии устройства, Отличи-ельными признаками предлагаемого устройства являются образующая внешнего или внутреннего элемента выполнена в виде дуги эллипса; первый фокус указанного эллипса расположен в точке, где находится мнимое изображение точечного источника света, формируемое внешним или внутренним, соответственно, элементом выпуклого трехэлементного зеркала; второй фокус указанного эллипса находится в точке, равноудаленной от поверхности этого элемента и от точки пересечения пучков света с осью симметрии устройства.

На фиг. 1 представлена схема устройства для измерения профиля объекта; на фиг.

2 — вид продольной модуляции интенсивности света; на фиг.,3 — выходные, сигналы устройства при измерении двух видов обьектов, Устройство содержит точечный источник 1 света, выпуклое трехэлементное зеркало 2, вогнутое трехэлементное зеркало 3, фотоприемник 4, систему 5 перемещения и контроля положения устройства относительно объекта и блок записи данных, Устройство работает следующим образом.

Включают точечный источник 1 света, точечный фотоприемник 4, систему 5 перемещения и контроля положения устройства относительно объекта, а также блок 6 запи1753260 си данных, Объект подводят к устройству так, чтобы перепад глубины объекта не превышал длину участка, на котором происходит продольная модуляция интенсивности света. Затем дают команду системе 5 пере- 5 мещения и контроля положения устройства, и оно начинает перемещаться вместе с точечным источником 1 света, выпуклым трехэлементным зеркалом 2, вогнутым трехэлементным зеркалом 3 и точечным фо- 10 топриемником 4.Перемещение идет вдоль направления, которое перпендикулярно оптической оси устройства и соответствует минимальному перепаду глубин обмеряемого объекта. После окончания обмера движение 15 прекращают и возвращают устройство в исходное положение. В блок 6 записи данных поступают все необходимые данные об объекте с любым профилем. Описанные операции можно повторить требуемое число раз 20 с одним и тем же объектом, или перейти к измерению профиля другого объекта, При работе устройства происходит следующее. Лучи света из точечного источника

1 света освещают выпуклое трехэлементное 25 зеркало 2. Отраженные от внутреннего и внешнего элементов выпуклого трехэлементного зеркала 2 лучи света попадают на внутренний и внешний элементы вогнутого трехэлементного зеркала 3 соответственно, 30

Так как образующие указанных двух элементов вогнутого трехэлементного зеркала

3 отличаются друг от друга, а именно одна из образующих является дугой эллипса, а другая — другой параболы, то лучи света, 35 отраженные от указанных двух элементов трехэлементного зеркала 3,- пересекаются на оптической оси устройства таким образом, что угол между волновыми векторамй интерферирующих полей изменяется вдоль 40 оптической оси устройства. Возникает продольная модуляция интенсивности. света (фиг, 2). В точке, ближайшей к устройству, период модуляции интенсивности света меньше периода модуляции йнтенсйвности света в точке, удаленной от устройства. Это приводит к тому, что устройство теперь способно отличать один от другого два объекта с профилями А и Б (фиг. 1), которые в прототипе дали тождественные цуги импульсов фототока, На фиг, 3 видно; что цуг импульсов фототока от объекта с профилем А (вверху) существенно отличается Ьт цуга импульсов фототока от объекта с профилем В (внизу), Тем самым удается "снять ограййчение на класс объектов, профили которых можно од нозначно измерять данным устройством.

Формула изобретения

Устройство для измерения профиля объекта, содержащее последовательно установленные точечный источник света, объектив, включающий оптические связанные выпуклое трехэлементное коническое зеркало и вогнутое трехэлементное коническое зеркало, фотоприемник, блок регистрации, электрический связанный с фотоприемни ком, и систему перемещения и контроля положения устройства, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения диапазона контролируемых объектов, вогнутое трехэлементное коническое зеркало выполнено с образующей внешнего или внутреннего элемента в виде дуги эллипса, первый фокус которого расположен в точке, где находится мнимое изображение точечного источника света, формируемое внешним или внутренHMM соответственно элементом выпуклого трехэлементного зеркала, а второй фокус эллипса находится в точке, равноудаленной от поверхности этого элемента и 0Т точки пересечения пучков света сосью симметрии устройства.

1753260

Составитель М.Минин

Техред М,Моргентал

Редактор О. Головач

Корректор Е,Папп

Производственно-издательский комбинат "Патент", r Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 2758 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открмтиям при ГКЙТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Устройство для измерения профиля объекта Устройство для измерения профиля объекта Устройство для измерения профиля объекта Устройство для измерения профиля объекта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, например, при измерении больших по величине (свыше 1000 мм) радиусов кривизны высокоточных оптических деталей, в том числе и пробных стекол

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения криволинейных поверхностей отражателей гелиостатов, их фокусировки и формирований радиусов кривизны

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к неразрушающему контролю когерентно-оптическими методами качества полированных отражающих преимущественно плоских поверхностей , например кремнеевых пластин большого диаметра для производства микросхем (вейферов)

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения линейных размеров деталей

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к поверке точности воспроизведения исходной прямой оптических линеек, предназначенных для контроля прямолинейности и плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для контроля формы вогнутых асферических поверхностей монолитных и составных зеркал

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения профилей поверхностей местностей в геодезии, для измерения неровностей дорог и аэродромов, для измерения: положения объектов и измерения профиля изделий в машиностроении

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, предназначено для контроля качества линз и объективов и может найти применение в производстве , занятом их изготовлением

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля оптических деталей с вогнутыми эллиптическими поверхностями

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактных измерений профиля деталей типа тел вращения, а также слабой волнистости поверхности в виде пространственной функции

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля технического состояния рельсового подвижного состава

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса
Наверх