Способ контроля качества поверхности изделия

 

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к области производства электронно-лучевых приборов, а именно к способам контроля качества алюминиевой пленки экранных покрытий электронно-лучевой трубки (ЭЛТ). Цель изобретения - обеспечение возможности определения отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ. КонтроЬ Уч Чч ч лируемый экран б устанавливают в фиксированное положение по отношению к источнику 1 излучения и фотоприемникам 2 и 3 на плиту 8 до упора к фиксаторам 7. Калибруют мощность излучения источника 1 излучения. Направляют луч лазера нн экран б. Фотоприемник 2 располагают в максимуме диаграммы рассеяния и снимают показания измерительного устройства 4. Фотоприемник 3 располагают под углом 45-55° относительно максимума и снимают показания измерительного устройства 5. С помощью градуировочных кривых производят пересчет показаний измерительного устройства в коэффициент зеркального отражения, коэффициент диффузного отражения, коэффициент полного отражения, по которым определяют отражательную способность алюминиевой пленки экрана, Перемещая экран по фиксаторам 7, обеспечивающим постоянство расстояний и углов измеряемого участка относительно источника 1 света и фотоприемников 2 и 3, определяют отражательную способность алюминиевой пленки на поверхности всего экрана 6. 1 ил. Х| Х| ГО о 8

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (l9) (It) (s>)s G 01 В 11/30

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4848993/28 (22) 10.07.90 (46) 30.10.92. Бюл. М 40 (71) Львовский политехнический институт им.: Ленинского комсомола (72) В;В.Имшенецкий. Э.В.Новаковская и

Б.С.Югас (56) Спектрофотометр регистрирующий

СФ вЂ” 14. Инструкция к пользованию, ордена

Ленина Ленинградское оптико-механическое объединение, 1970.

Авторское свидетельство СССР

М 508670, кл. G 01 В 11/30, 29.09.72. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЯ (57) Изобретение относится к измерительной технике, в частности к области производства электронно-лучевых приборов, а именно к способам контроля качества алюминиевой пленки экранных покрытий электронно-лучевой трубки (ЭЛТ). Цель изобретения — обеспечение возможности определения отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ. Конт0олируемый экран 6 устанавливают в фиксированное положение по отношению к источнику 1 излучения и фотоприемникам 2 и 3 на плиту 8 до упора к фиксаторам 7. Калибруют мощность излучения источника 1 излучения.

Направляют луч лазера на экран 6, Фотоприемник 2 располагают в максимуме диаграммы рассеяния и снимают показания измерительного устройства 4. Фотоприемник 3 располагают под углом 45-55 относительно максимума и снимают показания измерительного устройства 5. С помощью градуировочных кривых производят пересчет показаний измерительного устройства в коэффициент зеркального отражения, коэффициент диффузного отражения, коэффициент полного отражения, по которым определяют отражательную способность алюминиевой пленки экрана, Перемещая экран по фиксаторам 7, обеспечивающим постоянство расстояний и углов измеряемого участка относительно источника 1 света и фотоприемников 2 и 3, определяют отражательную способность алюминиевой пленки . а на поверхности всего экрана 6. 1 ил, 4

177261 Q

50

Изобретение относится к области производства электронно-лучевых приборов, а именно к способам контроля качества алюминиевой пленки экранных покрытий электронно-лучевой трубки (ЭЛТ).

Известен способ контроля отражательной способности алюминиевой пленки, основанный на измерении. интегрального коэффициента отражения при помощи шарового фотоэлектрического спектрофотометра (спектрофотометр регистрирующий

СФ-14).

Недостатком такого способа является низкая точность и производительность контроля отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ., Наиболее близким к предлагаемому способу является способ. определения чистоты обработки поверхности материала по . форме диаграммы рассеяния отраженного светового потока, которая характеризуется ее отражательной способностью.

Недостатком данного способа является невозможность определения отражательной способности алюминиевой пленки на экране ЭЛТ, вследствие того, что он имеет сферическую форму. А зто обуславливает сложность обеспечения попадания светового луча в одну точку экрана при его повороте. Еще. более сложно обеспечить необходимую точность измерений при контроле отражательной способности алюминия по всей поверхности экрана.

Цель изобретения — повышение точности и производительности контроля отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ.

Согласно предлагаемому способу устанавливают экран электронно-лучевой трубки в фиксированное положение по отношению к источнику излучения и двум фотоприемникам, направляют световой поток от источника излучения на контролируемый участок поверхности экрана, Регистрируют отраженный от поверхности световой поток двумя фотоприемниками одновременно в двух точках. Один из фотоприемников располагают в максимуме диаграммы рассеяния и по величине отраженного светового потока в максимуме определяют величину зеркального отражения алюминиевой пленки экрана, а второй фотоприемник располагают под углом 45-55 относительно максимума и измеряют отраженный световой поток, который зависит от степени шероховатости алюминиевой пленки экрана. По его величине определяют величину диффузного отражения. С помощью градуировочных кривых по величинам отраженных световых потоков, измеренных фотоприемниками, находят коэффициенты зеркального, диффузного и полного отражения, Предлагаемый способ поясняется чертежом, На чертеже представлены: 1 — источник направленного излучения; 2 — фотоприемник, расположенный в максимуме диаграммы рассеяния; 3 — фотоприемник, расположенный под углом 45 -55О относительно максимума диаграммы рассеяния; 4 — измерительное устройство в цепи фотоприемника 2; 5- измерительное устройство в цепи фотоприемника 3; 6-алюминированный экран ЭЛТ; 7 — фиксаторы экрана; 8— гглита установки.

Контролируемый экран 6 устанавливают в фиксированное положение по отношению к источнику излучения 1 и фотоприемникам 2 и 3 на плиту 8 до упора к фиксаторам 7. Калибруют мощность излучения источника излучения 1 (лазер Л ГН-105)..

Направляют луч лазера на контролируемый экран 6. Фотоприемник 2 (фотодиод ФД124 к) располагают в максимуме диаграммы рассеяния и снимают показания измерительного устройства 4 (усилитель на микросхеме К 140 УД7 с вольтметром на выходе) в цепи фотодиода ФД1.

Фртоприемник 3 (фотодиод ФД2 — 24 к) располагают под углом, например, 50 относительно максимума и снимают показания измерительного устройства 5 (усилитель на микросхеме К 140 УД7 с вольтметром на выходе) в цепи.фотодиода ФД2.

С помощью градуировочных кривых производят пересчет показаний измерительного устройства в коэффициент зеркального отражения {цепь фотодиода ФД1), коэффициент диффузного отражения (цепь фотодиода ФДг), коэффициент полного отражения (цепи фотодиодав ФД и ФД2), по которым определяют отражательную способность алюминиевой пленки экрана.

Перемещая экран по фиксаторам 7, обеспечивающим постоянство расстояний и углов измеряемого участка относительно источника света и фотоприемников, определяют отражательную способность алюминиевой пленки на поверхности всего экрана.

Использование заявляемого изобретения позволяет: с более высокой степенью точности контролировать отражательную способность пленки алюминия на экране

ЭЛТ по всей поверхности при их массовом производстве.; повышает производительность измерений по контролю отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ; дает воэможность дальнейшей корректировки технологических режи1772619

Составитель 3. Новаковская

Техред М.Моргентал Корректор М. Максимишинец

Редактор

Заказ 3837 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 мов нанесения пленки алюминия; увеличивать яркость свечения за счет улучшения отражательной способности пленки алюминия.

Формула изобретения

Способ контроля качества поверхности изделия, заключающийся в том, что направляют световой поток от источника излучения . на контролируемый участок поверхности, регистрируют отраженный от поверхности световой поток, получают диаграмму рассеяния отраженного от поверхности светового потока и по форме этой диаграммы судят о качестве поверхности изделия, о. т л и ч а ю шийся тем, что, с целью обеспечения возможности определе. ния отражательной способности алюминиевой пленки экрана электронно-лучевой трубки, регистрацию отраженного от повер5 хности светового потока производят двумя фотоприемниками одновременно в двух точках, соответственно в максимуме диаграммы рассеяния и под углом 45-55 относительно максимума, экран электронно-лучевой трубки

10 устанавливают в фиксированное положение по отношению к источнику излучения и фотоприемникам и определяют отношение этих потоков, по которому судят об отражательной спосоойости алюминиевой пленки экрана

15 электронно-лучевой трубки.