Устройство для определения относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения

 

Сущность изобретения: иепользуют тепловое излучение модулятора с селективно отражающими секторами, изображение которого строится на исследуемом приемнике. 1 ил.

союз соВетских

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)л G 01 J 1/04

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4669488/25 (22) 30,03.89 (46) 07,11.92. Бюл. М 41 (71) Государственный институт прикладной оптики (72) В.А.Андреев, Н.М.Михайлов и А.E.Морозов (56) 1.ГОСТ 17772 — 88. Приемники излучения, полупроводниковые и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и характеристик, с.34 — 38, черт.21.

2. Борисов В.А. идр. Измерение параметров приемников оптического излучения, под ред, Л.Н,Курбатова и Н.В.Васильченко, M,:

Радио и связь, 1983, с,282 — 294, Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться при измерении относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения.

Известно устройство для определения относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения, содержащее источник излучения, модулятор, монохроматор, аттестованный приемник излучения, измерительный тракт аттестованного приемника излучения с регистрирующим устройством,. держатель исследуемого приемника с вторым измерительным трактом и регистрирующим устройством (1).

Для определения относительной спектральной характеристики чувствительности с помощью монохроматора выделяют последовательно требуемые длины волн из потока излучения источника, которые модулируют и направляют на аттестован„„ Ы„„1774191 Al (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ

ОТНОСИТЕЛЬНОЙ СПЕКТРАЛЬНОЙ ХАРАКТЕРИ СТИ КИ ЧУВ СТВ ИТЕЛ Ь НОСТИ

ОХЛАЖДАЕМЫХ ПРИЕМНИКОВ ИЗЛУЧЕНИЯ (57) Сущность изобретения: используют тепловое излучение модулятора с селективно отражающими секторами, изображение которого строится на исследуемом приемнике. 1 ил, ный и исследуемый приемники излучения.

Значение относительной спектральной характеристики чувствительности на требуемой длине волны Л определяют по формуле п1 П Л макс 4

Ъ П р макс 3 где п — показание прибора, регистрирую- фь щего сигнал в цепи исследуемого приемни- а ка излучения; ) О

m> — показание прибора, регистрирующего сигнал в цепи аттестованного приемника излучения;

n макс — показание прибора, регистрирующего сигнал в цепи исследуемого при- емника излучения в максимуме относительной спектральной характеристики чувствительности;

m макс — показание прибора, регистрирующего сигнал в цепи аттестованного приемника излучения в максимуме . относительной спектральной характеристи1774191

10

45.

50 ки чувствительности исследуемого приемника излучения.

На основании измеренных и вычисленных результатов строят график относительной спектральной характеристики чувствительности исследуемого приемника излучения Sg = fP)

Недостатком известного устройства является низкая точность измерений из-за изменения спектрального состава источника излучения в процесе измерения, высокая трудоемкость и длительность измерительных процессов, необходимость сложной контрольно-измерительной аппаратуры и высококвалифицированных специалистовизмерителей.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому является устройство для определения относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения, содержащее оптически связанные секторный модулятор с приводом вращения, объектив, держатель исследуемого приемника излучения с входом, синхронно соединенным с модулятором, регистрирующее устройство, источник излучения и монохроматор.

Для определения относительной спектральной характеристики чувствительности с помощью монохроматора из потока излучения источника выделяют последовательно световые пучки требуемой длины волны, которые модулируют с помощью модулятора, фокусируют с помощью объектива и направляют на аттестованный и исследуемый приемники излучения, Для каждой выбранной длины волны снимают показания приборов, регистрирующих сигнал B цепи исследуемого приемника, сигнал в цепи аттестованного приемника, сигнал в цепи исследуемого приемника в максимуме относительной спектральной ха ра ктеристики чувствител ьности, сигнал в цепи аттестованного приемника излучения в максимуме относительной спектральной характеристики чувствительности исследуемого приемника излучения.

Затем по этим данным вычисляют значение относительной спектральной характеристики чувствительности приемника на каждой выбранной длине волны излучения согласно приведенной выше формулы, после чего на основании полученных результатов строя график относительной спектральной характеристики чувствительности приемника излучения Я7,= ф), (2), Недостатки известного устройства, как и рассмотренного выше аналога, — низкая точность измерений, обусловленная трудностями обеспечения высокой стабильности режимов питания источника излучения, потребляемого десятки и более ампер тока, вследствие чего спектральный состав источника излучения изменяется в.процессе измерения; высокая трудоемкость и длительность измерительных процессов, вызванные большим объемом измеряемых параметров, вычислений и построения графика относительной спектральной характеристики чувствительности приемника излучения; необходимость высококвалифицированного специалиста-измерителя, вызванная сложностью обслуживания установки и измерительных процессов, Цель изобретения — повышение оперативности и точности определения относительной спектральной характеристики чувствительности охла>кдаемых приемников излучения.

Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для определения относительно спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения, содержащем оптически связанные секторный модулятор с приводом вращения, объектив, держатель, исследуемого приемника излучения с входом, синхронно соединенным с модулятором, регистрирующее устройство, согласно изобретению сектора модулятора выполнены в виде узкополосных селективно отра>кающих зеркал с различающимися по спектру максимумами коэффициента отражения, а модулятор установлен в плоскости, оптически сопряженной с плоскостью держателя исследуемого приемника и соединен с входом синхронизации.

На чертеже показана принципиальная схема предлагаемого устройства для определения относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения, Устройство содержит оптически связанные модулятор 1 с секторами 2 и с приводом для вращения, объектив 3, приемник 4 излучения, закрепленный в держателе 5, и регистрирующий осциллограф 6, При этом модулятор 1 установлен в плоскости, оптически сопряженной с плоскостью держателя

5, в которой расположен исследуемый приемник 4, и соединен с входом синхронизации осциллографа 6, Секторы 2 модулятора. 1 выполнены в виде узкополосных селективно отражающих зеркал с различающимися по спектру максимумами коэффициента отражения, для чего на подложку модулятора нанесены зеркальные сектора из алюминия с коэффициентом отражения, равным 0,91, а на слой алюминиевых секторов нанесена

1774191 дифрешетка с коэффициентом отражения в максимуме спектра отражения, равным 0,9 от коэффициента отражения зеркального покрытия, в результате чего реальный коэффициент отражения сектора 2 s максимуме спектра отражения составляет рс = 0,8. 5

Устройство работает следующим образом. Модулятор 1, вращаясь с постоянной скоростью, синхронизирует развертку луча осциллографа 6 так, что за один оборот модулятора 1 луч осциллографа 6 просканиру- 10 ет одну строку на экране, При совмещении с помощью обьектива 3 изображения подложки модулятора 1 (промежутка между зеркальными секторами 2) с чувствительным элементом приемника 4 излучения на 15 чувствительный элемент фокусируется поток излучения от этой площадки, находящейся при температуре окружающего пространства (при комнатной температуре), в результате чего на выходе приемника по- 20 является сигнал. При совмещении с поверхностью чувствительного элемента приемника 4 изображения сектора 2 сигнал этот уменьшается, так как зеркало отражает на чувствительную площадку излучение са- 25 мой чувствительной площадки, которая охлаждена по отношению окружающего пространства, причем изменение сигнала зависит от того, какой чувствительностью обладает приемник в той области спектра, в 30 которой зеркальные секторы 2 отражают.

За полный оборот модулятора по чувствительному элементу приемника переместятся изображения всех зеркальных секторов

2, перекрывающих своими отражательными 35 характеристиками весь исследуемый спектральный диапазон. Сигнал с выхода приемника излучения подается на осциллограф 6, где по оси в направлении развертки луча

40 откладываются длины волн, а па оси, ей перпендикулярной, — значения относительно спектральной характеристики чувствительности приемника.

Описанное устройство характеризуется повышенной точностью измерения благодаря тому, чта отражательные характеристики зеркальных секторов постоянны во времени, в результате чего обеспечивается постоянство спектрального состава в процессе измерений, при этом исключаются ошибки, возникающие из-за указанных выше влияний аттестованных приемников. Любое количество точек спектральной шкалы измеряются за один цикл развертки осциллографа или за один оборот вращения модулятора. благодаря чему повышается быстродействие и оперативность процесса измерения.

Формула изобретения

Устройства для определения относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения, содержащее оптически связанные секторный модулятор с приводом вращения, абьектив, держатель исследуемого приемника излучения с входом, синхронносоединенным с модулятором, регистрирующее устройство, а т л и ч а ю щ е е с я тем, чта, с целью повышения оперативности и точности определения относительной спектральной чувствительности охлаждаемых приемников излучения, секторы модулятора выполнены в виде узкополосных селективно отражающих зеркал с различающимися по спектру максимумами коэффициента отражения, а модулятор установлен в плоскости, оптически сопряженной с плоскостью держателя исследуемого приемника, и соединен с входам синхронизации.

1774191

Составитель Н.Михайлов

Редактор С. Кулакова Техред M.Ìoðãåíòàë Корректор Л. Ливринц

Заказ 3920 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Устройство для определения относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения Устройство для определения относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения Устройство для определения относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения Устройство для определения относительной спектральной характеристики чувствительности охлаждаемых приемников излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к фотометрии, а именно к регистрации оптического излучения и технике определения направления на источник излучения и может быть использовано в бортовых фотоприемкых устройствах в целях ориентации и навигации

Изобретение относится к области оптического приборостроения, а именно к технике регистрации оптического излучения, и может быть использовано в автономных устройствах измерения параметров оптических сигналов (мощность, энергия, длина волны излучения и т.д.)

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для оперативной смены оптических элементов, например диафрагм, светофильтров и других

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх