"контактное устройство для подключения интегральных схем с "dip" корпусом"
Сущность изобретения: устройство содержит диэлектрическое основание с закрепленными в нем контактными элемента-, ми в виде гибких пластин-держателей и контактов-нэконечников,каждый контакт-наконечник выполнен в виде пластины , изогнутой под углом от 0 до 90°, причем линия перегиба делит пластину на две части, одна из которых, торцом контактирующая к выводу микросхемы, имеет отношение стороны, перпендикулярной плоскости симметрии контактного элемента , к другой стороне торца более 2:1, а другая часть пластины имеет площадь части, присоединяемой к гибкой пластине-держателю , большую не менее чем в 5 раз площади торца, контактирующего к выводу микросхемы, что повышает надежность контактирования . 2 ил,
г 1К ) i OHI I <. h,! IX
Г ОЦЬ1И 1ИС1ИЧ1 СКИХ
Г ГСПИВ 111К (511 Н 05 К 1/18
ГОСУДАРСтВЕг!НОЕ I1ATFIITIIOF
ВедОмстВО сссР (ГОсплтент сссР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4867676./21 (22) 19.09.90 (46) 28.02,93, Бюл. ¹ 8 (71) Н ауч но-и ссл едо в а тел ьс к ий институт точной технологии (72) Ю.Г, Иванов, И.П. Лазаренко, В.Б. Лопатин и Н,И, Сидоренко (56) Шабанов А.А., Хамидулмен P.P. Контактные устройства для контроля изделий микроэлектроники, M.. P. и С., 1985.
Патент Японии N 46 — 43163, кл, G 01 R 3 I /28, 1971. (54) КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДКЛЮЧЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ С
"DIP" КОРПУСОМ (57) Сущность изобретения; устройство содержит диэлектрическое основание с заИзобретение относится к области электроники, в частности к конструкциям контактных устройств для подключения интегральных схем.
Целью изобретения является повышение надежности контактирования к выводам микросхемы за счет одновременного уменьшения контактного переходного сопротивления и увеличения прочности соединения контакта-наконечника с упругой пластиной, На фиг,1 изображено контактное устройство в сборе: 1 — основание, 2 — контактные элементы, 3 — контактируемая микросхема. На фиг.2 изображен контактный элемент: 4 — гибкая пластина-держатель, 5 — наконечник. Число контактных элементов соответствует числу выводов измеряемой микросхемы. контактные элементы размещаются в пазах диэлектрических пластин основания, после чего пластины
„., SU ÄÄ 1798939 А1 крепленными в нем контактными элементами в виде гибких пластин-держателей и контакт ов-наконечников, каждый контакт-наконечник выполнен в виде пластины, изогнутой под углом от 0 до 90О, причем линия перегиба делит пластину на две части, одна из которых. торцом контактирующая к выводу микросхемы, имеет отношение стороны, перпендикулярной плоскости симметрии контактного элемента, к другой стороне торца более 2:1, а другая часть пластины имеет площадь части, присоединяемой к гибкой пластине-держателю, большую не менее чем в 5 раз площади торца, контактирующего к выводу микросхемы, что повышает надежность контактирования. 2 ил, стягиваются, В собранном КУ с одной стороны диэлектрического основания (из трех пластин) размещаются части контактных элементов, которые контактируют к выво. дам микросхемы, с другой — части КЭ, которые подключаются к согласующему устройству. Контактные элементы могут быть подпружинены дополнительными плоскими пружинами, если необходимо увеличить.усилие прижатия, B конкретном исполнении КУ гибкие пластины контактных элементов выполнены из стали 65Г толщиной 0,2 мм, шириной 1,9 мм и закалены до 48 — 52 HRC. Контакты выполнены из никеля толщиной 0,4 мм, шириной 1,9 мм в месте контакта на вывод микросхемы и 1,2 в месте соединения с гибкими пластинами. Соединение контакта и пластины произведено пайкой припоем
ПОС вЂ” 61.
1798939
Использование заявляемого изобретения позволяет, как показывают результаты опытной эксплуатации:
1. Увеличить надежность контактирования микросхем во время технологического процесса контроля электропараметров. что приводит к увеличению выхода годных микросхем на этой операции более, чем на 1%, 2. Увеличить долговечность контактного устройства примерно в 3 раза, что приводит к снижению простоев оборудования, свя; занных с заменой КУ, Формула изобретения
Контактное устройство для подключения интегральных схем с "DlP" корпусом, содержащее диэлектрическое основание с, закрепленными в нем контактными элементами, выполненными в виде гибких пластин держателей с присоединенными к ним кон тактами-наконечниками, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения надежно
5 сти контактирования к выводам микросхе мы, каждый контакт-наконечни» выполнен в виде, пластины, изогнутой под углом от 0 до 90, причем торец пластины контактирующий к выводу микросхемы, имеет отношение стороны, перпендикулярной плоскости симметрии контактного элемента, к другой стороне торца более 2:1, а площадь части пластин, плоскостью присоединяемая к гибкой пластине-держа"5 телю, больше площади торца, контактирующего к выводу микросхемы, не менее чем в пять раз.
Составитель И. Саришвили
Техред М.Моргентал Корректор П. Гереши
Редактор А. Бер
Производственно-издательский комбинат "Патен ", г. Ужгород, ул;Гагарина, 101
Заказ 781 Тираж Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35. Раушская наб., 4/5
