Способ определения индикатрис инфракрасного излучения орбитальных летательных аппаратов

 

Использование: способ определения индикатрис инфракрасного излучения орбитальных летательных аппаратов может быть использован для обнаружения летательных аппаратов. Сущность: геометрически подобную модель летательного аппарата устанавливают в тепловакуумной камере в заранее заданное пространственное положение относительно имитатора Солнца, включают имитатор Солнца и группу ламп имитатора отраженного солнечного измерения , положение которой определяют направлением солнечного излучения и положением летательного аппарата относительно освещенной Солнцем части Земли, измеряют распределение температур поверхности модели летательного аппарата, устанавливают модель летательного аппарата в заданное положение относительно имитатора Земли, воспроизводят измеренное распределение температур на модели летательного аппарата посредством встроенных секционных нагревателей, включают имитатор собственного излучения Земли и определяют силу излучения в различных угловых направлениях. 4 ил. ел с

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (Я)5 6 01 J 5/50

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4882075/25 (22) 14.11.90 (46) 07.03,93.Бюль 9 (71) Центральный аэрогидродинамический институт им. проф, Н,Е.Жуковского (72) Ю,Ф.Потапов, В.П,Суворов и В.В.Витковский (56) Заметность летательных аппаратов в

ИК-области спектра, Обзор ОНТИ, ЦАГИ, М

628,.1983 г.

Козлов Л.В., Нусинов M.Ä. и др. Моделирование тепловых режимов космического аппарата. М,: Машиностроение, 1971, с.122130. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНДИКАТРИС ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ОРБИТАЛЬНЫХ ЛЕТАТЕЛЬНЫХ АППАРАТОВ (57) Использование: способ определения индикатрис инфракрасного излучения орбитальных летательных аппаратов может быть использован для обнаружения летательных

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для получения в лабораторных условиях индикатрис излучения летальных аппаратов (ЛА) при внеатмосферном орбитальном полете: .около Земли, Определение индикатрис излучения необходимо для решения разнообразных вопросов заметности ЛА в инфракрасной (ИК) области спектра.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей путем определения силы излучения в более широ„„533 1800293 А1 аппаратов, Сущность: геометрически подобную модель летательного аппарата устанавливают в тепловакуумной камере в заранее заданное пространственное положение относительно имитатора Солнца, включают имитатор Солнца и группу ламп имитатора отраженного солнечного измерения, положение которой определяют направлением солнечного излучения и положением летательного аппарата относительно освещенной Солнцем части. Земли, измеряют распределение температур поверхности модели летательного аппарата, устанавливают модель летательного аппа рата в заданное положение относительно имитатора Земли, воспроизводят измеренное распределение температур на модели летательного аппарата посредством встроенных секционных нагревателей, включают имитатор собственного излучения Земли и определяют силу излучения в. различных угловых направлениях. 4 ил. ком диапазоне ракурсов ЛА относительно

Солнца и Земли.

На фиг.1 приведена схема устройства для реализации предлагаемого способа определения индикатрисы излучения; на фиг.2 приведена схема облучения трехслойной пластины, представлены зависимости собственного и отраженного этой пластиной потоков излучения от длины волны k на фиг.3 показана схема пространственного положения ЛА относительно направления солнечного излучения и Земли; на фиг.4 по1800293

20 ный прибор 8 (нэпример, инфракрасный спектрометр). Двухстепенная подвеска 2 служит для установки модели ЛА э заданное пространственное положение относительно имитаторов Солнца 4, отраженного Землей солнечного излучения 7, собственного 25 излучения Земли 6 и измерительного прибора 8.

Покажем, что предлагаемый способ позволяет определить индикэтрису излучения

ЛА. 30

Плотность потока 1, излучаемого ЛА э направление наблюдателя, складывается из плотности потоков собственного излучения

1с и отраженных потоков солнечного излучения I>, солнечного излучения, отраженного 35

Землей 18>, и собственного излучения Земли 3 .

Ic+ ls+ 88+ I8 (1)

Оценим соотношение между плотностями потоков, входящих в это уравнение. Для этого рассмотрим излучение расположенной на орбите на высоте H-100 км трехслой ной пластины единичной площади, имитируюшей поверхность ЛА (верхняя и нижняя пластины разделены теплоизолято40

45 ром), облучаемой солнечным потоком @ и

Землей (фиг,2). Для такой пластины уравнение (1) для каждой иэ сторон перепишется следующим образом

50 в=l8b+ I

I =lst+ Icb+ 4 для нижней стороны. где Ie и I> — плотность потоков излучаемых соответственно верхней и нижней сторонами пластины; казана схема положения модели ЛА в вакуумной камере относительно имитаторов

Солнца и отраженного солнечного излучения, соответствующего положению ЛА, показанному на фиг.3. 5

Устройство для реализации способа содержит вакуумную камеру 1, двухстепенную подвеску 2, геометрически подобную модель ЛА с встроенными в нее нагревателями

3, имитатор Солнца 4 с параболоидальным зеркалом 5, имитатор собственного излуче- . ния Земли 6, выполненный в виде диска с регулируемой температурой поверхности, имитатор отраженного Землей солнечного излучения 7, представляющий собой вольф- 15 рамовые лампы, установленные по пери-. метру диска таким образом, чтобы оси излучаемых ими потоков пересекали геометрический центр модели, иэмерительI» и t H — плотности потоков солнечного излучения, отражаемых соответственно верхней и нижней сторонами пластины;

I<8 и I« — плотности потоков собственного излучения соответственно с верхней и нижней сторон пластины;

18 — плотность потока собственного излучения Земли, отраженного нижней стороны пластины.

Соотношение между слагаемыми этих уравнений показано на фиг,2 в виде зависимостей плотности потоков 1 от длины волны

А, Зависимости фиг,2 посчитаны в предложении о диффузном характере излучения и отражения пластины и Земли. Коэффициенты излучения а и отражения р пластины принимались следующими: е -0,1; p=0,9. Коэффициент излучения е8 и альбедо А Земли принимались равными е8-1 и 0 5; А 0,4. Отношение коэффициента поглощения солнечного излучения пластины а к коэффициенту теплового излучения e(— ) кQc () варьировалось.

Зависимости фиг.2 показывают, что излучение Солнца и отраженное Землей солнечное излучение дают существенный вклад э излучение пластины при длинах волн до

А 5 мкм. В диапазоне длин волн 8- 15 мкм преобладающими являются отраженное собственное излучение Земли (I8) и, если отношение коэффициента поглощения солнечного излучения пластины сс к коэффициенту теплового излучения е велико, собственное излучение пластины (Ica, I«), Выявленные соотношения между составляющими потока излучения показывают, что э наиболее подходящем для обнаружении ЛА диапазоне длин волн

ЬХ-8-14 мкм вклад отраженного солнечного излучения (I8) в общий поток излучения мал и им можно пренебречь, Поэтому, если на поверхности модели воспроизведено натурное распределение температур, облучение модели солнечным потоком и ее ориентирование относительно имитатора Солнца может быть исключено. Это позволяет испольэовать предлагаемый способ, заменив обязательное ориентирование модели в пространстве относительно имитаторов

Солнца и Земли на последовательное ориентирование сначала относительно потоков солнечного и отраженного Землей солнечного излучения для выявления температуры поверхности модели, а затем, воссоздав температурное поле на поверхности модели, относительно потоков собственного излучения Земли и линии наблюдения для измерения силы излучения.

1800293

Предлагаемый способ реализуется следующим образом.

Геометрически подобную модель с встроенным ными в нее секционными нагревателями 3 с помощью двухстепенной подве- 5 ски 2 устанавливают в заданное пространственное положение относительно потока излучаемого имитатором Солнца

4. Включают имитатор Солнца 4 и группу вольфрамовых ламп 7, имитирующих отра- 10 женное Землей солнечное излучение.

Положение этой группы ламп на диске б,имитирующем Землю, определяется предьно исходя из пространственного

15 положения ЛЛ. Положение ЛА относительно Солнца и Земли можно определить вектором солнечного излучения ф,, вектором характ еризующим его положение относиг.. Век. тельно Земли, и углами (а, ф(см.фиг.3). екторы gs, и угл, N глыа 3определяют положение 20 и число ламп, обслуживающих модель (фиг,4).

Измеряют распределение температуры по поверхности модели 3, затем все ориентируют относительно имитатора Зем либ.С 25 помощью секционных нагревателей воспP оиэводят измеренное распределение температуры и измеряют силу иэлучени я, Повторяя описанные операции для различных положений модели относительно С

Солн- 30 . ца, Земли и наблюдателя можно проиграть различные участки траектории полета и построить индикатрисы излучения.

Предлагаемый способ проще реализуется и позволяет проигрывать различные 35 частки траектории полета, В случае модеуч лей простых геометрических форм с известными оптическими свойствами поверхности их температурные поля могут быть получены расчетным путем, Формула изобретения

Способ определения индикатрис инфракрасного излучения орбитальных летательных аппаратов, заключающийся в измерении в тепловакуумной камере силы излучения в разлцчных угловых направлениях геометрически подобной модели летательного аппарата, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности за счет обеспечения воэможности определения силы излучения во всем диапазоне ракурсов летательного аппарата относительно Солнца и Земли, модель летательного аппарата устанавливают в заранее заданное пространственное положение относительно имитатора Солнца, включают имитатор Солнца и группу ламп имитатора отраженного солнечного излучения. положение которой определяют направлением солнечного излучения и положением летательного аппарата относительно освещенной Солнцем части Земли, измеряют распределение температур поверхности модели летательного аппарата, устанавливают модель летательного аппарата в зад аннов положение относительно имитатора

Земли, воспроизводят измеренное распределение температур на модели летательного аппарата посредством встроенных секционных нагревателей, включают имитатор собственного излучения Земли и опред еляют силу излучения в различных угловых направлениях.

1800293

-5

1800293 ль Л 9 се мл ор с @ >о чениымч лсзеагг

Составитель Ю.Потапов

Редактор Т.Мельникова Техред М.Моргентал Корректор Н.Гунько

Заказ 1157 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Рауаская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ определения индикатрис инфракрасного излучения орбитальных летательных аппаратов Способ определения индикатрис инфракрасного излучения орбитальных летательных аппаратов Способ определения индикатрис инфракрасного излучения орбитальных летательных аппаратов Способ определения индикатрис инфракрасного излучения орбитальных летательных аппаратов Способ определения индикатрис инфракрасного излучения орбитальных летательных аппаратов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения параметров вращающихся объектов

Изобретение относится к мультиплексным способам измерения пространственного распределения интенсивностей электромагнитного излучения

Изобретение относится к устройствам для регистрации изобретений и может быть использовано для преобразования визу ал ьной информации в информацию, воспринимаемую путем осязания

Изобретение относится к измерительной технике, Цель изобретения - расширение измеряемых значений расходимости и повышение точности измерений

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к области пирометрии и может быть использовано для определения коэффициентов излучательной способности и температур тел

Изобретение относится к физике плазмы, а именно к способам измерения электронной температуры плазмы, создаваемой лазерным излучением на мишенях из проводников

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам и устройствам для определения коэффициентов излучательной способности внутренних поверхностей неоднородно нагретой полости, и может быть использовано в металлургической, химической, электронной, авиационной и других отраслях промышленности
Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению, в частности к ИК термографии (или тепловидению)

Пирометр // 2437068
Изобретение относится к технике измерения физической температуры объекта по его тепловому радиоизлучению

Изобретение относится к фотометрии и может быть использовано в измерительной технике, автоматике и оптической электронике

Изобретение относится к технике измерений, в частности к измерению спектральных характеристик оптического излучения, например ширины спектральной линии лазерного излучения

Изобретение относится к технической физике, в частности к методам измерения временных параметров лазерных импульсов, например, в системах контроля особо точных дальномерных систем
Наверх