Способ контроля толщины электропроводного покрытия на диэлектрической пленке

 

Изобретение относится к измерительной технике и имеет целью повышение точности контроля емкостного способа контроля толщины электропроводного покрытия в жидкой или твердой фазе, нанесенного на диэлектрическую пленку. Способ контроля заключается в том, что участок полиимидной пленки с покрытием в виде слоя водной суспензии фторопласта, наносимого на пленку окунанием в ванну, помещаю в поле измерительного плоскопараллельного конденсатора, предварительно определив, например, визуально преимущественное направление утолщений и утонений в слое покрытия. Пленку или пластины конденсатора поворачивают друг относительно друга так, чтобы тангенциальная составляющая электрического поля плоскопараллельного конденсатора была направлена вдоль этого направления, благодаря чему уменьшается влияние неровностей покрытия на точность измерения толщины. О толщине-покрытия судят по величине изменения емкости конденсатора . 4 ил. ел

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 В 7/08

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4813526/28 (22) 10,04,90 (46) 30.03.93. Бюл. й. 12 (71) Барнаульское конструкторское бюро автоматики Научно-производственного объединения "Химавтоматика" (72) И;Д.Пупышев, К.И.Власов и А.В.Кухаренко (56) Форейт Й. Емкостные датчики неэлектрических величин, M.-Л.: Энергия, 1966, с.

33.

Авторское свидетельство СССР

N. 1539512,,кл. G 01 В 7/08, 1987. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ

ЭЛЕКТРОПРОВОДНОГО ПОКРЫТИЯ НА

ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПЛЕНКЕ (57) Изобретение относится к измерительной технике и имеет целью повышение точности контроля емкостного способа контроля толщины электропроводного поИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины фторопластового покрытия.на полиимидной пленке в процессе нанесения этого покрытия на ее поверхн ость.

Цель изобретения — повышение точности контроля.

На фиг. 1 приведена принципиальная схема устройства для нанесения фторопластового покрытия на полиимидную пленку; на фиг. 2 — сечение полиимидной пленки, покрытой слоем фторопластовой суспенэии; на фиг. 3 — конструкция измерительного

„„59„„1805281 А1 крытия в жидкой или твердой фазе, нанесенного на ди электрическую плен ку. Способ контроля заключается в том, что участок полиимидной пленки с покрытием в виде слоя водной суспензии фторопласта, накосимого на пленку окунанием в ванну, помещаю в поле измерительного плоскопараллельного. конденсатора, предварительно определив, . например, визуально преимущественное направление утолщений и утонений в слое йокрытия, Пленку или пластины конденсатора поворачивают друг относительно друга так, чтобы тангенциальная составляющая электрического поля плоскопараллельного конденсатора была направлена вдоль этого направления, благодаря чему уменьшается влияние неровностей покрытия на точность измерения толщины, О толщине покрытия судят по величине изменения емкости конденсатора. 4 ил, плоскопараллельного конденсатора с размещенным в нем участком пленки; на фиг, 4 — зависимость емкости измерительного конденсатора от изменения направления утолщений, и утонений во фторопластовом покрытии относительно направления тангенциальной составляющей электрического поля конденсатора.

Установка для нанесения фторопластового покрытия включает в себя паковку с полиимидной пленкой 2, ванну с водной фторопластовой суспензией 3, san 4, термокамеру 5, приемную паковку 6, Датчик 7 (емкостный измерительный конденсатор) 1805281 расположен по ходу пленку между ванной 3 и термокамерой 5.

Покрытая пленка в сечении представляет собой двухслойную ленту, содержащую полиимидную пленку 2 и слой фторопластовой суспензии 8 по ширине пленки.

Конструктивно емкостный измерительный конденсатор содержит, генератор синусоидального напряжения 9; трансформатор

10, плоско-параллельный конденсатор 11, через который проходит покрытая водной фторопластовой суспензией пленка 12. Плоско-параллельный конденсатор содержит электроды 13, одна пара которых электрически подключена к вторичной обмотке трансформатора 10, а другая пара — к измерителю емкости 14. Картина распределения силовых линий электрического поля между электродами 13 изображена на фиг. 3.

Способ контроля осуществляют следующим образом.

Предварительно определяют преимущественное направление утолщений и утонений в слое покрытия пленки. Поскольку направление утолщений и утонений, как правило, определяется направлением движения полосы пленки 2 из ванны 3 (в данном случае вертикально вверх), а стекание водной суспензии фторопласта под действием силы тяжести обуславливает параллельное краям пленки чередование утолщений и утонений, то определение пре-. имущественного направления утолщений и утонений можно осуществить следующим образом.

Помещают покрытый водной суспензией фторопласта участок пленки в электрическое поле измерительного конденсатора и поворачивают пленку в плоскости, параллельной плоскостям измерительных электродов. При совпадении тангенциальной составляющей электрического поля с преимущественным направлением утолщений и утонений показания измерителя емкости

14 максимальны (G 0 фиг. 4).

При измерении толщины покрытия в технологическом процессе его нанесения на пленку изменения направления электрического поля измерительного конденсатора можно осуществить изменением положения плоских электродов конденсатора относительно направления утолщений и утонений пленки, для чего при конструировании измерительного конденсатора его электроды располагают таким образом, чтобы тангенциальная составляющая электрического поля конденсатора совпадала с направле"5 нием утолщений и утонений в слое покрытия.

Способ может быть использован для контроля толщины покрытия, наносимого на любые электроизоляционные пленки, 20 при условии электропроводности наносимого покрытия, находящегося как в жидком, так и в твердом агрегатных состояниях.

Формула изобретения

Способ контроля толщины электрапроводного покрытия на диэлектрической пленке, заключающийся в том, что участок полиимидной пленки с покрытием в виде

: слоя водной суспензии фторопласта, имею30 щего постоянную толщину, помещают в электрическое поле измерительного плоскопараллельного конденсатора, измеряют его емкость и по ее изменению судят о толщине покрытия, отличающийся тем, 35 что. с целью повышения точности контроля, предварительно определяют преимущественное направление утолщений и утонений в слое покрытия и ориентируют тангенциальную составляющую электрического поля

40 плоскопараллельного конденсатора вдоль этого направления, для чего поворачивают пленку в плоскости, параллельной плоскостям электродов конденсатора.

1805281

Составитель А.Кухаренко

Техред M,Ìîðãåíòàë Корректор С.Пекарь

Редактор

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101

Заказ 933 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5