Способ определения времени задержки фазы монохроматического оптического излучения

 

Использование: изобретение относится к оптико-техническим измерениям. Сущность изобретения: способ измерения основан на генерировании1 оптических излучений двух близких частот двумя лазерными диодами с последующим разделением каждого излучения на зондирующий и опорный сигналы, совмещении зондирующих сигналов, один из которых прошел исследуемую среду, а второй оптический аттенюатор до образования интерференционной картины, совмещения опорных сигналов также до образования интерференционной картины, преобразовании биений интенсивности интерферирующих излучений в электрические сигналы разно-4 стной частоты оптических излучений, измерений фазометром фаз электрических сигналов. После измерения разности фаз измеряют разностную частоту Д Vi оптических излучений, а затем нагревают первый диод до получения измененной разности фаз , превышающей &.р на величину, кратную порогу чувствительности фазометра, но в пределах шкалы однозначного показания, Затем измеряют значение разностной частоты Д Va оптических излучений , а измеряемое время задержки определяют из соотношения, приведенного в описании изобретения. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5!)5 G 01 Д 7/00

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4914730/10 (22) 25.02.91 (46) 15.04.93. Бюл, N 14 (71) Винницкий политехнический институт (72) Ю,А.Скрипник, И,Ю.Скрипник, В.Я,Супьян, И.А,Гуцало, С.Н,Горбатюк (56) Новицкий Л.А., Гоменюк А,С., Зубарев В,Е„Хорохоров А.М„Оптико-электронные проборы для научных исследований, М.: Машиностроение, 1986 r., стр, 270-279, (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ

ЗАДЕРЖКИ ФАЗЫ МОНОХРОМАТИЧЕСКОГО ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ (57) Использование: изобретение относится к оптико-техническим измерениям, Сущность изобретения; способ измерения основан на генери рован ии оптических излучений двух близких частот двумя лазерными диодами с последующим разделением каждого излучения на зондирующий и опорный сигналы, совмещении зондирующих сигналов, один иэ которых прошел

Изобретение относится к оптико-техническим измерениям и может быть использовано для определения времени задержки фазы монохроматического оптического излучения в волоконных световодах, Цель изобретения — повышение точности определения времени задержки фазы монохроматического оптического излучения.

На чертеже приведена схема устройства, реализующего способ.

Устройство содержит первый лазерный диод 1, помещенный в термошкаф 2 с прозрачным окном, второй лазерный диод 3, полупрозрачные зеркала 4, 5 и б, согласующие линзы 7 и 8, исследуемый волоконный световод 9, оптический аттенюатор 10, зерЫ2 1809327 А1 исследуемую среду, а второй оптический аттенюатор до образования интерференционной картины, совмещения опорных сигналов также до образования интерференционной картины, преобразовании биений интенсивности интерферирующих излучений в электрические сигналы разно- стной частоты оптических излучений, измерений фазометром фаэ электрических сигналов. После измерения разности фаз

Лу измеряют раэностную частоту A V> оптических излучений, а затем нагревают первый диод до получения измененной разности фаз Лр, превышающей Ар1 на величину, кратную порогу чувствительности фазометра, но в пределах шкалы однозначного показания, Затем измеряют значение разностной частоты Л Чр оптических излучений, а измеряемое время задержки определяют из соотношения, приведенного в описании изобретения. 1 ил. кало 11, первый 12 и второй 13 приемники оптического излучения, фильтры 14, 15 нижних частот, цифровой фаэометр 16 и электронно-счетный частотомер 17, Сущность способа состоит в следующем, Излучения двух однотипных лазерных диодов разделяются полупрозрачными зеркалами на зондирующие и опорные. Зондирующее излуение первого лазерного диода проходит через исследуемую среду, а зондирующее излучение второго лазерного диода ослабляется оптическим аттенюатором, Фазовый сдвиг оптического излучения, прошедшего исследуемую среду, определяется его задержкой т, частотой колебаний v> и имеет вид

1809327

К д,р (Ф вЂ” Ф1 (2 л; (6) (8) (9) (10) 2 л(Лм — Люз ) Ф = 2 кРз т, Ф1 = 2 л 1 т = 2 л (и Р 1), (1) где n — целое число фазовых циклов в

2 л; Р1 — дробная часть последнего фазового цикла.

В результате совмещения задержанного оптического излучения частоты v>, с оптическим излучением ь2 третьим полупрозрачным зеркалом, образуется интерференционная картина, интенсивность интерференционных полос которой периодически изменяется с частотой биений

Ли1 =>t — v2. Аналогичная интерференционная картина образуется при совмещении опорных оптических излучений частоты И и ю2 с помощью второго полупрозрачного зеркала, При этом фазы биений определяются разностью фаз совмещенных оптических излучений 01 и pz.

Биения интенсивностей интерферирующих излучений диодов преобразуются в электрические сигналы первым и вторым приемниками оптических излучений, низкочастотные сигналы на выходе которых имеют вид

U<(t) = Um icos(2 л Лю t + Ф1 — p1 + pz)=

= Um1соэ(2 л A v1 t + 2 л 11 т — P1 + P2), (2) 30

Ug(t) = Um@cos(2 ИЛР1 t ф1 + P2) (3) Так как фазометр измеряет разность фаз электрических сигналов разностной частоты Ли1 в пределах 360, то измеренную разность фаз согласно (1) можно представить в виде д, p = 2 л Р1 = 2 л (vq t — n). (4) 40

Одновременно измеряется разностная частота оптических излучений.

Далее первый лазерный диод нагревается, путем плавного повышения темпера- 45 туры на величину ЛО. В результате нагрева первого лазерного диода частота его излучения изменяется до значения г, При этом фазовый сдвиг, вносимый исследуемым волоконным световодом, принимает значение 50 а частота биений становится равной

А 2 =мз — .

Нагрев первого лазерного диода осуществляется до получения изменений разности фаз, которая превышает первоначальную разность фаз на величину кратную периоду чувствительности фазометра, но в пределах шкалы однозначности показаний где Bp — порог чувствительности фазометра; К вЂ” коэффициент, учитывающий уровень помех и шумов на выходе приемника излучения, который выбирается в пределах 10100, что практически исключает влияние случайных изменений разности фаз из-за действия помех на точность определения задержки.

При выполнении условия (6), вносимый фазовый сдвиг(5) можно представить в виде

Ф = 2 л из т = 2 л (n + Р2), (7) где Р2 — дробная часть последнего цикла при измененной разности фаз, Измеряется измененное значение разности фаз, которое с учетом выражения (7) принимает вид

Л pz = 2 л Рг = 2 л (мз т — и).

Одновременно измеряется соответствующее значение разностной частоты Ли2 оптических излучений, Затем определяется разность выражений (4) и (8) Лip> — h, à = 2 (v> — мз )-т, Из выражения (9) следует, что

Из выражения (10) следует, что результат измерения не зависит от целого числа фазовых циклов п, а следовательно, от соотношения длины исследуемого волоконного световода и длины волны 1 оптического излучения, Устройство, реализующее предложенный способ, работает следующим образом.

Излучения лазерных диодов 1 и 3 разделяются полупрозрачными зеркалами на зондирующие и опорные, Зондирующее излучение диода 1 через согласующие линзы 7 и 8 проходит через, волоконный световод 9 и совмещается с зондирующим излучением диода 3, прошедшего оптический аттенюатор 10 и отраженное зеркалом

11 на полупрозрачное зеркало 6, Результирующее зондирующее излучение и реобразуется приемником 12 оптического излучения в электрический сигнал, который

1809327

Формула изобретения

Способ определения времени задержки фазы монохроматического оптического излучения, включающий нагревание одной части излучения первого лазерного диода через исследуемую среду, одной части излучения вторичного лазерного диода через оптический аттенюатор, совмещение излучений первого и второго лазерных диодов, совмещение других частей излучений первого и второго лазерных диодов непосред30

Составитель M.Êèñëÿêîâ

Техред М.Моргентал Корректор Л.Пилипеко

Редактор В.Тычына

Заказ 1281 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва. Ж 35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 после прохождения фильтра 14 нижних частот воздействует на один вход фаэометра

16. Опорные оптические излучения, совмещенные полупрозрачным зеркалом 5, преобразуются в электрический сигнал приемником 13 оптическОго излучения, который после прохождения фильтра 15 нижних частот воздействует на второй вход фаэометра 16. Разностные частоты измеряются электронно-счетным частотомером 17.

Таким образом, повышение точности определения времени задержки фазы монохроматического Ьптического излучения достигается эа счет разделения оптических излучений без использования узкополосных оптических фильтров, что исключает дополнительные фазовые искажения. ственно до образования соответственно двух интерференционных картин, преобразование биений интенсивности интерферирующих излучений в первой и второй

5 интерференциомных картинах в электрические колебания раэностной частоты излучений первого и второго лазерных диодов, измерение разности фаэ Л р1 электрических колебаний и вычисление времени задержки, 10 отличающийся тем, что, с целью повышения точности, дополнительно измеряют разностную частоту Ли1 оптических излучений первого и второго лазерных диодов, изменяют частоту излучения первого

15 лазерного диода путем его нагрева до получения разности фаэ электрических колебаний Л р, превышающей значение разности фаз Л р1 на величину, кратную порогу чувствительности фазометра в пределах одно20 значности показания фазометра, при этом измеряют значение разностной частоты Лэ оптических излучений первого и второго лазерных диодов, а время задержки t фазы излучения первого лазерного диода вычис25 ляют иэ соотношения

Способ определения времени задержки фазы монохроматического оптического излучения Способ определения времени задержки фазы монохроматического оптического излучения Способ определения времени задержки фазы монохроматического оптического излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области оптики и может быть использовано в экспериментах по обнаружению эфирного ветра или доказательств а независимости скорости света от движения источника и приемника света

Изобретение относится к области измерений, в частности к измерению скорости света в движущейся прозрачной среде

Изобретение относится к области астрофизических измерений и предназначено для исследования волновых движений в атмосфере Солнца при помощи ССD-линеек и матриц в безмодуляционном режиме

Изобретение относится к области определения скорости распространения взаимодействия фотонов, в частности, при однофотонной интерференции

Изобретение относится к области физики, а именно к измерительным приборам

Изобретение относится к области измерения скорости распространения светового излучения и может быть использовано для более точной оценки влияния параметров движения Земли на скорость распространения света

Изобретение относится к технике сверхвысокочастотного (СВЧ) и инфракрасного (ИК) диапазонов, в частности миллиметрового и субмиллиметрового, а именно к способам измерения длины волны в этих диапазонах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и касается способа компенсации температурного смещения полосы пропускания интерференционно-поляризационного фильтра. Фильтр содержит стопу регулируемых элементов с полуволновыми пластинками, вращением которых настраивают полосы пропускания регулируемых элементов фильтра на измеряемую спектральную линию объекта. Для компенсации температурного смещения полосы пропускания луч света от опорного источника направляют через каждый регулируемый элемент одновременно со светом измеряемой спектральной линии объекта. Пропущенный элементом луч опорного источника расщепляют на два луча, обыкновенный и необыкновенный, и используют изменение разности интенсивностей этих лучей, вызванное изменением температуры элемента, как сигнал обратной связи для поворота полуволновой пластинки, компенсирующего температурное смещение полосы пропускания элемента. Технический результат заключается в повышении точности и упрощении способа. 2 ил.
Наверх