Способ определения параметров поляризации электромагнитного поля

 

Использование: определение параметров поляризации электромагнитного поля. Сущность изобретения: в процессе поворота измерительной антенны вокруг направления на источник измеряемого поля, измеряется фазовая поляризационная диаграмма , т.е. зависимость относительной фазы сигнала на выходе измерительной антенны от угла ее поворота, а также первая и вторая производные фазы по углу поворота , после чего определяют их минимальное и максимальное значение, соответственно, и соответствующие поворота. Коэффициент эллиптичности определяют по приведенным формулам. 1 з.п. ф-лы,

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)5 G 01 R 29/08

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ р ф) = arctg Гэф т9р при — 90о .Р 90о

p (p) = z — — + arctg r,4, tg p при 90 < j3 < 270

r+la о о (Г+ Г.) Г+Га

+г ° г (2) о гэф соз В+ г,ф sin P . (3) К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4833410/09 (22) 30,05.90 (46) 15.05.93. Бюл, N 18 (71) Научно-производственное объединение им, С,А.Лавочкина (72) В.П.Бычков (56) Шубарин Ю,В., Зоркин А.Ф. Антенные измерения на сверхвысоких частотах, Харьков, изд.ХГУ, 1962, с.40-49, Авторское свидетельство СССР

М 1689879, кл. G 01 R 29/08, 1989. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЛЯРИЗАЦИИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ

Изобретение относится к измерениям параметров электромагнитных полей и может быть использовано для измерения коэффициента эллиптичности и направления вращения поляризационного вектора электромагнитного поля, .Цель изобретения — упрощение способа, На рисунке приведены графики зависимостей фазы сигнала на выходе измеритель„„Я „„1815612 А1 (57) Использование: определение параметров поляризации электромагнитного поля.

Сущность изобретения: в процессе поворота измерительной антенны вокруг направления на источник измеряемого поля, измеряется фазовая поляризационная диаграмма, т.е. зависимость относительной фазы сигнала на выходе измерительной антенны от угла ее поворота, а также первая и вторая производные фазы по углу поворо.та, после чего определяют их минимальное и максимальное значение, соответственно, и соответствующие имуглы поворота, Коэффициент эллиптичности определяют по приведенным формулам, 1 з.п. ф-лы, ной антенны "у>ф)", а также ее первой

"и второй" " производной от

< Р ь р угла между большими осями поляризационных эллипсов измеряемого поля и измерительной антенны "P" для разных значений эффективного коэффициента эллиптичности,рассчитанные по формулам б у ) @ г,ф (1 г,ф) SIR 2P д р (СОЗ Р + г,ф з п /3)

Функция "p(P)" периодическая с периодом равным 360 . а функции "- " и о .,d о(Я„

d j3 —--1815612 — "— 2- " периодические с периодом рав1Р2

»IM 180

Для отрицательных значений "гэф" фазовые поляризационные диаграммы меняют знак на отрицательный, соответственно изменяются знаки первой и второй производной. При "j3 =- 0" модуль первой производной имеет минимальную величину, при этом выражение (3) в зависимости от угла "y примет вид гэф — Š— @ = — - - (y = уп))п1) (5) э — — „— и) д

Из (2) коэффициент эллиптичности измеряемого поля определяется по формуле

Г =Гэф Га (6)

Гэф Га

Из (1) величина "гэф" определяется выражением

„„,= яК (7)

tg /3

Для определения "r„-ф" из (7) может использоваться любое значение угла "P, однако для повышения точности целесообразно использовать значение угла "P", при котором имеет место наименьшая плотНОСТЬ ХаРаКтЕРИСтИК P (P Гэф = C0r)St) В Направлении параллельном оси "p", т.е. заданному приращению "Лp" соответствует наименьшее приращение "Л Гэф". С учетом изложенного выражение (7) в зависимости от угла "у имеет вид

tg (fP f 2 „ Я ()Ь 1 — 90 1 (9)

Гэф

1g (90 — )"гпах1 + ) <пах2)

Способ осуществляется следующим образом. Измерительну)о антенну наводят на источник измеряемого поля. Затем измерительную антенну разворачивают вокруг направления на источник измеряемого поля, и в процессе разворота измеряют углы разворотов измерительной антенны в выбранной системе координат и соответствующие этим углам фазы сигналов на выходе измерительной антенны. Затем определя)от первую производную фазы принятого сигнала по углу поворота изме ритсльно<й антенны, рассчитывая ее, например, через приращение угла и соответствующее приращение фазы, Затем определя)от угол поворота измерительной антенны, соответствующий минимуму модуля этой производной и ее значение, соответствующее этому углу, Найденное значение первой производной фазы по углу поворота измерительной антенны равно эффективному коэффициенту . эллиптичности. Затем определяют коэффициент эллиптичности и направление вращения поляризационного вектора по формуле (6)

Для повышения точности, определяют вторую производную фазы принятого сигнала по углу поворота измерительной антенны, определяют угол поворота измерительной антенны, соответствующий макСИМУМУ МОДУЛЯ ЭтОй ПРОИЗВОДНОЙ ) mäx2

Затем определяют эффективный коэффициент эллиптичности по формуле (8). Затем определяют коэффициент эллиптичности и направление вращения поляризационного вектора по формуле (6).

Использование данного изобретения позволяет упростить процесс измерения при использовании измерительной антенны с произвольной, но фиксированной поляризацией, Единственное ограничение заключается в том, что измерительная антенна не должна иметь круговую поляризацию. Использование изобретения по п,2 позволяет уменьшить составляющую погрешности измерений, обусловленную погрешностью измерителя разности фаз примерно в 3-10 раз в зависимости от величины коэффициента эллиптичности измеряемого поля и измерительной антенны, Формула изобретения

Способ определения параметров поляризации электромагнитного поля, включающий наведение измерительной антенны на источник исследуемого поля, прием ею исследуемого поля, вращение измерительной антенны вокруг направления на источник исследуемого поля, измерение фазы р (у) принятого сигнала в зависимости от угла поворота у измерительной антенны, а также первой производной фазы принятого сигнала на углу поворота измерительной антенны, определение ее максимального значения и соответствующего ему угла поворота измерительной антенны pmax1 и определение параметров поляризации исследуемого электромагнитного поля по результатам измерений, о т л и ч à ю шийся тем, что, с целью упрощения способа, в качестве измерительной антенны используют антенну с неизменяемой поляризацией дополнительно определяют минимальное значение модуля первой производной фазы принятого сигнала по углу поворота измерительной антенны и соответствующий ему угол поворота измерительной антенны

ymInI И ОПРЕДЕЛЯЮТ КОЭффИЦИЕНт ЭЛЛИПТИЧ55 ности по формуле

Г = Гэф Га/1-ГэфГа, правое направление вращения поляризационного вектора соответствует положительному зна <ению коэффициента

1815612 гэф

t9 (Я (}max }1пак! 90 }}

1Я (90 max1 + ) max2) 10

Составитель В.Бычков

Техред М.Моргентал .Корректор Л.Пилипенко

Редактор

Заказ 1635 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35. Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 эллиптичности. а левое направление вращения — отрицательному значению коэффициента эллиптичности, где ra — коэффициент эллиптичности измерительной антенны, д 0 гэф = — (7- уп,}П1) — эффективный коэффид циент эллиптичности.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что дополнительно onределяют втору}о производную фазы принятого сигнала по углу поворота измерительной антенны. определяют максимум- модуля второй производной и соответствующей ему угол поворота измерительной антенны ) max2 и

5 определяют эффективный коэффициент эллиптичности по формуле

Способ определения параметров поляризации электромагнитного поля Способ определения параметров поляризации электромагнитного поля Способ определения параметров поляризации электромагнитного поля 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к радиотехнике, в частности к технике измерений коэффициента отражения различных радиоматериалов в широкой полосе частот диапазона СВЧ

Изобретение относится к антенным измерениям и может использоваться для оценки параметров сложных ФАР

Радиометр // 1742747
Изобретение относится к пассивной радиолокации , а именно к радиометрической технике, предназначенной для обнаружения и исследования малоразмерных слабоконтрастных источников шумового сигнала, и может быть использовано в радиоастрономии , радиолокации и при исследовании природных ресурсов

Тем-камера // 2103771
Изобретение относится к устройствам для испытания на электромагнитную совместимость электронных приоров, для исследований воздействия электромагнитного поля на живые организмы, для калибровки датчиков электромагнитного поля и представляет ТЕМ камеру, содержащую внешний пирамидальный замкнутый проводник, внутри которого в непосредственной близости от основания установлена комбинированная нагрузка, выполненная из поглощающей панели высокочастотных поглотителей и омических сопротивлений и асимметрично расположен внутренний проводник, выполненный из проводящего листа, переходящего в области нагрузки в плоскую пластину меньшей ширины, проходящую через поглощающую панель и соединенную с омическими сопротивлениями, при этом со стороны вершины пирамиды установлен согласованный переход для подключения генератора сигналов, отличающаяся тем, что внутренний проводник выполнен в форме части боковой поверхности конуса с радиусом сечения R, определяемым соотношением: R = (0,25 oC 0,3) (A + B), где: A и B - соответственно ширина и высота поперечного сечения внешнего проводника ТЕМ камеры, B = (0,7oC0,1) A

Изобретение относится к измерениям электромагнитных, оптических, тепловых, радиационных и других физических полей, образующихся в различных технологических процессах и природных явлениях, и может быть использовано в различных областях, например, сельское хозяйство, медицина, экология и т.п.

Изобретение относится к приборам, измеряющим электрические и электромагнитные поля

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к электрофизическим измерениям, в частности для измерений плотности тока проводимости либо напряженности электрического поля, и может быть использовано в океанологии, геофизических исследованиях, электроразведке

Изобретение относится к радиоэлектронике и может использоваться в измерительных комплексах, а именно для исследования структуры объектов и измерения электромагнитных излучений от исследуемых объектов

Изобретение относится к области антенной техники и может быть использовано при экспериментальной отработке антенн, контроле характеристик на стадиях создания и эксплуатации
Наверх