Способ определения профиля сечения объекта

 

Изобретение относится к анализу пространственных характеристик объектов, преимущественно к активным способам определения сечений по видеоинформации. Целью изобретения является повышение точности определения положения профиля сечения. Для этого освещают и наблюдают обьект вснаправлений, перпендикулярном направлению базиса, а формирование светового растра и преобразование оптического изображения в видеосигнал производят последовательным синхронным сканированием по одному и тому же закону, при этом вводят дополнительное постоянное взаимное смещение вдоль направления базиса при сканировании на величину параллакса для заданной плоскости сечения, а положение профиля сечения определяют по амплитуде видеосигнала. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (и)ю G 01 В 11/24

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛ6СТВУ

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) (21) 4896606/28 (22) 11.11.90 (46) 23.08.93. Бюл. М 31 (71) Институт космических исследований АН

СССР (72) В,А.Котцов (56) Патент США N- 4825263, кл. G 01 В

11/24, 1989. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОФИЛЯ

СЕЧЕНИЯ ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к анализу пространственных характеристик объектов, преимущественно к активным способам определения сечений по видеоинформации.

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения профиля сечения объекта.

Цель изобретения — повышение точности за счет непрерывности сканирования.

Для достижения цели формирование растра и анализ его положения осуществляют последовательным синхронным сканированием по одному и тому же закону.

На чертеже приведено устройство для осуществления способа.

Источник 1 через конденсатор 2 освещает диск 4 Нипкова, который вращает привод 4, а движущийся растр объективом 5 проецирует на поверхность 6 объекта. Это изображение растра на поверхности 6 фокусируется объективом 7 на втором диске 8

Нипкова, который вращается приводом 9 синхронно с приводом 4 первого диска 3.

При этом в случае совпадения проекции растров диска 3 и 8 на поверхности 6 излучение, 4 ,, . Ы 1835485 А1

Целью изобретения является повышение точности определения положения профиля сечения. Для этого освещают и наблюдают объект в направлении, перпендикулярном направлению базиса, а формирование светового растра и преобразование оптического изображения в видеосигнал производят последовательным синхронным сканированием по одному и тому же закону. при этом вводят дополнительное постоянное взаимное смещение вдоль направления базиса при сканировании на величину параллакса для заданной плоскости сечения, а положение профиля сечения определяют по амплитуде видеосигнала. 1 ил. отраженное этой поверхностью, будет пропущено через диск 8 и соберется объективом 10 на фотоприемнике 11. В случае несовпадения проекции этих растров отраженное излучение будет задержано диском

8. Плоскость совпадения проекции является положением плоскости сечения и определя ется величиной смещения разверток, зада ваемой узлом 17. Перемещая диск 3 вдоль направления базиса, устанавливается необходимый параллакс, соответствующий заданной плоскости сечения для определения профиля объекта, При попадании излучения на фотоприемник 11 формируется электри-. ческий сигнал, который через усилитель 12 зажигает источник 13. освещающий через объектив 14 диск Нипкова 15, положение которого связано с диском 8 и задает положение точки формируемого изображения, В, результате на выходе получим изображение следа сечения объекта плоскостью в виде

1835485

Составитель В. Котцов

Редактор С. Кулакова ТехредМ.Моргентал Корректор Н. Кешеля

Заказ 2979 Тираж Подписное

ВНИИХИ.Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35. Раушская наб,. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 светового следа этого сечения. Полученное иэображение может быть непосредственно отпечатано на фотоматериале или спроецировано в любом заданном масштабе на экран, Способ может быть реализован также иными средствами, Способ позвбляет получить изображеwe следа сечения объекта плоскостью непосредственно в процессе формирования видеосигнала.

Формула изобретения

Способ определения профиля сечения объекта, заключающийся в том, что устанавливают на базисное расстояние источник и приемник излучения, формируют световой растр на поверхности контролируемого объекта, регистрируют изображение поверхности контролируемого объекта, анализируют положение растра на поверхности объекта и по результатам анализа определяют профиль сечения объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, 10 формирование растра и анализ его поло.жения осуществляют последовательным синхронным сканированием по одному закону.

Способ определения профиля сечения объекта Способ определения профиля сечения объекта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны вогнутых оптических сферических поверхностей , в частности пробных стекол

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и используется для одновременного измерения угловых и линейных перемещений объекта в пространстве относительно неподвижной системы координат

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к системам технического зрения, и может быть использовано в роботизированном производстве

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения формы поверхности объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в производстве оптических деталей

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для измерения профиля пространственной конструкции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в точном приборостроении для контроля формы прозрачных тонкостенных оболочек

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактных измерений профиля деталей типа тел вращения, а также слабой волнистости поверхности в виде пространственной функции

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля технического состояния рельсового подвижного состава

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса
Наверх