Способ определения наличия прозрачных кристаллических веществ
C0lO3 COBE TCI! VtX сОцилнистических
PI:CUYBJlI:
G 08 В 19/02
ЮЕ пАтЕг)ТНОЕ
CP
СР) АНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
OMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ( ( ( ( т т ( (1) 4651584/24
2) 21.02.89
6) 30.08.93, Бюл. N.ã 32
1) Государственный научно-исследовальский и проектно-конструкторский инстут "1Ожниигипрогаз"
2) А.А.Быков
6) Заявка Канады N572195,,кл. В 64 0
/02, 1977.
4) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАЛИЧИЯ
РОЗРАЧНЫХ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ BEЕСТВ
7) Изобретение относится к области автовтической сигнализации и может быть применено для обнаружения прозрачных
Изобретение относится к области автом тической сигнализации и может быть прим нено для обнаружения прозрачных к исталлических веществ, в частности олед нения различных обьектов, например газ перекачивающих агрегатов, Цель изобретения — повышение надежности определения наличия прозрачных кристаллических веществ.
На прилагаемом чертеже показана схем модели устройства для реализации предлфаемого способа. устройство содержит установленные в етозащитном корпусе 1 источник снега 2 оляризатор 3. контрольную поверх ость контролируемым веществом 5, за котой установлен фотодатчик 6, размещенный ред анализатором 7, после которого уставлен фотодатчик 8, причем анализатор 7 отодатчик 8 размещены во втором светоSU „, 1837342 А1 кристаллических веществ, в частности обледенения различных обьектов, например газоперекачивающих агрегатов. Цель изобретения — повышение надежности определения наличия прозрачных кристаллических веществ. Поставленная цель достигается тем, что путем просвечивания контролируемого пространства световым потоком формируют поляризованный световой поток, измеряют амплитуды деполяризованного светового по1ока и светового потока, измеренного после поглощения кристаллическим вещест ом, преобразуют эти потоки в электрические сигналы и по соотношению амплитуд определяют наличие кристаллического вещества. 1 ил.,1 табл. защитном корпусе 9. Поляризатор 3 и анализатор 7 установлены тзк, чтобы происходило "гашение" луча, т.е. плоскости поляризации их взаимно перпендикулярныы.
Электрическая часть схемы представляет собой схему измеренг - и сравнения тока от фотодатчиков 6, 8. Резисторы 10, 11 предназначены для регулировки тока в цепи каждого из фотодзтчиков. Ток в цепи каждого фотодатчика измеряется микрозмперме грами 12, 13. Питание схемы осущес гвляется от двух источников стабилизированного напряжения 14, 15. Результат сравнсния измеряется микроамперметром 16.
Пример осуществлегн я способа
На модели, описанной вь ше, поочередно вводится контрольная поверхносгь с исследуемым веществом 5 (стекла с загрязнеH!1ët Iè в виде Г1ьгли, кtасла. гр:.i ÇI!, сo! ! м ,Сд ! "К
Ы д !
ы
1 !
1837342 слоем льда и т.п.), и измеряются токи в цепях микроамперметров 12 и 13.
При этом предварительно, по наиболее рассеивающему свет веществу(им оказался слой песка}, при помощи переменных резисторов 10, 11 токи в цепях микроамперметров 12 и 13 подбираются так, чтобы изменения этих токов были одинаковы, а их отношение, соответственно, было равно единице. 10
Результаты исследований приведены в таблице.
Из данных, приведенных в таблице, видно, что предложенный способ позволяет контролировать наличие кристаллического вещества — льда.
Согласно закону сохранения энергии общее количество света в системе неизменно и равно количеству света. излучаемому источником света. Увеличение рассеяния 20 света средой приводит к уменьшению количества света, прошедшего через эту среду на величину рассеяния.
Таким образом, определив на сколько 25 уменьшился световой поток после прохождения через среду, можно предположить, что эта часть светового потока либо полностью рассеялась, т.е. превратилась в деполяризованный свет, либо частично 30 рассеялась, э частично поглотилась и отразилась веществом.
Отсюда следует, что если вещество только рассеивает свет, то отношение величины рассеянного света к разности между 35 начальным и прошедшим световым потоком при полном рассеянии будет равно единице, и будет меньше единицы, если часть этого света поглощена и отражена этим веществом, При прохождении через идеальное кристаллическое вещество имеет место не изменение направлений распространения светового потока (рассеяние). а изменение его плоскости поляризации, т.е. величина светового потока не изменяется, изменяется его плоскость поляризации, поэтому фотодатчик 6, установленный после поляризатора 3 не зафиксирует этого изменения.
Но после анализатора 7 величина светового потока за счет кристаллической структуры значительно увеличится.
При прохождении света через реальное кристаллическое вещество его рассеивающие свойства скомпенсируются в измерительной схеме увеличением интенсивности деполяризованного за счет рассеяния света, а за счет кристаллической структуры вещества произойдет его дополнительное увеличение.
Формула изобретения
Способ определения наличия прозрачных кристаллических веществ путем просвечивания контролируемого пространства световым потоком, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности определения наличия прозрачных кристаллических.веществ, формируют поляризованный световой поток, измеряют амплитуды депопяризованного светового потока и светового потока, измеренного после поглощения кристаллическим веществом, преобразуют эти потоки в электрические сигналы и по соотношению амплитуд определяют наличие кристаллического вещества, е»а т-т—
VVV«vnn, Е С0 V ССЪ СО СО щ с,Ъ ii ii Ln ССЪСС? О - О Е . С4 ооо o Oñîco CDO
С4
О Ы Ы 7Ю 1С Ъ СЪ,9
Ф СС с 5
СЪ Х
0 В
СХ
Ф LAcoLA -О -ocn O LA LA 0 CD D Г СМ CV Ф К Ф 0 Х ССЪ In LA Ln LA LA ССЪ Сй Ln LA LA LA LA О О О О О О О О О О О О О С>Ъ СЪ С"Ъ С>Ъ С.Ъ С"Ъ С Ъ С"Ъ СЪ СЪ С Ъ С"Ъ Э Ф Ф hI CO Ln h Ln LA иЪ Ln щ бб О щ о СЧ 3» Ln О Е т Ln е с 4 ссъ Ссъ ссъ cD С и Ф а О LA LA LA Ln ССЪ Ln Ln Ln LA Ln Ln LA LA CO Е CO CD Е CD CO CD CD CO CD Е CD Z< Ф с и С5 Z CCL С с 0 Z О X а СО О Ф а@ 0 С 5 с С= CCL CCL мкС У СЪ Ф Ф Ф с ю Ф Ф >5 5 0 0 0 С с ОО .Е CCL Я CO CCL l33 2 к Ф CO Л лxDQ с - 0 е 8ХКО 5 а m Ф Ф 0 аа о С >5 >5 >5 >5 0 0 0 0 сссс ОООО,"М с Й с „b 5 > И. O. C5 оа l о а 0 е о Ь 0 5 О 4 ф аа 3. 1О co cL Ln с ) иъ с ъ LA ссъ ОЭОФОЗ 0Ъ С О> С С С Ъ ССЪ Е С» ОЭ 0Ъ О Z О у с а) Ф О О э Ф 53 Ф с Я 0 5 C 0 Ф О а 1837342 Составитель А. Быков Техред М.Моргентал Корректор А. Козориз Редактор С. Кулакова Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина, 101 Заказ 2868 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 415
