Масс-спектрометр

 

Изобретение относится к физической электронике , в частности к приборам для анализа состава пучков ускоренных ионов путем измерения их отношения массы к заряду. Сущность изобретения: анализируемые по массам ионы подвергаются одновременному действию совмещенных в пространстве электрического и магнитного полей, первое из которых обеспечивает вращательное движение ионов и стигматичную фокусировку ионного пучка с периодическим (через 2TI) образованием фокуса, близкого по размерам и форме к размерам и форме входной диафрагмы а второе обеспечивает поворот траекторий в зависимости от отношения массы к заряду ионов и многократное прохождение ионов через идентичное по конфигурации электрическое поле, что приводит к накоплению дисперсии по массам, выделение ионов с определенным отношением массы к заряду производится путем пропускания пучка последовательно через ряд закономерно расположенных диафрагм в местах формирования фокусов, каждая из которых на последующих оборотах создает все более сильное фильтрующее действие, а уменьшение габаритов обеспечивается в результате полного исключения бесполевых промежутков и многократного использозания объема полеобразующего пространен J злф-лы, 3 ил.

(19) SU (11) 1839274 М (51) 5 Н01 J49 30

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) - об»Щ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4792766/21 (22) 19.02.90 (46) 30.12.93 Бюп ЛЬ 48 — 47 (71) Институт металпофизики АН Украины (72) Черепин В.Т. (54) МАСС-СПЕКТРОМЕТР (57) Изобретение относится к физической электронике, в частности к приборам для анализа состава пучков ускоренных ионов путем измерения их отношения массы к заряду. Сущность изобретения: анализируемые по массам ионы подвергаются одновременному действию совмещенных в пространстве электрического и магнитного полей, первое из которых обеспечивает вращательное движение ионов и стигматичную фокусировку ионного пучка с периодическим (через 2П) образованием фокуса, близкого по размерам и форме к размерам и форме входной диафрагмы, а второе обеспечивает поворот траекторий в зависимости от отношения массы к заряду ионов и многократное прохождение ионов через идентичное по конфигурации электрическое поле, что приводит к накоплению дисперсии по массам, выделение ионов с определенным отношением массы к заряду производится путем лропускания лужа последовательно через ряд закономерно расположенных диафрагм в местах формирования фокусов, каждая из которых на последующих оборотах создает все более сильное фильтрующее действие, а уменьшение габаритов обеспечивается в результате полного иааючения бссполевых промежутков и многократного использования объема полеобразующего пространс"»;с зл.ф-лы, 3 ил.

1839274

Изобретение относится к физической электронике, в частности к приборам для анализа состава пучков ускоренных ионов путем измерения их отношения массы к заряду.

Известны масс-спектрометры, состоящие из расположенных в вакуумной камере источника ионов, оптики, формирующей ионный пучок, и расположенных по ходу пучка входной диафрагмы, электростатического и магнитного анализаторов, выходной диафрагмы и детектора ионов, причем указанные анализаторы представляют собой секторные или плоские поля, расположенные последовательно либо совмещенно в пространстве, в общем случае поля могут быть скрещены (1), Недостатками известных масс-спектрометров являются низкое быстродействие, высокие требования к стабильности источников питания, большие габариты и масса, высокая стоимость, а также ухудшение разрешения при наличии разброса анализируемых ионов по энергиям.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является статический масс-спектрометр с двойной фокусировкой со скрещенными полями. Он состоит из расположенных в вакуумной камере последовательно по ходу пучка источника ионов, оптики, формирующей пучок, входной диафрагмы, системы электродов, формирующей секторное электрическое поле, и электромагнита, выходной диафрагмы и детектора ионов. В таком масс-спектрометре при определенных соотношениях напряженностей электрического и магнитного полей, а также ускоряющего напряжения ионов детектора достигают лишь ионы с определенным отношением массы к заряду при наличии разброса ионов по энергии. Развертка массового спектра может осуществляться за счет изменения магнитного поля или ускоряющего напряжения (2).

Недостатком известного масс-спектрометра является то, что для предельной разрешающей способности R = rm/S), где rm— радиус траектории иона в магнитном поле;

5< — ширина входной диафрагмы, требуется увеличение rm, что неизбежно влечет за собой рост габаритов магнита и всего устройства. Недостатком является также . необходимость применения полеобразующих электродов и полюсных наконечников сложной формы в том случае, когда с целью повышения чувствительности измерений и улучшения пропускания требуется обеспечить пространственную фокусировку расходящихся ионных пучков. Кроме того, трудно достигнуть точного взаимного пространст40

45 лежащей входной диафрагме стороне кольцевого электрода относительно центра сферы расположена первая промежуточная диафрагма или щель, диаметр или ширина которой больше диаметра входной диафрагмы, а угловое расстояние между центрами первой промежуточной диафрагмы и входной диафрагмы составляет л — О, где Π— угол поворота ионного пучка в магнитном поле, отсчитываемый относительно центра

50 сферы, противоположно первой промежуточной диафрагме в кольцевом проводящем электроде расположена вторая промежуточная диафрагма, диаметр которой больше диаметра входной диафрагмы, а центр ее

55 находится в экваториальной плоскости под углом 20 относительно центра входной диафрагмы, причем по ходу ионного пучка, описывающего аналогичные траекторчи, в кольцевом проводящем электроде выполневенного позиционирования электрического и магнитного полей, а также других элементов из-за наличия в большинстве случаев вводимых в тракт анализа отрезков бесполевых пространств, увеличивающих габариты прибора и усложняющих позиционирование анализаторов.

Указанные недостатки устраняются в предлагаемом масс-спектрометре.

Целью изобретения является повышение разрешающей способности и чувствительности измерений масс-спектрометра.

Цель достигается тем, что масс-спектрометр состоит из вакуумной камеры, окру15 женной соленоидом, создающим однородное магнитное поле, где по ходу ионного пучка размещены источник ионов; ионная оптика, формирующая и фокусирующая пучок ускоренных ионов, входная и выходная

20 диафрагмы, система электродов сферического энергоанализатора и детектор ионов, причем эа ионной оптикой размещена проводящая заземленная коллимирующая трубка, которая направляет ионный пучок в

25 межэлектродное пространство сферического энергоанализатора, образованного концентрическими сферическими проводящими наружным и внутренним электродами, выполненными из немагнитного материала, З0 при этом в межэлектродном пространстве в экваториальной плоскости сферических электродов, расположенной перпендикулярно направлению силовых линий однородного магнитного поля, на пути пучка

З5 ионов установлен кольцевой проводящий электрод, в котором в месте пересечения с ним ионного пучка на равных расстояниях от наружного и внутреннего электродов.расположена входная диафрагма, а в противо1839274

20

55 ны два ряда промежуточных диафрагм или щелей, которые в соответствующих рядах равноотстоят друг от друга на угол 2О, а размеры их равны размерам первых диафрагм соответствующих рядов, число диафЛ рагм в ряду не превышает - гэ- — 1, последняя в ряду диафрагма или щель является выходной и равна диаметру входной диафрагмы с возможностью регулирования, а за ней размещена выходная заземленная коллимирующая трубка, сама коллимирующая трубка, как и аналогичная входная, проходит без контакта через отверстие в наружном сферическом электроде, ось коллимирующейтрубки параллельна направлению силовых линий магнитного поля, за коллимирующей трубкой установлен детектор ионов, соединенный с устройством для регистрации ионных потоков. Кроме того, в масс-спектраметр входит набор источников питания и гермоввады.

Физическое обоснование работоспо-. собности предлагаемого устройства састоит в том, что анализируемые по массам ионы .подвергаются одновременному действию совмещенных в пространстве электрического и магнитного полей, первое из которых обеспечивает вращ тельное движение ионов и стигматичную фокусировку ионного пучка с периодическим (через 2л ) образованием фокуса, близкого по размерам и форме к размерам и форме входной диафрагмы, а второе обеспечивает поворот траекторий в зависимости от отношения массы к заряду ионов и многократное прохождение ионов через идентичное по конфигурации электрическое поле, что приводит к накоплени.а дисперсии по массам, выделение ионов с определенным отношением массы к заряду производится путем прапускания пучка последовательно через ряд закономерно расположенных диафрагм в местах формирования фокусов, каждая из которых на последующих оборотах создает все более сильное фильтрующее действие, а уменьшение габаритов обеспечивается в результате полного исключения бесполевых промежутков и многократного использования обьема полеобразующего пространства.

На фиг. 1 и 2 изображен масс-спектрометр; на фиг, 3 показана схема образования траекторий ионов.

Масс-спектраметр состоит из вакуумной камеры 1, окруженной соленоидом 2, создающим однородное магнитное поле, источника 3 ионов, ионной оптики 4, формирующей и фокусирующей пучок ускоренных ионов, входной диафрагмы 5, проводящей заземленной коллимируюгцей тру. кх 6. направляющеи этот пучок в межэлоктродное пространство, сферического энергоанализатора 7, образованного концентрическими сферическими проводящими н;:ружным электродом 8 и внутренним электродом 9, выполненными из немагнитного материала.

В межэлектродном пространстве в экваториальной плоскости сферических электродов, расположенной так, чта она перпендикулярна направлению силовых линий однородного магнитного поля, создаваемого соленоидом 2, на пути пучка ионов установлен кольцевой заземленный электрод 18, электрически изолированный ат наружного 8 и внутреннего 9 электродов, в катарам в месте пересечения с ним ионного пучка на равных расстояниях ат наружного

8 и внутреннего 9 электродов расположена входная диафрагма 5, а в противолежащей входной диафрагме 5 стороне кольцевого проводящего электрода 10 относительно центра сферы расположена первая промежуточная диафрагма или щель 11, диаметр или ширина которой больше диаметра входной диафрагмы 5, причем угловое расстоянйе между центрами первой промежуточной диафрагмы 11 и в.горой диафрагмой 5 составляет угол т — 9 . Противоположно первой промежуточ;ай диафрагме 11 в кольцевом провод:..щем электроде 10 расположена вторая промежуточная диафрагма 12, диаметр которой больше диаметра входной диафрагмы 5, а центр ее находится в экваториальной плоскости под углом 20 относительно входной диафрагмы 5. По ходу ионного пучка, описывающего аналогичные траектории, в кольцевом проводящем электроде 10 выполнены два ряда промежуточных диафрагм 11 а, б, в... и 12 а, б, в..., которые равноотстоят друг от друга на угол 2 О, а размеры их равны размерам первых диафрагм соответствующих рядов, причем число диафрагм в ряду

Л не превышает - - — 1, а последчяя в ряду диафрагма или щель 13 является выходной и ширина ее соответствует диаметру входной диафрагмы или щели 5 с возможностью . регулировки. За диафрагмой 13 установлена выходная коллимирующая трубка 14, которая как и аналогичная входная проходит без контакта через отверстие в наружном сферическом электроде 8, причем ось коллимирующей трубки 14 параллельна оси полюсов сферы. За коллимирующей трубкой 14 установлен детектор 15 ионов, где траектория ионного пучка завершается. Масс — спектрометр содержит источники 16, 17, 18, 19 питания, которые установлены вне вакуумной камеры и соединены с токонесущими частями в камере 1 через гермовводы 20.

Детектор ионов соединен с устройством дпя

21 регистрации ионных потоков.

Масс-спектрометр работает следующим образом.

Ускоренный пучок ионов с энергией eVo иэ источника 3 ионов фокусируется ионной оптикой 4 и пропускается через коллимирующую трубку 6 на входную диафрагму 5.

Прошедший через входную диафрагму 5 пучок ионов попадает в полеобразующее пространство сферических электродов 3 и 9 с радиусами Rt и Иг, потенциалы на которых

Vt и Нг устанавливают с помощью источника

16 питания так, чтобы ионы с энергией eVo описывали круговую траекторию с радиуR +Йг сом Ro 2, например дпя положительных ионов Ч =. ЬЧо. Чг = - ЛЧ, а

2 Л Ч-Чо(— — — ) (3). При наличии

R1 г

Вг R разброса ионов по энергии(ЧО + Л Vo) изменяются соответствующие радиусы траекторий Ro, в результате чего после поворота на

180 относительно входной диафрагмы 5 в экваториальной плоскости образуется линия энергетических фокусов, а дальнейший поворот на 180 приводит к схождению ионных пучков различных энергий в пятно, размеры которого соответствуют размерам входной диафрагмы 5, так как известно (41, что 180О-ный сферический энергоанализатор 7 стигматичен и имеет оптическое увеличение х1, После этого через соленоид 2 пропускается постоянный ток от источника

19, в результате чего во всем межэлектродном пространстве сферического энергоанализатора 7 возбуждается однородное магнитное поле, параллельное оси полюсов сферы, т.е, оси входящего ионного пучка.

Ускоренные ионы, двигающиеся в сферическом конденсаторе по круговым траекториям, пересекают магнитные силовые линии, 8 результате чего траектории искривляются и ионы с определенным отношением массы к заряду отклоняются на определенный угол

О, причем B=2Ro/Rm, где Rm — радиус поворота ионов в магнитном поле, Rm (м).

4,68 107 Нг

Продолжение движения в другом полушарии приводит к отклонению ионов в противоположном направлении на тот же угол

О, т.е. суммарный поворот траектории относительно оси полюсов составляет 2О (см. фиг. 3), если угловое положение входной диафрагмы 5 соответствует нулю. В местах пересечения пучка с экваториальной плоскостью в электроде 10 находятся промежуточные диафрагмы 11, 12, диаметр или ширина которых больше диаметра входной

5 диафрагмы 5. Через промежуточные диафрагмы 11, 12 проходят группы ионов с некоторым диапазоном отношений массы к заряду. Продолжение движения ионов по траектории, соответствующей сферической

10 спирали, приводит к увеличению дисперсии по массам в магнитном поле по закону 0м

Rm, где Ьбщ. — суммарная длина рбщ.

Rm пролета ионов между входной 5 и выходной

15 13 диафрагмами, Ьбщ. - 2 л Ron, где n— число полных оборотов в сфере. Масс-спектральное разрешение — -—

М 0м " -общ.

З1 $1 Например, при Ro= 80 мм, и = 10, $ = 0,4 мм

20 M/ Л M = 12560, т.е. при очень умеренных инженерных параметрах и габаритах массспектрометра можно получить весьма высокое разрешение.

В результате фильтрующегр воэдейст25 вия промежуточных диафрагм или щелей 11, 12 и выходной диафрагмы ипи щели 13, диаметр или ширина которой равна диаметру или ширине входной диафрагмы 5, на выход поступает пучок ионов с узкой полосой зна30 чений в/е и на выходной диафрагме 13 происходит окончательный отбор ионов с определенным m/å, т.е. ее диаметр или ширина определяют окончательное масс-спектральное разрешение. Эти ионы проходят

35 через коплимирующую трубку l4 на детектор 15 ионов, их количество или ионный ток измеряется и регистрируется устройством

21 регистрации. Развертка по массам осуществляется путем изменения величины то40 ка, пропускаемого через обмотку соленоида.

Компьютерное моделирование и строгий анализ дисперсионных свойств системы скрещенных сферического электрического и

"5 однородного магнитного пблей показал, что энергодисперсианные свойства магнитного поля таковы, что линия энергетических фокусов в плоскости, где происходит дисперсия по энергии, поворачивается, образуя

50 угол с радиусом, проведенным из центра сферы в точку на окружности радиуса Ro, причем этот угол а в зависимости от числа оборотов и величины угла начального поворота Острого onредепяется формулой а = агст9 (1,315 10 г (2п+1) О ), где n — число полных оборотов после первого пересечения ионного пучка с экваториальной плоскостью. Поэтому улучшение разрешения и повышение чувствительности

1839274 способствует повышению быстродействия масс-спектрометра, а увеличение радиуса траекторий ионов в магнитном поле соответствует уменьшению напряженности это5 го поля при заданных энергии и массе анализируемых ионов и приводит к снижению энергопотребления. (56) 1, Сысоев А.А., Чупахин М.С. Введение в

10 масс-спектрометрию. M,: Атомиздат, 1977, с.302.

2. Там же, с.55.

3. Кремков M.В. Корпускулярная низкоэнергетическая диагностика поверхности твердого тела, Ташкент: Издательство

15 "ФАН" Узбекской ССР, 1986, с.38.

4. Там же, с.40. достигаются за счет расположения диафрагм или щелей под углом к соответствующим радиусам в указанной закономерности.

Такое конструктивное решение масс. спектрометра позволяет по сравнению с прототипом повысить разрешающую способность путем увеличения радиуса траектории ионов в магнитном поле при уменьшении габаритов эа счет многократного использования одних и тех же полеобразующих пространств, повысить чувствительность измерений за счет полного пропускания на выход масс-спектрометра сепарированных по массам ионных пучков с большим разбросом по энергиям.

Кроме того, отсутствие магнитопровода

Формула изобретения

1. МАСС-СПЕКТРОМЕТР со скрещенными электрическим. и магнитным полями, содержащий помещенную в магнитное поле вакуумную камеру, в которой размещены источник ионов, ионная оптика, ьходная и выходная диафрагмы, система электродов и детектор ионов, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности и чувствительности и улучшения массогабаритных характеристик; он снабжен размещенной за ионной оптикой проводящей входной заземленной коллимирующей трубкой, а электроды выполнены из немагнитного материала сферическими концентрическими и образуют сферический знергоанализатор, причем в межэлектродном пространстве в экваториальной плоскости сферических электродов, расположенной перпендикулярно направлению силовых линий магнитного поля, установлен кольцевой проводящий заземленный электрод, в котором в месте пересечения с ним траектории ионного пучка на равных расстояний от электродов расположена входная диафрагма, в противолежащей к входной диафрагме стороне кольцевого электрода относительно центра сферы расположена первая промежуточная диафрагма, диаметр. которой больше диаметра входной диафрагмы, а угловое расстояние между центрами первой промежуточной и входной диафрагмы составляет угол л — 8, где H - угол поворота траектории ионного пучка в магнитной по20

55 ле, рад, отсчитываемый относительно центра сферы, противоположно первой промежуточной диафрагме в кольцевом проводящем электроде расположена вторая промежуточная диафрагма, диаметр которой больше диаметра входной диафрагмы и центр которой расположен в экваториальной плоскости под углом 2 .относительно центра входной диафрагмы, причем по ходу ионного пучка в кольцевом проводящем электроде выполнены два ряда промежуточных диафрагм, которые в соответствующих рядах равноотстоят одна. от другой на угол 28, а размеры их равны размерам первых диафрагм соответствующих рядов, число диафрагм или щелей в л ряду Не превышает 2 1, причем последняя в ряду диафрагма является выходной, за ней размещена выходная заземленная коллимирующая трубка, при этом входная и выходная трубки электрически изолированы от электродов.

2. Масс-спектрометр по п.1, отличающийся тем, что промежуточные диафрагмы, соответствующие линиям энергетических фокусов, и выходная диафрагма имеют форму щелей. длинная ось которых образуется радиусом сферы, проведенным в точку пересечения оси щели с линией экватора .сферического конденсатора угла с л,рад, изменяющийся в соответСтвии с порядковым номером щели и в соответствии с формулой

u„=arcing(1,315 10 (2n+1Ф). u>92 I 4

1839274

А/8. Я

Составитель B.×åðåïèí

Техред M.Moðãeíòàë

Корректор M.Ñàìáoðñêàÿ

Редактор Т,Юрчикова

Заказ 3408

Тираж Подписное °

НПО "Поиск" Роспатента

113035, Москва, Ж-35, Рауаская наб., 4i5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Масс-спектрометр Масс-спектрометр Масс-спектрометр Масс-спектрометр Масс-спектрометр Масс-спектрометр Масс-спектрометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к физической электронике, в частности к разделению пучков ускоренных ионов

Изобретение относится к масс-спектрометрии и может быть использовано для определения химического или изотопного состава веществ

Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к ионно-оптическим приборам для локального микроанализа методом масс-спектрометрии вторичных ионов, и может быть использовано для химического или изотопного анализа состава вещества, получения увеличенных изображений поверхности твердых тел в ионах выбранного типа, а также в технологии производства полупроводниковых материалов для легирования их ионами различной природы

Изобретение относится к экспериментальной физике, в частности к экспериментальным методам физики космических лучей

Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для элементного анализа твердых тел

Изобретение относится к области масс-спектрометрии

Изобретение относится к ядерной технике

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для анализа состава материалов и веществ

Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в частности к способам измерения ионных токов мультиплетов масс в магнитных масс-спектрометрах
Наверх