Патент ссср 190441
l9O44l
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 20.IX.1965 (№ 1028616/26-9) Кл. 21а4, 71 с присоединением заявки ¹
Комитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Министров
СССР
Приоритет
Опубликовано 29.XII,1966, Бюллетень ¹ 2
Дата опубликования описания 20.П.19б7
МПК G Olr, УД 1(621.317.335 (088.8) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ
ВЕЩЕСГВ НА СВЕРХВЪ|СОКИХ ЧАСТОТАХ вЂ”,0,5, гдс t — — толщина образца; а„, — - смещение пучков. где t — толщина образца;
a — смещение пучков.
Известны квазиоптические способы измерения диэлектрической проницаемости веществ па сверхвысоких частотах, основанные на измерении поверхностного коэффициента отражения и р,".сч те по формулам Френеля, а также способы, учитывающие отражение от второй поверхности.
Особенностью предложенного способа измерения диэлектрической проницаемости, основанного на отражении падающего пучка радиоволн от двух поверхностей плоскопараллельного образца, является то, что пучок радиоволн направляют под углом 45 к плоскости образца, затем определяют расстояние между пучками радиоволн, отраженными двумя противоположными поверхностями образца, и, с учетом толщины образца, вычисляют диэлектрическую проницаемость по формуле:
Предложенный способ позволяет значительно упростить процесс измерения и повысить его точность.
5 Предмет изобретения
Способ измерения диэлектриче "кой проницаемости веществ на сверхвысоких частотах, основанный на отражении радиоволн от пло10 скопараллельного образца, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерения и повышения его точности, пучок радиоволн направляют под углом 45 к плоскости образца, затем определяют расстояние между
15 пучками радиоволн, отраженными двумя противоположными поверхностями образца, и, с учетом толщины образца, вычисляют диэлектрическую проницаемость по формуле:
