Прибор для измерения толщины зеркального стекла

 

Класс 42b, 11

М 246>9

l + Ì ear. . Йвторекое евидетедьетво нв изо

ОПИСАНИЕ прибора для измерения толщины зеркального стекла.

К авторскому свидетельству П. П. Клобукова, заявленному 24 ноября

1930 года (заяв. свид. № 79404).

0 выдаче авторского свидетельства опубликовано 31 декабря 1931 года.

Предмет изобретения.

Предлагаемый прибор для измерения толщины зеркального стекла выполнен в виде угольника с углами в 90, 48 и 42, снабженного на катете, прилегаю-, щем к углу в 48, перемещаемой посредством винта пластинкой с нониусом, конец котброй при установке прибора на измеряемое стекло дает отражение, совпадающее с концом угольника в момент установки нониуса на размер, равный толщине стекла.

На чертеже фиг. 1 изображает вид прибора сбоку; фиг. 2 — вид его сверху; фиг. 3 — схему преломления лучей в зеркале.

Угольник а с углами при его вершинах в 90, 48 и 42 снабжен установленным на его вершине с углом в 42 визиром Ь. На катете угольника а, прилегающем к углу последнего в 48, установлена пластинка и с нониусом с, снабженная выступающим за вершину угольника изогнутым концом е и перемещаемая по удерживающему ее катету посредством винта d.

При пользовании прибором пластинку и устанавливают в такое положение, % при котором преломленные измеряемым стеклом лучи, несущие изображение конца е пластинки и получают направление по гипотенузе угольника а и проходят через визир Ь. В момент совпадения отражения конца е пластинки и с точкой f вершины угольника а отсчет по нониусу с расстояния между точками е и / дает толщину измеряемого стекла.

Это доказывается следующим рассуждением: согласно закону преломления, Sin угла наклона преломленного стеклом луча, несущего изображение конца е пластинки и, равен коэфициенту преломления стекла, умноженному на

Sin угла падения этого луча. При коэфициенте преломления, равном 1,5

Sin =1 5 Sin ( =42 . Следовательно Sin =0,669 и

Sin (=0,446, след. (=с=26 ЗЗ tg 1= 26 33 =с=0,5 при tg 1 =05 АВ= CD

Следовательно, при направлении луча с изображением конца е пластинки и по гипотенузе> составляющей с вертикалью 42, т, - е. при наблюдении конца е пластинки и в визир Ь расстояние АВ конца е пластинки и от точки / угольника а будет равно толщине С1Э измеряемого стекла.

Прибор для измерения толщины зеркального стекла, отличающиЙся применением угольника а с углами в 90, 48 и 42, снабженного на катете, прилегающем к углу 48, пластинкой с нониусом с, снабженной изогнутым концом е, перемещаемым с помощью винта d, и в вершине угла в 42 =визиром 6 для наблю- дения отражения конца е в момент совпадения этого отражения с точкой / угольника, в целях отсчета расстояния от конца е до точки f, каковое и должно дать толщину стекла.

Taw. «Печатный Tpyg».

Прибор для измерения толщины зеркального стекла Прибор для измерения толщины зеркального стекла 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх