Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов

Авторы патента:

G01N27/82 - обнаружение локальных дефектов

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Целью изобретения является повышение достоверности калибровки магнитных дефектоскопоа Это достигается тем. что в устройстве для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащем образец без дефекта закрепленные на нем имитатор сварного шва и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, ширина которого меньше ширины имитатора сварного шва. и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам, имитатор сварного шва выполнен в виде цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усилия имитируемого шва и стрелой равной высоте его усиления Зил.

(19) Ки ((1) (51) 5 GO1N27 8Х

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ

К ПАТЕНТУ

Комитет Российской Федерации по патентам и товарным знакам (21) 4932734/28 (22) 07.0391 (46) 30.10.93 Бюя йа 39-40 (73) Могилевский машиностроительный институт (72) Шарова АМ„Синица АН„Лехнояич ГА (73) Могилевский машиностроительный институт (54) УСТРОЙСТВО ДДЯ КАЛИБРОВКИ МАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ (57) Изобретение относится к средствам неразрушаквцего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Целью изобретения является повышение достоверности калибровки магнитных дефектоскопов. Это дост гается тец что в устройстве для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащем образец без дефекта. закрепленные на нем имитатор сварного шва и имитатор дефекта в риде электропроводящей пластины, ширина которого меньше ширины имитатора сварного шва, и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам, имитатор сварного шва выполнен в виде ципиндрического сегмента с хордой, равной ширине усилия имитируемого шва, к стрелой, равной высоте его усипения Э иа

2002246

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для Kaлибровки магнитных дефектоскопов.

Известно устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее бездефектный образец с закрепленным на нем имитатором дефекта в виде электропроводящей пластины, ширина которой равна минимальному дефекту, и источника тока, подключенного к имитатору дефекта (1).

Недостатком указанного устройства является невозможность калибровки магнитных дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений, тэк как с его помощью невозможно учитывать размагничивающее действие усиления шва.

Наиболее близким по технической сущности к достигаемому результату является устройство калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее образец без дефекта. закрепленные на. нем имитатор сварного шва и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, ширина которого меньше ширины имитатора сварного шва, и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам (2).

Недостаток устройства в той, что в реальном сварном соединении усиление шва в поперечном сечении имеет форму, близкую к сегменту, а е прототипе усиление шва имитируется плоской пластиной, распределение напряженности магнитного поля на поверхности которой будет значительно отличаться от распределения поля на реальном сварном соединении, что снижает достоверность калибровки, Целью изобретения является повышение достоверности калибровки магнитных дефектоскопов.

Это достигается тем, что устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее образец без дефекта, закрепленные на нем имитатор сварного шва и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, ширина которого меньше ширины имитатора сварного шва, и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам, согласно изобретению имитатор сварного швэ выполнен в виде цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усиления имитируемого шва, и стрелой. равной высоте его усиления, На фиг. 1 представлено сварное соединение с поверхностным дефектОм и распределение напряженности магнитного поля Н на его поверхности; на фиг. 2 вЂ” устройство для калибровки, описанное в прототипе, и распределение Н на его; на

Имитатор шва представляет собой в поперечном сечении сегмент с хордой 15 мм и стрелой 2 мм, имитатор дефекта вЂ” пластина шириной 0,5 мм. Они укладываются на бездефектный образец, на них укладывают ленту И вЂ” 4701. Образец намагничивают полем

250 А/см, а по имитаторам швэ и дефекта пропускают ток силой 100 и 15 А соответственно. Считывают магнитогрэмму с ленты и калибруют дефектоскоп. фиг, 3 вЂ” заявляемое устройство и распределение Н на его поверхности.

Так как усиление сварного шва 1 (фиг. 1) оказывает на намагниченность сварного

5 соединения размагничивающее действие, зависящее от формы усиления, распределеwe Н на его поверхности неоднородно(фиг. 1).

При имитации усиления шва плоской пластиной 2 (фиг. 2) с током, распределение Н

"0 на поверхности образца значительно отличается от распределения Н на реальном сварном изделии (фиг, 1) (различные значения grad Н). Это вызвано тем, что усиление реального шва (фиг, 1) имеет форму сегмен15 та со стрелой равной С и шириной, равной b.

При использовании в качестве имитатора шва сегмента 3 (фиг, 3) с теми же размерами, что и усиления реального сварного соединения, распределение Н íà его поверхности

20 (фиг, 3) будет соответствовать распределению Н на реальном сварном шве (фиг, 1), что повышает достоверность калибровки магнитных дефектоскопов.

Устройство для калибровки магнитных

25 дефектоскопов работает следующим образом: от источников тока по имитаторам дефекта и шва пропускают во взаимно противоположных направлениях электрический ток, а на бездефектный образец воз30 действуют внешним магнитным полем, направление которого совпадает с магнитным полем имитатора дефекта. При этом над образцом образуется магнитное поле, являющееся суммарным от внешнего поля, 35 поля имитатора дефекта и поля имитатора шва. После этого на поверхности устройства для калибровки устанавливают датчик магнитного дефектоскопа, регистрирующий магнитные поля рассеяния устройства, После этого регулируют чувствительность дефектоскопа так, чтобы дефектоскоп выявлял задан н ый дефект.

Пример, Калибруют магнитографический дефектоскоп МД-11Г для контроля сварного изделия толщиной 6 мм со следующими размерами усиления шва: ширинавЂ”

15 мм, высота вЂ” 2 мм. Необходимо выявить дефекты шириной более 0,5 мм, Толщина бездефектного образца 6 мм.

2002246 (56) 1. Авторское свидетельство СССР

М 911305, кл. G 01 N 27/82, 1982.

2. Авторское свидетельство СССР

М 1589190, кл. G 01 N 27/82, 1990.

Фиг 4

Составитель И. Кесоян

Редактор Л. Народная Техред М.Моргентал Корректор 1 С Шекмар

Тираж . Подписное

НПО "Поиск" Роспатента

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Заказ 3171

Производственно-издательский комбинат."Патент" ° г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Формула изобретения

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ

МАГН ИТН ЫХ ДЕ Ф ЕКТОСКОПОВ, содержащее образец без дефекта, закрепленные на нем имитатор сварного шва и имитатор дефекта в виде злектропроводящей пластины, ширина которого меньше ширины имитатора сварного шва, и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности калибровки, имитатор сварного шва выполнен в виде цилиндрического сегмента с хордой, 10 равной ширина усиления имитируемого шва, и стрелой, равной высоте его усиления.

Похожие патенты:

Дефектоотметчик // 1838780

Изобретение относится к дефектоскопии и может использоваться.в комплекте с дифектоскопом для отметки дефектных участков контролируемых изделий

Способ контроля ферромагнитных изделий // 1826050

Изобретение относится к способам магнитных измерений и может быть использовано для неразрушающего контроля качества изделий из ферромагнитных материалов

Способ определения параметров дефекта в ферромагнитном изделии // 1820310

Изобретение относится к области неразрушающего контроля изделий и материалов и может быть использовано при дефектоскопии изделий из ферромагнитных материалов и сплавов

Способ калибровки магнитных дефектоскопов и устройство для его осуществления // 1817015

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов

Стандартный образец для магнитной дефектоскопии // 1810805

Изобретение относится к неразрушающему контролю качества изделий, а именно к магнитному контролю дефектов типа несплошности в ферромагнитных изделиях, и может быть использовано в различных отраслях машиностроения

Матричный преобразователь магнитных полей // 1809375

Изобретение относится к средствам контрольно-измерительной техники и может использоваться для контроля качества структуры ферромагнитных материалов и изделий

Сканирующее устройство к дефектоскопу для контроля протяженных изделий // 1807382

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества изделий и может быть использовано в электротехнической промышленности при дефектоскопии протяженных изделий преимущественно прямоугольного сечения

Сканирующее устройство к дефектоскопу // 1801205

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля сплошности поверхности стальных изделий и предназначено для считывания полей рассеяния при магнитной дефектоскопии

Устройство для дефектоскопии цилиндрических изделий // 1797048

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для выявления дефектов в цилиндрических изделиях, например при проверке качества сварных швов в трубопроводах

Устройство для неразрушающего контроля цилиндрических изделий // 1797030

Изобретение относится к дефектоскопии и может использоваться для структуросколии и размеропетрии

Устройство для внутритрубной магнитной дефектоскопии стенок стальных трубопроводов // 2102737

Дефектоскоп-снаряд для внутритрубных обследований трубопроводов // 2102738

Изобретение относится к устройствам для внутритрубных обследований трубопроводов, рассчитанным на перемещение по обследуемому трубопроводу потоком транспортируемого по нему продукта, и может быть использовано для контроля технического состояния трубопроводов, предназначенных преимущественно для дальней транспортировки нефтепродуктов и природного газа

Установка для неразрушающего контроля глубиннонасосных штанг // 2106624

Электронно-механический магнитный ортограф // 2115114

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопическом контроле ферромагнитных материалов и изделий

Способ контроля структуры металла протяженного изделия // 2115917

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля структуры металла протяженных ферромагнитных и неферромагнитных изделий, в частности насосных штанг, используемых при механизированной нефтедобыче, и предназначено для экспресс-индикации структурной неоднородности материала изделий, связанной с нарушением режима при объемной термообработке в процессе изготовления, а также структурной неоднородности, возникшей в процессе эксплуатации изделия

Способ и устройство для технического диагностирования магистрального трубопровода // 2157514

Изобретение относится к техническому диагностированию магистральных трубопроводов и может быть использовано для диагностирования уложенных магистральных нефтепроводов и газопроводов

Способ обнаружения дефектов в длинномерных объектах // 2157990

Способ электроиндукционной дефектоскопии материалов // 2159425

Способ магнитооптического контроля изделия // 2159426

Изобретение относится к области прикладной магнитооптики, в частности к методам неразрушающего контроля материалов на наличие дефектов, и может быть использовано при выявлении дефектов в изделиях, которые содержат ферромагнитные материалы, а также в криминалистике

Способ контроля качества металлизации отверстий печатных плат // 2159522