Способ устранения ошибки увеличения отсчетного микроскопа

 

Использование: изобретение относится к приборостроению и машиностроению и может быть использовано при юстировке оптико-механических приборов, в частности измерительных микроскопов. Сущность изобретения: в соответствии с зависимостью изменения увеличения микроскопа от изменения расстояния между объективом и минутной шкалой составляют таблицу, отсетный микроскоп устанавливают в индикаторное приспособление и, наблюдая за положением стрелки индикатора, перемещают объектив вдоль оси, а по конкретному табличному значению устанавливают его необходимое положение. 1 ил., 1 табл.

Изобретение относится к приборостроению и машиностроению и может быть использовано при юстировке оптико-механических приборов, в частности измерительных микроскопов.

Известны способы устранения неправильности увеличения отсчетного микроскопа перемещением объектива вдоль его оси, т.е. изменением расстояния объектива от минутной шкалы (сетки).

Необходимое перемещение объектива, обеспечивающее правильное увеличение, достигается различными способами в зависимости от конструктивных особенностей юстировочных элементов микроскопов и осуществляется следующими способами: подрезкой или подбором ширины юстировочных колец (шайб), устанавливаемых между опорными поверхностями оправы объектива и тубуса микроскопа; вращательно-поступательным перемещением объектива, если соединение (сопряжение) оправы объектива и тубуса резьбовое; продольным перемещением оправы объектива в тубусе микроскопа, если их сопрягаемые поверхности гладкоцилиндрические.

Наиболее технологичным является вращательно-поступательное перемещение объектива, так как резьбовое сопряжение обеспечивает плавность продольного перемещения.

Для определения правильности увеличения отсчетного микроскопа по данному способу один из штрихов градусной шкалы совмещают с нулевым штрихом минутной шкалы. При этом соседний штрих градусной шкалы должен совместиться с другим крайним штрихом минутной шкалы. Если последние не совпадают, то, отвернув стопорный винт, вращением объектива перемещают его вдоль оси до их совмещения.

Однако этим способом можно юстировать отсчетные микроскопы угломерной головки инструментальных микроскопов только старых моделей.

Отсчетные микроскопы угломерных головок последних выпусков и оптических квандрантов не обеспечены вращательно-поступательным перемещением объектива, что создает трудности при устранении неправильности увеличения, обусловленные тем, что продольное перемещение объектива осуществляется "на глазок".

Устранение погрешности увеличения у этих микроскопов осуществляется следующим образом. Отворачивают окуляр, крепительное кольцо и стопорный винт, вынимают тубус микроскопа с объективом из корпуса и, слегка отвернув стопорный винт, с помощью отвертки или другого предмета двигают объектив вдоль оси в ту или иную сторону в зависимости от большего или меньшего увеличения до нормального.

Если увеличение меньше нормального, то объектив удаляют от минутной шкалы и, наоборот, приближают при большем увеличении. При этом величину перемещения объектива осуществляют произвольно "на глазок".

Затем микроскоп устанавливают на место и проверяют правильность увеличения. Если цель не достигнута, то операции повторяют до тех пор, пока не получат нормальное увеличение.

Недостатком этого способа является то, что "на глазок" и "наугад" установить объектив в нужное положение с точностью не более 0,01 мм с одного или двух раз практически невозможно.

Целью данного предложения является снижение трудоемкости и повышение точности юстировки отсчетного микроскопа.

Цель достигается тем, что находят зависимость изменения увеличения микроскопа от изменения расстояния между объективом и минутной шкалой, составляют по ней таблицу отсчетного микроскопа, устанавливают в индикаторное приспособление и, наблюдая за положением стрелки индикатора, перемещают объектив вдоль оси и по конкретному табличному значению устанавливают его в необходимое положение.

На чертеже изображены индикаторное приспособление и установленный в нем тубус отсчетного микроскопа с объективом.

Индикаторное приспособление 1 выполнено в виде цилиндрической втулки с двумя соосными продольными отверстиями для установки индикатора 2 и тубуса 3 микроскопа соответственно крепежным винтам 4 и 5 и боковым отверстием 6 для доступа к стопорному винту 7 оправы 8 объектива 9. К наконечнику 10 индикатора 2 приклеена пластмассовая пластина для предохранения объектива.

Предлагаемый способ осуществляется следующим образом. Предварительно находят зависимость изменения увеличения микроскопа от изменения расстояния между объективом и минутной шкалой 11, по данным которой составляют таблицу для постоянного использования. Для этого, наблюдая в окуляр 12 микроскопа, один из штрихов градусной шкалы совмещают с нулевым штрихом минутной шкалы и фиксируют взаимное расположение соседнего штриха градусной шкалы и другого крайнего штриха минутной шкалы. Например, несовпадение последних штрихов соответствует 0,2 деления минутной шкалы в сторону завышения. Затем вынимают тубус микроскопа из корпуса, устанавливают его в индикаторное приспособление так, чтобы стопорный винт 7 оправы объектива был направлен к боковому отверстию 6 индикаторного приспособления, зажимают оправу объектива винтом 5 и устанавливают стрелку индикатора на "Нуль". Слегка освободив винт 7 отверткой, перемещают оправу объектива на выбранную величину в сторону уменьшения расстояния между минутной шкалой и объективом, например, на 0,12 мм и закрепляют оправу объектива. Затем, обратно установив тубус на место, замечают, что погрешность увеличения соответствует 0,3 деления минутной шкалы в меньшую сторону. При изменении расстояния между объективом и минутной шкалой, равного 0,12 мм, изменение увеличения микроскопа равно 0,5 деления минутной шкалы. Из-за малости этих величин можно считать эту зависимость пропорциональной, на основании которой можно составить таблицу.

Определяют погрешность увеличения микроскопа в десятых долях деления минутной шкалы 11 и по табличным данным находят соответствующую величину перемещения объектива 9.

Вынимают тубус 3 микроскопа из корпуса и устанавливают его в индикаторное приспособление 1 так, чтобы объектив 9 коснулся торца наконечника 10 индикатора 2, и закрепляют его винтом 5. Слегка освободив винт 7 оправы 8 объектива 9 и наблюдая за показанием индикатора 2, при помощи отвертки перемещают объектив 9 вдоль его оси на найденную величину и закрепляют его винтом 7. При этом достаточно одной установки объектива, чтобы устранить погрешность увеличения микроскопа. Затем устанавливают тубус микроскопа на место.

Формула изобретения

СПОСОБ УСТРАНЕНИЯ ОШИБКИ УВЕЛИЧЕНИЯ ОТСЧЕТНОГО МИКРОСКОПА, включающий перемещение объектива отсчетного микроскопа вдоль его оптической оси относительно минутной шкалы отсчетного микроскопа и контроль изменения увеличения отсчетного микроскопа после каждого перемещения с последующим определением необходимости и направления повторного перемещения объектива, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости путем повышения точности перемещения объектива, контроль изменения увеличения отсчетного микроскопа осуществляют путем измерения смещения объектива отсчетного микроскопа и определения величины последующего смещения, причем измерение смещения объектива осуществляют индикатором часового типа, установленным неподвижно относительно минутной шкалы, а необходимость повторного перемещения объектива, его величину и направление определяют по таблице соответствия смещения объектива и долей цены деления минутной шкалы.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области спецтехники и может быть использовано для обнаружения и опознавания скрытых объектов по тепловому излучению в полевых условиях как в дневное, так и в ночное время

Изобретение относится к исследованию динамического напряжённо-деформированного состояния сооружений и конструкций методом фотоупругоети

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля размеров деталей в процессе их изготовления, а также для измеренных деформации деталей (образцов ), находящихся под нагрузкой

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в ковровом производстве текстильной промышленности

Изобретение относится к измерительной технике, к определению износа рабочих поверхностей зубчатых колес различных машин и механизмов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для получения топографических интерферограмм, и может быть использовано при изучении объектов, испытывающих температурное нагружение

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля качества линз и объективов в производстве, занятом их изготовлением , Цель изобретения - повышение чувствительности контроля за счет увеличения контраста интерференционных полос

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам, позволяющим измерять рельеф поверхности, и может быть использовано для контроля качества обработки поверхности, контроля однородности тонких пленок, измерения толщины тонких пленок, исследования неоднородяостей показателя преломления

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптическом производстве для интерференционного технологического и аттестационного контроля оптических деталей и систем, в том числе с асферическими поверхностями, формирующих сферический волнлвой фронт

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности для идентификационных исследований в области криминалистики

Изобретение относится к бесконтактным способам измерения линейных размеров, износа, а также к устройствам для их осуществления

Изобретение относится к микроскопии. Согласно способу формирование изображения микрообъекта реализуют при помощи конфокального сканирующего микроскопа. При этом в процессе фокусировки излучения на плоскость исследования и в процессе фокусировки излучения на приемной щелевой диафрагме обеспечивают изменение размеров дифракционного максимума изображения каждой точки в плоскости фокусировки, сужая его в одном направлении по отношению к другим направлениям. Производят дополнительное сканирование исследуемого микрообъекта в нескольких различных направлениях, одновременно регистрируя координаты перемещения исследуемого микрообъекта и фотоэлектрические сигналы. Ориентацию направления сужения дифракционного максимума и щелевых диафрагм оставляют неизменной относительно направления сканирования. Производят совместную электронную обработку фотоэлектрических сигналов, зарегистрированных в первичном и дополнительных направлениях сканирования, и соответствующих им координат перемещения исследуемого микрообъекта. Технический результат - улучшение детализации (повышение разрешения) изображения исследуемого микрообъекта. 4 н. и 16 з.п. ф-лы, 4 ил.

Изобретение относится к микроскопии отдельных биологических организмов в жидком образце. Изображения, на которых могут быть идентифицированы отдельные биологические организмы, объединяют для создания наборов оптических срезов биологических организмов, и наборы оптических срезов анализируют для определения значения по меньшей мере одного параметра, описывающего микробную активность указанного отдельного биологического организма в каждом контейнере для образца. Техническим результатом является уменьшение времени исследования, повышение надежности и экономической эффективности результата. 2 н. и 23 з.п. ф-лы, 23 ил.

Микроскоп содержит осветительный блок, в котором из коллимированного света формируется квадратная матрица лучей дифракционным оптическим элементом, фокусирующим эти лучи в плоскость матрицы конфокальных диафрагм и направляющим их через светоделительный кубик, модуль сканирования и фокусирующую оптику на объект. Отраженные от объекта лучи возвращаются в обратном направлении, отклоняются кубиком и попадают в регистрирующий блок на матрицу фотодетекторов через дополнительную матрицу конфокальных диафрагм, модуль сканирования и фокусирующую оптику. Модуль сканирования содержит две преломляющие плоскопараллельные пластины, установленные на ортогональных осях роторов. Движение пластин синхронизировано с движением пластин аналогичного модуля сканирования регистрирующего блока. Во втором варианте дифракционный оптический элемент фокусирует световые лучи в плоскость матрицы диафрагм через светоделительный кубик, а отраженные от объекта лучи отклоняются кубиком и попадают на матрицу фотодетекторов через светофильтр, модуль сканирования и фокусирующую оптику. Технический результат - устранение эллиптичности сечения лазерного луча и упрощение конструкции при сохранении высокого разрешения и точности. 2 н.п. ф-лы, 7 ил.

Микроскоп может быть использован при юстировке оптических систем, а также для контроля погрешностей центрирования линз. Микроскоп содержит два измерительных канала. Первый канал содержит размещенные по ходу луча источник излучения с длиной волны λ1, первый коллимирующий объектив, первый светоделитель, в отраженных лучах которого расположены первый спектроделитель и фокусирующий объектив, в предметной плоскости которого расположена контролируемая поверхность. В преломленных лучах первого светоделителя в обратном ходе от контролируемой поверхности расположен первый объектив и первый многоэлементный приемник излучения. Второй канал состоит из источника излучения с длиной волны λ2 и размещенных по ходу луча второго коллимирующего объектива, второго спектроделителя, в отраженных лучах которого расположен второй светоделитель, а в преломленных лучах в обратном ходе от контролируемой поверхности расположен второй объектив и второй многоэлементный приемник излучения. В отраженных лучах второго светоделителя расположен первый спектроделитель. Технический результат - возможность высокоточных угловых и линейных измерений на одном приборе и минимизация габаритов. 22 з.п. ф-лы, 9 ил.
Наверх