Контактное устройство

 

Изобретение относится к электронной технике, в частности к контактным устройствам, применяемым в контрольно-измерительных приборах, для соединения выводов интегральных микросхем с блоками задания режимов и контроля параметров. Контактное устройство содержит основание, на котором расположены направляющие. На подвижной направляющей закреплена скоба, на которой установлена подвижная контактная колодка с возможностью перемещения с помощью винта и гайки. Винт установлен на кронштейне, снабжен маховичком и фиксатором и закреплен на одной из неподвижных направляющих. Колодка установлена неподвижно на основании с помощью скобы. Каждая контактная колодка содержит поворотную рейку имеющую поводок. Рейка изготовлена из диэлектрического материала и армирована металлическим стержнем. В пазах колодок установлены толкатели, снабженные винтом и гайкой и имеющие упор. Держатель микросхем и направляющие каналы служат для подачи микросхемы до упора, имеющего ступенчатую форму. Применение контактного устройства позволяет осуществлять контроль микросхем с отогнутыми выводами различных типоразмеров и обеспечивает надежность контактирования. 11 ил.

Изобретение относится к электронной технике, в частности к контактным устройствам, применяемым в контрольно-измерительных приборах для соединения выводов интегральных микросхем с блоками задания режимов и контроля параметров.

Известно устройство для испытания интегральных схем [1] содержащее корпус с подвижно закрепленными гребенками и размещенными в них подпружиненными контактами, неподвижное основание с контактами, планки с направляющими пазами и прижимную крышку, снабженное поворотными крышками с размещенными в них пружинными контактами, установленными с возможностью взаимодействия с пружинными контактами подвижной гребенки. Планки с направляющими пазами закреплены в основании устройства с возможностью перемещения. Устройство позволяет испытывать все типы микросхем с шагом 1,25 на теплоустойчивость, надежность, а также может быть использовано при конструктивных и параметрических испытаниях в условиях повышенных температур и электрических нагрузок.

Однако это устройство применимо только для испытаний микросхем с планарными выводами и не может быть использовано для проверки микросхем другой конструкции.

Известно также контактное устройство [2] содержащее полый корпус с размещенными в нем подвижной и неподвижной колодками, подпружиненные контакты, механизм захвата с двумя подпружиненными рычагами, размещенными в пазах подвижной колодки, на которых закреплены башмаки, расположенные с возможностью зацепления с контролируемым изделием, и фиксаторы подвижной колодки, выполненные с возможностью взаимодействия с корпусом. Каждый рычаг этого устройства выполнен в форме упругой ленты не менее чем с одним коническим изгибом. Конические изгибы каждого рычага расположены соосно и соединены между собой по меньшим основаниям конуса посредством соединительного элемента.

Данное устройство позволяет регулировать расстояние между выводами в зависимости от типа микросхем, однако оно предназначено для контроля внутрисхемных соединений и микросхем на печатных платах и имеет весьма сложную конструкцию.

Наиболее близким к предлагаемому изобретению по технической сущности является контактное устройство преимущественно для подключения интегральных микросхем к контрольно-измерительной аппаратуре, содержащее корпус, держатель с направляющими каналами для размещения выводов микросхемы и упором, а также контактные элементы и толкатель с пазами [3] Это устройство снабжено поворотными рейками для раздвижки пластин, выполненными на концах с цилиндрическими утолщениями с закрепленными в них подводками. Толкатель изготовлен в виде стержня с буртиками на концах, направляющие каналы выполнены сквозными вдоль корпуса и держателя, а поводки расположены в пазах толкателя. Устройство обеспечивает уменьшение деформации и поломок выводов во время контактирования, а также дает возможность автоматизировать процесс установки и извлечения микросхем из контактной колодки.

Однако данное устройство не позволяет осуществлять контроль микросхем различных типоразмеров, т. е. требуется создание специального контактного устройства для каждого типа микросхемы.

Кроме того, поскольку консольный участок контактной пластины достаточно велик ( 25 мм), а расстояние между соседними пластинами мало ( 1 мм), в процессе эксплуатации устройства наблюдается смещение пластин вдоль оси рейки, что приводит к замыканию пластин соседних пар, т.е. во время измерения на вывод микросхемы замыкаются контактные пластины двух соседних пар.

Цель изобретения расширение эксплуатационных возможностей путем контроля микросхем различных типоразмеров и повышение надежности контактирования.

Для достижения этой цели контактное устройство, содержащее основание, держатель микросхем с направляющими каналами и упором, контактные колодки с установленными в контактных гребенках и образующими пары контактными элементами, между которыми расположены поворотные рейки с поводками, и толкатель, размещенный в пазах колодок, согласно изобретению снабжено планками, кронштейном, стойкой с гайкой и винтом с маховичком и фиксатором. Указанное основание содержит подвижную и неподвижные направляющие, упор держателя выполнен ступенчатым, каждая из поворотных реек выполнена с кольцевыми пазами, предназначенными для контактных элементов, на внутренней поверхности каждой из колодок выполнен паз, образующий внутренний выступ, причем указанный выступ перекрывает кольцевые пазы реек, в которых расположены контактные элементы. Толкатель состоит из двух частей: одна из частей выполнена с упором, а другая содержит винт и гайку, которые предназначены для компенсации зазора между частями толкателя. Указанные планки установлены на держателе микросхем таким образом, что перекрывают кольцевые пазы реек, кронштейн закреплен в одной из неподвижных направляющих основания, а стойка закреплена в подвижной направляющей основания. При этом указанный винт с маховичком и фиксатором установлен в кронштейне и в стойке таким образом, что обеспечивает перемещение одной из колодок.

Такая конструкция колодок и толкателя дает возможность регулировать расстояние между выводами микросхемы и позволяет использовать этот объект для контроля микросхем различных типоразмеров, т.е. делает контактное устройство универсальным. Выполнение упора деpжателя микросхемы ступенчатым позволяет использовать предлагаемое решение для контроля микросхем с различным расстоянием от корпуса микросхемы до первого ее вывода.

Изготовление поворотных реек с пазами для контактных элементов, а также ограничение последних с помощью выступов и планок устраняет вероятность смещения контактов путем уменьшения их консольного рабочего участка и повышает надежность контактирования с выводами микросхемы.

На фиг. 1 показан общий вид устройства; на фиг. 2 разрез А-А на фиг. 1; на фиг. 3 вид Б на фиг. 2; на фиг. 4 вид В на фиг. 1; на фиг. 5 разрез Г-Г на фиг. 4; на фиг. 6 контактные пластины в разомкнутом положении; на фиг. 7 вид Д на фиг. 2; на фиг. 8 армированная поворотная рейка; на фиг. 9 разрез Е-Е на фиг. 8; на фиг. 10 и 11 разрез Ж-Ж на фиг. 8, поворотная рейка, армированная стержнем круглого и овального сечения соответственно.

Контактное устройство содержит основание 1, на котором расположены направляющие 2-4. На подвижной направляющей 2 закреплена скоба 5, на которой установлена подвижная контактная колодка 6 с возможностью перемещения с помощью винта 7 и гайки 8, запрессованной в стойке 9. Последняя прикреплена к направляющей 2, а винт 7 установлен в кронштейне 10 с помощью кольца 11, снабжен маховичком 12 и фиксатором 13 и закреплен на одной из неподвижных направляющих 3. Колодка 14 установлена неподвижно на основании 1 с помощью скобы 15. Каждая контактная колодка 6 или 14 содержит корпус 16 и 17, в котором между парой контактных гребенок 18, закрепленных на корпусе, установлена поворотная рейка 19, имеющая поводок 20. Поворотные рейки 19 изготовлены из диэлектрического материала, армированы изнутри металлическим стержнем 21 и закреплены в средней части корпусов колодок с возможностью поворота на 90^о. На рейках 19 выполнены кольцевые пазы 22 по количеству контактных элементов 23 гребенки 18. Во внутренней части колодок 6 и 14 имеются пазы 24 и 25, которым соответствуют выступы 26 и 27, а также планки 28, перекрывающие кольцевые пазы 22 реек 19. При сборке каждый контактный элемент размещается в пазу 22 и запирается в нем с помощью выступов 26 и 27 и планок 28.

В пазах 29 колодок 6 и 14 установлен толкатель, состоящий из двух частей 30 и 31. Каждая часть толкателя имеет прорезь 32 и два штифта 33, между которыми расположен поводок 20 рейки 19. Перемещение частей толкателя в пазу ограничено пластинами 34 и 35. Часть 31 толкателя снабжена винтом 36 и гайкой 37, а часть 30 толкателя имеет упор 38 в виде прочной, например, металлической вставки в материале толкателя. При раздвижке колодок между частями 30 и 31 толкателя образуется зазор, равный расстоянию между колодками, который устраняется вворачиванием винта 36. Держатель 39 микросхем и направляющие каналы 40 служат для подачи микросхемы 41 до упора 42, имеющего ступенчатую форму, которая позволяет скорректировать различное для разных микросхем расстояние от начала микросхемы до первой пары выводов.

Контактное устройство работает следующим образом.

Предварительно устанавливается расстояние между парами контактных элементов колодок, равное расстоянию между рядами выводов проверяемой микросхемы 41, с помощью маховичка 12 и винта 7. Затем вращением винта 36 устраняется зазор между частями толкателя 30 и 31.

При перемещении части 30 толкателя вправо поводки 20 поворачиваются на 90^о и приводят рейки 19 в горизонтальное положение. При этом раздвигаются пластины контактных элементов 23, микросхема 41 устанавливается на держатель 39 и по направляющим каналам 40 перемещается до упора 42 так, чтобы все выводы микросхемы попали в зазоры между пластинами контактных элементов 23. После этого нажатием части 31 толкателя приводят рейки 19 в вертикальное положение, при этом контактные пластины 23 смыкаются и выводы микросхемы 41 оказываются зажатыми между ними. Таким образом происходит подключение изделия к тестеру для функционального контроля микросхем.

Применение предлагаемого изобретения позволяет осуществлять контроль микросхем с отогнутыми выводами различных типоразмеров. При этом обеспечивается надежность контакта и исключается замыкание контактных пластин соседних пар друг с другом, так как устраняется возможность их смещения и отклонения от продольной оси поворотной рейки.

Формула изобретения

КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО, содержащее основание, держатель микросхем с направляющими каналами и упором, контактные колодки с установленными в контактных гребенках и образующими пары контактными элементами, между которыми расположены поворотные рейки с поводками, и толкатель, размещенный в пазах колодок, отличающееся тем, что, с целью расширения эксплуатационных возможностей путем контроля микросхем различных типоразмеров и повышения надежности контактирования, оно снабжено планками, кронштейном, стойкой с гайкой и винтом с маховичком и фиксатором, основание содержит подвижную и неподвижные направляющие, упор держателя выполнен ступенчатым, каждая из поворотных реек выполнена с кольцевыми пазами, предназначенными для контактных элементов, на внутренней поверхности каждой из колодок выполнен паз, образующий внутренний выступ, причем выступ перекрывает кольцевые пазы реек, в которых расположены контактные элементы, толкатель состоит из двух частей, одна из которых выполнена с упором, а другая содержит винт и гайку, которые предназначены для компенсации зазора между указанными частями толкателя, планки установлены на держателе микросхем так, что перекрывают кольцевые пазы реек, кронштейн закреплен в одной из неподвижных направляющих основания, а стойка в подвижной направляющей основания, при этом винт с маховиком и фиксатором установлен в кронштейне и в стойке так, что обеспечивает перемещение одной из колодок.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10, Рисунок 11