Устройство измерения атомарной топографии поверхности

Авторы патента:

G01B7/34 - для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Устройство измерения атомарной топографии поверхности, содержащее зонд, устройство перемещения зонда по оси Х, устройство перемещения зонда по оси Y, устройство перемещения зонда по оси Z, высоковольтный усилитель, блок управления сканированием, блок предварительного усиления, отличающееся тем, что в устройство дополнительно введены компаратор, блок управления зондом по оси Z, фиксатор выходного сигнала, при этом один вход компаратора соединен с выходом блока предварительного усиления, а второй предназначен для подачи опорного значения туннельного тока, выход компаратора соединен с первым входом блока управления зондом по оси, второй вход которого предназначен для поступления сигнала, задающего расстояние отвода зонда от поверхности, а третий вход соединен с дополнительно введенным выходом блока управления сканированием, первый выход блока управления зондом по оси Z соединен с входом высоковольтного усилителя и первым входом фиксатора выходного сигнала, второй выход связан с вторым входом фиксатора выходного сигнала, а третий - с дополнительно введенным входом блока управления сканированием.

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах сертификации изделий вычислительной техники, например в устройствах контроля биений жестких магнитных дисков и их основ

Устройство для размерометрии // 2042106

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля размеров протяжных цилиндрических изделий

Способ контроля лучевой прочности поверхности оптических материалов // 2034278

Контрольно-измерительное устройство // 2029232

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля поверхности изделий

Способ регистрации рельефа поверхности образца растровыми туннельными микроскопами и устройство для его осуществления // 2020405

Изобретение относится к измерительной технике, а именно - к способу регистрации рельефа поверхности исследуемого образца растровыми туннельными микроскопами

Устройство для графического изображения профиля деталей // 1837155

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к средствам контроля , обмера и графического отображения профилей оболочек и деталей цилиндричеой формы

Способ измерения шероховатости электропроводной поверхности // 1818526

Способ определения шероховатости поверхности // 1816963

Изобретение относится к измерительной технике

Емкостный датчик шероховатости // 1803723

Устройство для определения шероховатости // 1797686

Изобретение относится к деревообрабатывающей промышленности и может использоваться для определения шероховатости

Датчик движения для обрабатывающего устройства // 2102699

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Способ определения плоскостности движущейся полосы материала // 2119643

Способ измерения шероховатости поверхности // 2133943

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Способ определения шероховатости поверхности детали при обработке на металлорежущем станке // 2163182

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Внутритрубный многоканальный профилемер // 2164661

Способ калибровки пьезосканера атомно-силового микроскопа // 2179704

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с инвертированным оптическим микроскопом // 2180726

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Способ определения микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента // 2187070

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Способ измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с использованием сканирующего зондового микроскопа // 2193769

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Пьезоэлектрический акселерометр // 2196997

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем