Атомно-абсорбционный спектрофотометр

 

Атомно-абсорбционный спектрофотометр, содержащий источник излучения и последовательно расположенные по ходу излучения оптическую систему с электротермическим атомизатором, монохроматор с входной и выходной щелями и линейный позиционный чувствительный приемник излучения, отличающийся тем, что линейный позиционно-чувствительный приемник излучения расположен вдоль высоты выходной щели монохроматора, причем плоскость фоточувствительных элементов приемника излучения оптически сопряжена с плоскостью атомизации, при этом каждому фоточувствительному элементу приемника излучения соответствует определенный участок в зоне атомизации.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптике и может быть применено в устройствах, предназначенных для измерений спектральных характеристик

Изобретение относится к акустооптике, а именно к устройствам для спектрального анализа сигналов в оптическом диапазоне длин волн

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано в спектральных измерениях, в частности при определении световой отдачи лампы

Изобретение относится к области сельского хозяйства, в частности к способам распознания уровня обеспеченности злаков азотным питанием, и может быть использовано для получения экспресс-информации о состоянии растений, оценки степени созревания с целью принятия решений о проведении дополнительных подкормок или уточнения сроков уборки урожая

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх