Голографический способ определения макрорельефа поверхности объекта, включающий освещение когерентным излучением исследуемой поверхности объекта, помещенного в иммерсионную среду, последовательную регистрацию от i = 1 до i = K голограмм поверхности, где K > 2, изменяя перед каждой новой регистрацией показатель преломления иммерсионной среды на одинаковую величину, восстановление голограмм, регистрацию полученной интерфереционной контурной карты и определение по ней макрорельефа поверхности объекта, отличающийся тем, что одновременно с регистрацией каждой i-й голограммы дополнительно регистрируют еще одну j-ю голограмму, где j изменяется от j = 1 до j = K, при помощи одного из двух дополнительных опорных световых пучков когерентного излучения, пространственно разделенных между собой и пространственно отличающихся от опорного пучка, используемого для записи i - й голограммы, а восстановление всех 2K голограмм осуществляют линейно поляризованными пучками когерентного излучения, причем для восстановления дополнительно зарегистрированных голограмм используют пучки ортогонально поляризованные по отношению к пучку, применяемому для восстановления i-х голограмм и при восстановлении по крайней мере одной из К - 1 дополнительно зарегистрированных голограмм используют пучок когерентного излучения с регулируемым фазовым сдвигом.
Похожие патенты:
Изобретение относится к прикладной оптике, а точнее к оптической голографии, и предназначено для создания оптических дисплеев нового типа
Изобретение относится к интерференционным измерениям
Изобретение относится к медицинской технике и машиностроению
Изобретение относится к голографической технике, может быть использовано для получения контурных карт рельефа поверхности голографическим методом
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений методом голографической интерферометрии
Изобретение относится к области лазерной техники и может быть использовано в оптической локации для распознавания объектов любой геометрической формы, наблюдаемых через турбулентную атмосферу
Изобретение относится к области лазерной техники и может быть использовано, например в оптической локации для распознавания объектов любой геометрической формы, наблюдаемых через турбулентную атмосферу
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, преимущественно к голографическим интерференционным устройствам для контроля формы поверхно .стей оптических деталей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов
Изобретение относится к области оптических измерителей перемещений и может быть использовано для высокоточного бесконтактного интерференционно-голографического измерения перемещений объектов
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области бесконтактного оптического измерения формы поверхности оптических изделий, например, сферических и асферических зеркал или линз в условиях оптического производства и лабораторных исследований
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле и испытаниях оптических изделий и исследованиях оптических неоднородностей в прозрачных средах, в частности в газодинамических и баллистических экспериментах, в широком спектральном диапазоне от вакуумного ультрафиолета до дальнего инфракрасного
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения напряженно-деформированного состояния магистральных газопроводов
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение для бесконтактного определения рельефа поверхности, например, при контроле деталей на производстве, при исследовании различных физических и медико-биологических объектов
Изобретение относится к области определения механических свойств материалов путем приложения заданных нагрузок
Изобретение может быть использовано в качестве измерительной системы для неинвазивной экспресс-диагностики многокомпонентных биологических сред для определения вирусов, бактерий и других микроорганизмов. Микроскоп содержит источник излучения, фокусирующий объектив, диафрагму и кювету для размещения исследуемого объекта, расположенные вдоль оптической оси, матрицу фотоприемников, электронно-вычислительную систему, включающую блок обработки, программное обеспечение и ПК. Дополнительно до кюветы введен фильтр для сглаживания Гауссового распределения пучка излучения и получения равномерного освещения по сечению пучка. Кювета имеет прозрачное плоское входное окно. Выходное окно кюветы имеет форму полусферы с радиусом, равным расстоянию от входного до выходного окна кюветы. Матрица фотоприемников имеет форму полусферы, которая расположена параллельно выходному окну кюветы, повторяет его форму и жестко с ним связана. Технический результат - сохранение одинаковой светосилы по сечению кюветы и увеличение разрешения ЦГМ. 3 ил.
Изобретение относится к области для измерения концевых мер длины. Двусторонний интерферометр содержит два лазера со стабилизированной частотой излучения, кольцевой трехзеркальный интерферометр и две наложенные голограммы, одна из которых записана излучением одного лазера, другая - другого лазера. Наложенные голограммы освещаются двумя световыми пучками, которые, пройдя голограммы, формируют интерференционную картину в виде интерференционной полосы бесконечной ширины. На длине волны излучения каждого лазера выполняется три измерения разности фаз интерферирующих волн. Первое измерение, когда один из пучков, освещающих голограммы, отражается от одной измерительной поверхности концевой меры, установленной в кольцевом трехзеркальном интерферометре, второе измерение, когда данный световой пучок отражается от второй измерительной поверхности концевой меры. Третье измерение выполняется, когда данный световой пучок проходит кольцевой трехзеркальный интерферометр при отсутствии концевой меры в интерферометре. Технический результат - уменьшение габаритов интерферометра. 7 з.п. ф-лы, 9 ил.
