Способ определения ошибок одноразрядных

 

ОПИСАН И Е изоьеитиния

К АВТОРСКОМУ :ВИДЕТЕПЬСТВУ

2ИЗО9

Союз Советских

Социалистических

Республик

Еоеоо:,оэи - :.

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Кл. 42d, 2/05

Заявлено 13.Ю.1967 (№ 1148348/26-10) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет—

Опубликовано 19.11.1968. Бюллетень № 8

Дата опубликования описания 19.IV.1968

МПК G 01d

УДК 53.085.42(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

М. В. Проферансова-Ковалевская

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОШИБОК ОДНОРАЗРЯДНЫХ

И МНОГОРАЗРЯДНЫХ ШКАЛ, ПОСТРОЕННЫХ ПО ПРИНЦИПУ

ЧЕРЕДОВАНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ И НЕПРОЗРАЧНЫХ УЧАСТКОВ

Известные способы определения ошибок одноразрядных и многоразрядных шкал, построенных по принципу чередования прозрачных и непрозрачных участков, заключающиеся в сравнснии испытуемой шкалы с эталонной, цс обеспечивают универсальность контроля.

По предложенному способу положение границ участков испытуемых шкал сравнивают с положением границ участков одной эталонной дорожки путем совместного использования трех считывающих щелей, одну из которых располагают над проверяемой дорожкой испытуемой шкалы, а две другие — над эталонной, причем световые затворы периодически перекрывают эти две щели по программе, которую задают испытуемой шкалой.

При осуществлении описываемого способа в качестве эталона применяется только одна дорожка, состоящая из чередующихся прозрачных и непрозрачных участков с одинакоt вым интервалом, причем S — —, где $ — линейная или угловая величина прозрачного или непрозрачного участка эталонной шкалы;

1 †линейн или угловая величина прозрачного или непрозрачного участка испытуемой шкалы; n l, 2, 4, 8, ... 2 .

На фиг. 1 показано устройство для осуществления описываемого спосооа; на фиг. 2 и

3 — расположение щелей и распределение световых потоков при проверке разряда, для которого п 2 (фиг. 2) и n=4 (фиг. 3).

На перемещаемом столе 1 устанавливают

5 эталонную 2 и испытуемую 8 шкалы. Над эталонной дорожкой жестко крепят считывающую оптическую систему 4 со щелями а и в и затворами А и В. Над испытуемой шкалой на каретке суппорта 5 располагают оптиче10 скую считывающую систему б со щелями с, d и е.

Перед началом проверки шкалу 3 юстируют и ориентируют относительно шкалы 2. При перемещении стола 1 сигналы от щелей d и е, 15 полученные с фотоприемников 7 и 8, поступают в устройства 9 и 10 управления световыми затворами А и B. Затворы периодически перекрывают световые потоки от щелей а и в, осуществляя изменение суммарного эталонно20 го светового потока с требуемой частотой.

Эталонный световой поток от щелей а и в и световой поток от проверяемых границ, полученный со щели с, поступают на соответствующие фотоприемники 11 и 12 н возбуждают

25 на их выходе токи, пропорциональные этим потокам. Определение ошибок границ испытуемой шкалы осуществляют сравнением этих токов в устройстве 18 сравнения, регистрируя результат с помощью индикатора 14. Подсвет30 ка осуществляется осветительными системами

21I809

15 и 1б. При проверке многоразрядных шкал считывающую систему б перемещают для последовательной проверки разрядов перпендикулярно образующей шкалы.

При контроле разрядов, у которых n=2, 4, 8...2, частота изменения потока с эталонной дорожки должна быть равна частоте изменения потока с проверяемой дорожки. Поэтому необходимо, чтобы изменение потока, получаемого с эталонной дорожки, происходило по такому же закону, что и изменение потока с каждой из проверяемых дорожек. С этой целью для съема сигналов с эталонной дорожки, вместо одной введены две щели аи в (фиг.2).

Расстояние между осями щелей равно величине окна эталонной дорожки. Щели работают вместе или попеременно в зависимости от перекрывания потока, проходящего через них, от окон эталонной дорожки двумя световыми затворами по определенной программе.

Программа должна быть составлена так, чтобы в периоды, когда мимо щели С проходят прозрачные участки проверяемой дорожки, обе щели а и в должны быть открыты световыми затворами. В этот период щели работают так, что их суммарный поток (Fa+ Fs) по длительности и амплитуде равен потоку F, с проверяемой дорожки, а разница потоков

j(F,+F,) — F,) равна нулю. Разница потоков будет равна нулю до тех пор, пока границы участков проверяемойдорожки не будутиметь ошибок положения.

Открывание и закрывание щелей а и в производится световыми затворами в моменты, когда они находятся на серединах прозрачных участков эталонной дорожки. Это является наиболее благоприятным с точки зрения надежности работы устройства.

В качестве носителя программы для открывания и закрывания световых затворов используется сама испытуемая шкала. При этом световые затворы управляются сигналами, поступающими с каждой проверяемой дорожки, например от двух дополнительных щелей

d и е. Последние расположены симметрично относительно щели с. Угловое расстояние между ними равно величине окна эталонной дорожки и, следовательно, одна из щелей работает с опережением, а другая с отставанием

Способ определения ошибок одноразрядных и многоразрядных шкал, построенных по принципу чередования прозрачных и непрозрачных участков, заключающийся в сравнении испытуемой шкалы с эталонной. отличающийся тем, что, с целью универсальности контроля, упрощения и повышения точности изготовления эталонов, положение границ участков испытуемых шкал сравнивают с положением границ участков одной эталонной дорожки путем совместного использования трех считывающих щелей, одну из которых располагают над проверяемой дорожкой испытуемой шкалы, а две другие — над эталонной, причем световые затворы периодически перекрывают эти две щели по программе, которую задают испытуемой шкалой. относительно щели с на величину, равную половине ширины окна эталонной дорожки. При наличии сигнала на щели d или е, соответствующий световой затвор открыт и, таким об5 разом, открыта и соответствующая щельа или в. При отсутствии сигнала .на щели d или е, соответствующие световые затворы закрыты и, таким образом, закрыты щели а.или в. Следовательно, частота перекрывания светового потока

10 каждым затвором определяется разрядностью проверяемой дорожки, а относительный сдвиг по фазе пропорционален расстоянию между щелями d и е, т. е. величине окна эталонной шкалы.

15 При проверке разряда, у которого n=2, щель d управляет световым затвором щели в, а щель е — световым затвором щели d. При контроле последующих старших разрядов, для которых n=4, 8...2" (фиг. 3), при ука20 занной ориентировке эталонной шкалы относительно проверяемой щель d должна управлять световым затвором щели а, а щель е— световым затвором щели в. Щели практически достаточно узки, и поэтому фронты сигна25 лов можно считать прямоугольными. Как видно на фиг. 2 и 3 через щели а и в световой поток пройдет лишь в том случае, когда щель находится на прозрачном участке при откры. том световом затворе.

Предмет изобретения

211809 се г — g

à — -1! (Fa-F4 Fc Puz!

Фиг Z а В

n=-Z

ace

l (е г1

à — -1 моиг.з

Составитель Т. М. Сердобольская

Редактор Н. С. Коган Техред Л. К. Малова Корректоры: 3. И. Тарасова и С. А. Башлыкова

Заказ 894/4 Тираж 530 Подписное

Ц1!ИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д, 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Fg 1 ! 1 п =4nB п=г

; n=4

n=a

Способ определения ошибок одноразрядных Способ определения ошибок одноразрядных Способ определения ошибок одноразрядных 

 

Наверх