Способ контроля структуры слитка
212290
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Свнв Советовав
Социелистииеони
Ресдублив
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 27.Ч111.1966 (№ 1100018/22-2) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 29.11.1968. Бюллетень № 9
Дата опубликования описания бХ.19б8
Кл. 18Ь, 5/56
42k, 4б/04
МПК С 21с
G 01п
УДК 66.065.5(088.8) Комитет оо делан изобретений и атнрытий ори Совете Министров
СССР
Авторы изобретения В. М. Эдемский, С. Л. Степанянц, В. А. Смирнов и М. А. Филиппов
Заявители Всесоюзный научно-исследовательский институт электротермического оборудования и Днепропетровский филиал Института автоматики
СПОСОБ КОНТРОЛЯ СТРУКТУРЫ СЛИТКА
Известен способ контроля структуры слитка в процессе его кристаллизации.
Для определения микронеоднородности слитка предложено непрерывно измерять колебания электрического сопротивления кристаллизующегося слитка и по частоте колебаний определять частоту выпадения кристаллизующихся слоев.
Способ основывается на явлении изменения сопротивления металла при фазовом переходе и дискретном характере кристаллизации.
Выпадение кристаллизующего слоя происходит по достижении требуемого переохлаждения скачком с выделением тепла, на отсос которого требуется определенное время.
Расстояние между кристаллизующимися слоями прямо пропорционально градиенту температуры на фронте кристаллизации. Чем больше при заданной скорости роста градиент, тем выше частота колебаний сопротивления, тем тоньше слои роста.
Колебания сопротивления кристаллизующегося слитка можно контролировать, измеряя колебания рабочего тока, протекающего через слиток (или напряжения, если питание осуществляется от параметрического стабилизатора тока), например при элекгрошлаковом переплаве, а также, измеряя колебания измерительного тока (или напряжения при питании от параметрического измерительного стабилизатора тока), причем для этого требуется к слитку подвести питание от независимого источника, например при выращивании монокристаллов, в электроннолучевых плавильных ус5 тановках.
Контроль скорости роста слитка можно производить путем измерения скорости подачи электрода, например прп электрошлаковом переплаве, или скорости вытягивания слитка, 10 например при выращивании монокристаллов и непрерывной разливке.
Сопоставление скорости роста слитка и частоты колебаний сопротивления с целью определения расстояния между кристаллизующи15 мися слоями, т. е. с целью оценки мпкронеоднородности, заключается в делении измеренной скорости роста слитка на измеренную частоту колебаний сопротивления с учетом коэффициента пропорциональности, определяемого
20 расчетным путем или экспериментально.
Предмет изобретения
Способ контроля структуры слитка в процессе его кристаллизации, orлачающийся тем, 25 что, с целью определения микронеоднородности слитка непрерывно измеряют колебания электрического сопротивления кристаллизующегося слитка и по частоте колебаний определяют частоту выпадения кристаллиз юшихся
30 слоев.
