Устройство для отбраковки шариков с грубыми дефектами поверхности

 

О П И С А Н И Е 2I9220

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 23.ll.1967 (№ 1140308/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано ЗО.Ъ.1968. Бюллетень № 18

Дата опубликования описания 5.IX.1968

Кл. 42Ь, 26/01

МПК G Olb

УДК 621.822-791.8(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Авторы изобретения

А. Н. Кудрявцев, 3. Л. Тубеншляк и А. С. Тихомиров

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОТБРАКОВКИ ШАРИКОВ

С ГРУБЫМИ ДЕФЕКТАМИ ПОВЕРХНОСТИ

Предмет изобретения

Известно устройство для отбраковки шариков с грубыми дефектами поверхности, содержащее бункер, расположенные в бункере периодически поворачивающийся транспортный диск с отверстием B нем и сортировочный механизм.

Предлагаемое устройство отличается тем, что под транспортным диском соосно с ним расположен сортировочный диск, образующий по периферии клиновую щель с внутренней поверхностью неподвижной круговой линейки, причем направления вращения транспортного и сортировочного дисков противоположны. Это повышает точность сортировки.

На чертеже изображен продольный разрез предлагаемого устройства.

Оно содержит бункер 1, в котором расположены периодически вращающийся транспорт. ный диск 2 с отверстиями в нем. Под транспортным диском соосно с ним расположен сортировочный диск 8, образуюций по периферии клиновую щель с внутренней поверхностью неподвижной круговой линейки 4. Направление вращения транспортного и сортировочного дисков противоположны.

Шарики засыпают в бункер, откуда они попадают по одному в отверстия транспортного диска, опираясь на кромки сортировочного диска и линейки. Сортировочный диск постоянно вращается и вращает шарик в одной плоскости. При периодическом повороте транспортного диска в направлении, обратном вращению сортировочного диска, шарик получает периодически сложное вращательное движение, обусловливающее развертывание шаровой поверхности. При наличии грубых дефектов на шарике он проваливается через размерную щель в сборник 5 брака.

Устройство для отбраковки шариков с грубыми дефектами поверхности, содержащее бункер, расположенные в бункере периодически поворачивающийся транспортный диск с отверстиями в нем и кортировочный механизм, 20 оТ.1ича!Ои1ее тем, что, с целью повышения точности сортировки, под транспортным диском соосно с ним расположен сортировочный диск, образующий по периферии клиновую гцель с внутренней поверхностью неподвижной крутовой линейки, причем направления вращения транспортного и сортировочного дисков противоположны.

219220

Составитель Г. Корчагина

Техред T. П. Курилко Корректор А. П. Васильева

Редактор l0. Н. Клокотов

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ п598(4 Тираж 530 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д, 4

Устройство для отбраковки шариков с грубыми дефектами поверхности Устройство для отбраковки шариков с грубыми дефектами поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх