Способ измерения шероховатости поверхности

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки. Способ заключается в том, что между поверхностью детали, являющейся анодом, и катодом прикладывают высокое напряжение. Измеряют ширину частотного спектра переменной составляющей тока разрядов по уровню 0,2 ... 0,5 рабочего напряжения. Шероховатость поверхности определяют по формуле Ra= kf+Ro, где Ra - шероховатость поверхности, k - коэффициент пропорциональности, f - измеренная ширина спектра, Ro - эмпирический параметр. Величины k и Ro вычисляют по тарировочной кривой зависимости шероховатости от ширины спектра. Способ позволяет определять шероховатость поверхности детали непосредственно в процессе ее обработки. 1 ил., 1 табл.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности нержавеющих сталей в процессе электролитно-плазменной обработке.

Известен способ измерения шероховатости электропроводящей поверхности, заключающийся в том, что на ней размещают слой диэлектрика, преимущественно дистиллированную воду, налагают электрод емкостного датчика, который доводят до электрического контакта с контролируемой поверхностью, замораживают воду и измеряют величину электроемкости между электродом и контролируемой поверхностью [1].

Известен способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделие и измерительный электрод помещают в диэлектрическую жидкость, прикладывают высоковольтное напряжение и измеряют ток между ними, по величине которого определяют степень шероховатости [2].

Недостатком аналогов является невозможность использования данных способов для определения шероховатости поверхности в ходе электролитно-плазменной обработки в связи с необходимостью прерывания процесса.

Наиболее близким по технической сущности является способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий, заключающийся в том, что прикладывают высоковольтное напряжение постоянного тока между поверхностью изделия и измерительным электродом и измеряют ток разряда между ними, по величине которого определяют шероховатость. До приложения высоковольтного напряжения кратковременно подают низковольтный потенциал на поверхность изделия и воздействуют на нее аэрозолью, содержащей масло [3]. Благодаря локализации наэлектризованных капель масла около микровыступов увеличивается напряженность электрического поля в воздушном зазоре на этих участках, вследствие чего увеличивается плотность инициирующих электронов с концов микровыступов, что приводит к увеличению тока в разрядной цепи, а следовательно, и к повышению разрешающей способности и точности данного способа измерения шероховатости.

Недостатком прототипа является использование аэрозоли, содержащей масло, что недопустимо при проведении электролитно-плазменной обработки деталей.

Задачей, решаемой заявляемым изобретением, является упрощение процесса измерения шероховатости путем использования переменной составляющей тока, позволяющей определять шероховатость поверхности в ходе процесса обработки.

Поставленная задача решается таким образом, что в способе измерения шероховатости поверхности электропроводящих деталей в процессе электролитно-плазменной обработки прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом и измеряют ширину нормированного частотного спектра переменной составляющей тока разрядов по уровню среза, выбираемого из диапазона 0,2...0,5 в зависимости от рабочего напряжения. Определение шероховатости производят по формуле Rа=kf+Rо, где Rа - шероховатость поверхности, мкм; k - коэффициент пропорциональности, зависящий от материала детали, природы и концентрации электролита; f - измеренная ширина спектра при определенном уровне среза, Гц; Rо - эмпирический параметр.

Значения k и Rо вычисляют по тарировочной кривой зависимости шероховатости от ширины спектра.

На чертеже представлены частотные спектры переменной составляющей тока в различные моменты времени обработки: 1 - 0-20 с, 2 - 160-180 с, 3 - 340-360 с.

Пример конкретной реализации способа Образцы из стали ЭИ-961Ш с начальной шероховатостью 1,8 мкм помещались в ванну для электролитно-плазменной обработки. Процесс проводился в 5% растворе (NH4)2SO4 при напряжении 270 В и начальной температуре электролита 90oC. Переменная составляющая тока снималась с измерительного резистора. Частотные спектры, полученные в разные промежутки времени, представлены на чертеже.

В соответствии с формулой (1) была рассчитана шероховатость поверхности в различные моменты времени обработки. Шероховатость поверхности образцов измерялась также профилометром. Полученные данные приведены в таблице 1. Корреляция данных свидетельствует о применимости метода.

Коэффициенты k=2,410-3 Rо=-1,05 Таким образом, заявляемое изобретение позволяет осуществить измерение шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной обработки электропроводящих материалов. Предлагаемый способ имеет простое техническое исполнение, не требует прерывания процесса обработки и имеет высокую точность.

Источники информации 1. А.с. СССР N 1130735, МКИ3 G 01 B 7/34. Способ контроля шероховатости электропроводящей поверхности. Публ. 23.12.84.

2. А. с. СССР N 1474452, МКИ4 G 01 B 7/34. Способ контроля поверхности электропроводящих изделий и устройство для его осуществления. Публ. 23.04.89.

3. А.с. СССР N 1120159, МКИ3 G 01 B 7/34. Способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий. Публ. 23.10.84.


Формула изобретения

Способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих деталей в процессе электролитно-плазменной обработки, заключающийся в том, что прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом, отличающийся тем, что измеряют ширину нормированного частотного спектра переменной составляющей тока разрядов по уровню среза, выбираемого из диапазона 0,2 ... 0,5 в зависимости от рабочего напряжения и определяют шероховатость по формуле
Ra = k f + Ro,
где Rа - шероховатость поверхности, мкм;
k - коэффициент пропорциональности, зависящий от материала детали, природы и концентрации электролита;
f - измеренная ширина спектра при определенном уровне среза, Гц;
Rо - эмпирический параметр,
при этом значения k и Rо вычисляют по тарировочной кривой зависимости шероховатости от ширина спектра.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах сертификации изделий вычислительной техники, например в устройствах контроля биений жестких магнитных дисков и их основ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля размеров протяжных цилиндрических изделий

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля поверхности изделий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно - к способу регистрации рельефа поверхности исследуемого образца растровыми туннельными микроскопами

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к средствам контроля , обмера и графического отображения профилей оболочек и деталей цилиндричеой формы

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля состояния и класса обработки поверхности изделий

Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно - к устройствам, обеспечивающим получение информации о магнитном состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов с использованием жидкостных ячеек методом сканирующей зондовой микроскопии
Наверх